Comment améliorer le débit des tests des oscillateurs à quartz

Compteur de fréquence
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Accélérer les tests de fréquence des oscillateurs

Pour améliorer le débit des tests des oscillateurs à quartz, il faut réduire le temps nécessaire à la collecte de mesures de fréquence précises, tout en conservant la résolution requise pour chaque unité testée. Un compteur de fréquence universel peut réduire la durée des mesures en utilisant le temps de porte le plus court permettant d'obtenir le nombre de chiffres requis, en appliquant des réglages de déclenchement et de niveau automatique adaptés, et en minimisant les pertes liées au panneau avant et au transfert de données lors de mesures répétées.

Le banc d'essai achemine les sorties des oscillateurs vers les entrées du compteur et séquence les mesures de fréquence sur un ou plusieurs appareils. Le fonctionnement en double canal du compteur permet d'effectuer deux mesures d'oscillateur en parallèle à partir d'un seul instrument, ce qui optimise l'utilisation du banc d'essai sans nécessiter l'ajout de compteurs supplémentaires. Les affichages sous forme d'histogrammes et de graphiques de tendance aident les ingénieurs à surveiller la distribution et la stabilité de la fréquence pendant la configuration, tandis que la vitesse accrue des transferts sur le bus et les paramètres d'acquisition optimisés facilitent l'automatisation des bancs d'essai de production ou de caractérisation.

Solution pour le débit de test des oscillateurs

Améliorez le débit des tests d’oscillateurs à cristal en optimisant les paramètres d’acquisition du compteur et en mesurant plusieurs sorties d’oscillateurs en parallèle. Cette solution utilise un compteur/chronomètre de fréquence universel Keysight pour effectuer des mesures de fréquence haute résolution grâce à deux canaux d’entrée, des statistiques intégrées, des histogrammes, des graphiques de tendance et une fonctionnalité de transfert automatisé des données. Les ingénieurs peuvent réduire la durée des tests en sélectionnant le temps de porte utilisable le plus court, en configurant les paramètres appropriés de niveau automatique et d’affichage, et en transférant efficacement les résultats vers le système de test. Cela permet d’accélérer les tests de production, le contrôle à la réception et la caractérisation des oscillateurs, où la vitesse de mesure et la résolution en fréquence influent toutes deux sur la capacité des postes de test.

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