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Comprueba la resistencia de tu dispositivo ante ataques mediante señales de reloj modificadas. El «clock glitching» es una técnica en la que la señal de reloj suministrada a un dispositivo objetivo se modifica temporalmente para que adopte ciclos de reloj diferentes, lo que provoca que el comportamiento del dispositivo se desvíe de su comportamiento normal. Esta desviación puede dar lugar a vulnerabilidades y a que se produzcan exploits.

El generador de interferencias de reloj DS1150A funciona suministrando tanto la señal de reloj normal como la señal de reloj modificada al dispositivo de prueba, lo que le permite comprobar si sus dispositivos son resistentes a los atacantes que utilizan señales de reloj modificadas para comprometer su seguridad.

• Incluye dos generadores de reloj internos que se pueden configurar de forma independiente
• Alternar entre el reloj normal y el reloj con glitch en función de una señal de activación
• Señal de reloj entre 1 kHz y 300 MHz; nivel de tensión entre -1 V y +4 V
• El reloj Glitch cuenta con tres modos de funcionamiento: salida digital configurable, salida digital aleatoria y salida analógica aleatoria
• El front-end analógico flexible permite una fácil integración con diversos tipos de dispositivos
• La señal de referencia mide la señal de reloj generada
• Incluye una piñata con la señal del reloj a la vista

La sonda de corriente activa es una sonda de alta frecuencia que capta de forma activa las corrientes eléctricas. Utilizada en el análisis de canal lateral para medir el consumo energético de un dispositivo objetivo, la DS1202A, de gran sensibilidad, se inserta en la línea de alimentación de dicho dispositivo y puede transmitir variaciones de corriente de hasta 2 GHz. La sonda de corriente activa se utiliza junto con una unidad base, que sirve para amplificar la señal medida.

• Ancho de banda: 1 MHz–2 000 MHz
• Corriente continua máxima: 100 mA (RMS) CA
• Corriente de pulso máxima: 5 A
• Circuito de medición de corriente ≤ 0,082 Ω, ≤ 0,042 µH
• 40 dB de ganancia con la unidad base al máximo

La sonda electromagnética de alta precisión, una sonda altamente sensible utilizada en el análisis de canales laterales, capta las emisiones electromagnéticas de los circuitos semiconductores. La sonda cuenta con un mecanismo que permite intercambiar tres puntas de diferentes tamaños: 0,2 mm, 0,5 mm y 1,25 mm. Todas las puntas tienen una bobina dirigida y una cubierta protectora de teflón. Normalmente se utiliza en combinación con una plataforma de movimiento XYZ, la sonda puede captar campos electromagnéticos con frecuencias de hasta 6 GHz, convirtiéndolos en una señal de CA.

Al desplazarse por la superficie de un objetivo, el DS1203B puede detectar circuitos de alta actividad, o puntos calientes. Las señales captadas en un punto caliente constituyen las mediciones necesarias para un análisis electromagnético simple o diferencial. La sonda electromagnética de alta precisión cuenta con un mecanismo de ganancia variable, que se puede ajustar manualmente o mediante un dispositivo externo y que puede variar en función de las características del objetivo.

Ahora incluye una unidad amplificadora nueva y mejorada 

El amplificador de picos de 1,5 A está diseñado para que sus pruebas de inyección de fallos sean aplicables a una amplia gama de sistemas embebidos. Conecte fácilmente el amplificador de picos de 1,5 A al DS1180A y al DS1070A/71A para generar picos nítidos y precisos en el sistema objetivo, y a un osciloscopio para medir y visualizar los picos generados.

Diseñado para controlar el pin de entrada de un procesador integrado, el amplificador de picos de 1,5 A tiene una impedancia de salida prácticamente de 0 Ω. El DS1140B puede funcionar con una sola fuente de alimentación entre 0 y 4 voltios (V). Este voltaje se configura en Inspector y se controla a través del DS1180A y el DS1070A/71A.

El amplificador de picos de 1,5 A tiene un factor de amplificación de dos. Por ejemplo, al establecer un nivel de tensión continua de 2 V y una tensión máxima de glitch de 3 V, los niveles de tensión entre el DS1180A y el DS1070A/71A y el amplificador de glitch de 1,5 A son de 1 y 1,5 V, respectivamente. En consecuencia, los niveles de tensión entre el DS1140B y un procesador integrado son de 2 y 3 V, respectivamente.

• Unidad amplificadora nueva y mejorada
• Mayor tasa de éxito de los fallos debido a fallos más pronunciados.
• Monitor integrado de corriente y potencia
• Amplifica las perturbaciones generadas por los modelos DS1180A y DS1070A/71A hasta 1,5 A de pico a pico
• Permite provocar fallos en dispositivos integrados como FPGA y SOC.
• Fácil conexión a tu dispositivo de destino a través de uno de los tres conectores de salida que ofrece el Glitch Amplifier
• Fácil de colocar cerca de su objetivo 
• Incluye aguja amplificadora Glitch.
• Posicionador 3D opcional (para Glitch Amplifier Needle)
• Se puede utilizar en combinación con la placa base de la estación de sonda EM. El amplificador Glitch II se ajusta perfectamente a la rejilla de la placa base.

Las contramedidas contra la inyección de fallos son cada vez más sofisticadas. Para eludir algunas de estas contramedidas, un evaluador de seguridad debe ser capaz de generar múltiples pulsos láser en diferentes ubicaciones. El DS1102A permite generar dos puntos láser con ubicación y sincronización independientes.

• Trabajar con diferentes fuentes láser
• Acelerar el proceso de evaluación
• Realizar ataques multipulso con un láser DPSS
• Controla el barrido automático con Inspector y el posicionamiento motorizado de ambos puntos láser
• Consigue una alta precisión posicional y resolución
• Aprovecha el amplio campo de visión para crear una distancia relativamente grande en el chip entre dos puntos láser

El DS1031A Hardware Crypto Training Target es una placa de desarrollo basada en un núcleo ARM Cortex-M4F que funciona a una velocidad de reloj de 168 MHz. Se ha modificado físicamente y programado para que actúe como objetivo de entrenamiento para ataques de análisis de canal lateral (SCA) e inyección de fallos (FI). El código fuente y el entorno de desarrollo integrado (IDE) que se proporcionan con el objetivo permiten que también se utilice para el desarrollo y la creación de prototipos.

• Objetivo de entrenamiento desafiante tanto para ataques SCA pasivos, como el análisis diferencial de potencia (DPA), como para ataques FI activos, como el análisis diferencial de fallos (DFA).
• Modela con precisión los dispositivos integrados actuales de 32 bits; el cifrado de hardware se implementa de forma similar a los dispositivos actuales. 
• Comportamiento estable; resistente a daños permanentes accidentales causados por interferencias electromagnéticas.
• Contramedidas configurables

El láser de inyección de fallos multimodo DS1110A de 445 nm utiliza diodos láser multimodo con una alta potencia nominal, lo que permite un escaneo superficial aproximado del chip con un tamaño de punto grande y una intensidad suficiente dentro del punto.

• Láser azul con longitud de onda de 445 nm
• Potencia del pulso láser: 3 W
• Longitud de pulso configurable tan pequeña como 2 ns
• La alta frecuencia de impulsos permite ataques de inyección de fallos multipulso.
• El breve retraso entre el pulso de activación y el pulso de luz real, en combinación con una fluctuación mínima, permite una sincronización precisa del pulso láser.
• Amplia gama de tamaños de punto: elija entre un escaneo superficial grueso o detallado de la viruta con objetivos y reductor de tamaño de punto.
• Diodo láser de larga duración con un envejecimiento mínimo.
• Se integra con los productos Keysight DS1101A, DS1102A, DS1160A y DS1180A.

El DS1104 se monta en la plataforma XYZ de precisión DS1010A. Funciona con fuentes láser Keysight, láseres de diodo Keysight, láseres DPSS y láseres de terceros cuando hay disponible una interfaz de cola de milano y la longitud de onda se encuentra dentro del rango compatible. 

• Se monta en la plataforma XYZ de precisión DS1010A.
• Ataques frontales y traseros 
• Compatible con fuentes láser de 700 nm a 1100 nm, incluido el infrarrojo cercano (NIR).
• Cámara NIR, objetivo 5X y reductor de tamaño de punto incluidos.

La aguja amplificadora de fallos le permite provocar fallos directamente en los pines de soldadura de un chip, sin tener que cortar la línea de alimentación. El posicionador 3D opcional se puede utilizar para montar la aguja y colocarla sobre el objetivo.

El DS1322A es accionado por el amplificador de fallos y puede insertar fallos de alta velocidad en objetivos integrados sin tener que utilizar el amplificador de fallos como fuente de alimentación para el objetivo. Al conectar la salida SMB del amplificador de fallos a la aguja del amplificador de fallos, se pueden inyectar fallos colocando la aguja en el pin VCC del objetivo y conectando el clip de tierra a la tierra del objetivo. La aguja del amplificador de glitches tiene una punta con resorte para facilitar su posicionamiento.

Las puntas de sonda de inyección de fallos de alta precisión pueden proporcionar un fallo local preciso mediante potentes pulsos electromagnéticos. Nuestra técnica de producción única da como resultado puntas de alta precisión con bobinas pequeñas, que producen una falla local que, con múltiples bobinados, sigue proporcionando suficiente potencia para realizar con éxito los intentos de inyección de fallos. Debido a nuestras bobinas más pequeñas, la profundidad de penetración de nuestras puntas de sonda de inyección de fallos de alta precisión es menor en comparación con las puntas de sonda más grandes, por lo que puede ser necesario preparar o descapsular el chip.

• Reduce el área de impacto de la falla inyectada, lo que facilita el análisis exacto de qué parte del chip es vulnerable.
• Aumenta la tasa de éxito de la inyección de fallos.
• Debido a la alta potencia de las puntas, no siempre es necesario descapsular un chip.

La inyección de polarización del cuerpo (BBI) es una técnica relativamente nueva en el ámbito de la inyección de fallos que ha sido adoptada por varios protocolos de pruebas de seguridad. Al ampliar la sonda de inyección de fallos unidireccional DS1120A o DS1120B con las agujas de la sonda de inyección de polarización del cuerpo DS1320A, podrá asegurarse de que sus chips sean resistentes a esta técnica. Una sonda BBI inyecta fallos en un punto muy pequeño, lo que le permite localizar las vulnerabilidades de seguridad en una ubicación más específica.

• Obtenga una cobertura completa de ataques BBI en un paquete específico: hacia adelante (FBBI), hacia atrás (RBBI) y amplio rango de voltaje para escenarios de ataque en todos los chips.
• Incluye dos sondas FBBI y dos sondas RBBI en alta y baja tensión.
• Evita arañazos en el sustrato con agujas accionadas por resorte.
• Penetra sustratos gruesos con una potencia máxima de 200 V.
• Conéctese fácilmente a la sonda de inyección de fallos unidireccional DS1120A o DS1120B mediante un conector SMA