Come migliorare la produttività dei test sugli oscillatori a cristallo

Contatore di frequenza
+ Contatore di frequenza

Accelerare i test sulla frequenza dell'oscillatore

Per migliorare la produttività dei test sugli oscillatori a cristallo è necessario ridurre il tempo necessario per acquisire misurazioni accurate della frequenza, mantenendo al contempo la risoluzione richiesta per ciascuna unità sottoposta a test. Un contatore di frequenza universale può ridurre i tempi di misurazione utilizzando il tempo di gate più breve che garantisca comunque il numero di cifre necessario, applicando impostazioni appropriate di trigger e di livellamento automatico e riducendo al minimo il sovraccarico del pannello frontale e del trasferimento dei dati durante le misurazioni ripetute.

La configurazione di prova convoglia le uscite degli oscillatori agli ingressi dei contatori e sequenzia le misurazioni di frequenza su uno o più dispositivi. Il funzionamento a doppio canale dei contatori consente di eseguire in parallelo due misurazioni degli oscillatori da un unico strumento, migliorando l'utilizzo della stazione di prova senza dover aggiungere contatori separati. La visualizzazione di istogrammi e grafici di tendenza aiuta gli ingegneri a monitorare la distribuzione e la stabilità della frequenza durante la configurazione, mentre il trasferimento più veloce sui bus e le impostazioni di acquisizione ottimizzate supportano le stazioni di prova automatizzate per la produzione o la caratterizzazione.

Soluzione per la produttività nei test degli oscillatori

Migliorare la produttività dei test sugli oscillatori a cristallo ottimizzando le impostazioni di acquisizione del contatore e misurando in parallelo le uscite di più oscillatori. La soluzione utilizza un contatore/timer di frequenza universale Keysight per eseguire misurazioni di frequenza ad alta risoluzione con due canali di ingresso, statistiche integrate, istogrammi, grafici di tendenza e funzionalità di trasferimento automatico dei dati. Gli ingegneri possono ridurre i tempi di test selezionando il tempo di gate utilizzabile più breve, configurando le impostazioni appropriate di livellamento automatico e di visualizzazione e trasferendo i risultati in modo efficiente al sistema di test. Ciò consente di velocizzare i test di produzione degli oscillatori, il controllo in entrata e la caratterizzazione, dove sia la velocità di misura che la risoluzione di frequenza incidono sulla capacità della stazione.

Vedi lo schema a blocchi della soluzione per la produttività dei test degli oscillatori

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