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Generar un pulso de activación en el momento preciso es esencial en las pruebas de inyección de fallos (FI) y de análisis de canales laterales (SCA), pero la fluctuación del reloj y las interrupciones aleatorias del programa dificultan esta tarea, lo que da lugar a una sincronización inexacta.

El generador de impulsos de activación basado en patrones DS1002A resuelve este problema generando un impulso de activación tras detectar un patrón en la señal electromagnética de un chip. Un filtro pasabanda estrecho especial permite la detección de patrones incluso en señales con ruido.

El láser de inyección de fallos multimodo DS1112A de 1064 nm utiliza diodos láser multimodo de alta potencia, lo que permite un barrido aproximado de la superficie del chip con un tamaño de punto grande y una intensidad suficiente dentro del mismo.

• Láser NIR de longitud de onda de 1064 nm
• Potencia del pulso láser: 30 W
• Longitud de pulso configurable tan pequeña como 2 ns
• La alta frecuencia de impulsos permite ataques de inyección de fallos multipulso.
• El breve retraso entre el pulso de activación y el pulso de luz real, en combinación con una fluctuación mínima, permite una sincronización precisa del pulso láser.
• Amplia gama de tamaños de punto: elija entre un escaneo superficial grueso o detallado de la viruta con objetivos y reductor de tamaño de punto.
• Diodo láser de larga duración con un envejecimiento mínimo.
• Se integra con los productos Keysight DS1101A, DS1102A, DS1160A y DS1180A.

Para inyectar fallos en un dispositivo integrado mediante la alimentación eléctrica se requiere un equipo específico. Para que se transmita un glitch fiable al dispositivo objetivo, la fuente de alimentación debe suministrar suficiente potencia con un ruido mínimo, además de tener la potencia necesaria para generar picos de tensión pronunciados. También es necesario supervisar el consumo de energía para identificar las áreas de interés y observar el comportamiento del dispositivo objetivo. El amplificador de 30 A de Keysight combina estas funcionalidades en un único componente autónomo para objetivos que consumen hasta 10 A de corriente (pico a pico).

El modelo DS1141A ofrece las siguientes características:

• Práctico complemento para el generador de patrones de glitch de Keysight o el generador de glitches de tensión y reloj para tarjetas inteligentes, que amplifica los glitches de potencia para un procesador integrado
• Incluye un monitor interno de tensión y corriente
• Incluye dos fuentes de alimentación externas

El software Inspector de Keysight permite un control total de la configuración de la sonda EMFI, incluyendo el posicionamiento de la sonda, el movimiento de la plataforma XY y el funcionamiento de la cámara. La plataforma admite la ejecución automatizada de pruebas y la generación de informes optimizados para facilitar el análisis y la optimización de los resultados de las pruebas. La sonda bidireccional puede funcionar de forma independiente, dentro de configuraciones personalizadas, o integrarse en entornos de hardware y software existentes definidos por el usuario. 

Con paquetes de chips cada vez más complejos y sofisticados sensores sensibles a la luz para evitar fallos ópticos del láser, este nuevo vector de prueba para escenarios de inyección de fallos supera las medidas tradicionales y da un paso más en las pruebas de seguridad de alta gama. 

La sonda de inyección de fallos bidireccional de Keysight ofrece las siguientes características: 

• Incluye una unidad amplificadora nueva y mejorada 
• Elimina la necesidad de desempaquetar los chips 
• Admite pulsos electromagnéticos configurables de alta potencia con bobinas intercambiables para obtener diversos perfiles de campo 
• Permite ajustar con precisión las características de los pulsos cortos y rápidos mediante el software 
• Reduce el riesgo de daños permanentes en el dispositivo en comparación con los métodos basados en láser 
• Permite la inversión selectiva de bits dentro de los elementos lógicos 
• Compatible con las plataformas XYZ de precisión de Keysight y los sistemas láser multimodo para flujos de trabajo de barrido automatizados 
• Se suministra con bobinas transitorias EM-FI estándar y una sonda de ferrita en forma de media luna 

Detecta vulnerabilidades y mejora la seguridad de los circuitos electrónicos de los vehículos con la herramienta de pruebas de seguridad para automoción Keysight DS1170. Los desarrolladores pueden integrar fácilmente la herramienta en su banco de pruebas existente para ejecutar escenarios de ataque predefinidos y establecer una línea de base de seguridad, ya sea para una unidad de control electrónico (ECU) específica o para una combinación de ECU. El software que la acompaña agiliza el control de la herramienta de pruebas de seguridad para automoción y la interpretación de los resultados. Optimice su configuración de seguridad gracias a la posibilidad de controlar varias herramientas de pruebas de seguridad para automoción DS1170 desde un único panel de control y compartir información entre ellas.

La complejidad de los coches no deja de aumentar. Si bien el incremento del número de unidades electrónicas en los vehículos permite mejorar la experiencia del conductor, también aumenta el número de puntos vulnerables que un atacante puede aprovechar. Al incorporar el DS1170 a las pruebas de desarrollo de la seguridad de su vehículo, podrá reforzar las medidas de seguridad y adelantarse a las amenazas. La herramienta de pruebas de seguridad para el sector de la automoción de Keysight, independiente del protocolo, ofrece una solución integral para múltiples escenarios de pruebas de seguridad. Cuenta con las siguientes características:

• Conectores estándar para integrar fácilmente la herramienta en tu banco de pruebas actual
• Capacidad para grabar y reproducir mensajes de la red de área de control (CAN) con el fin de emular una ECU
• Funciones de fuzzing automatizadas para comprobar la robustez de cualquier ECU
• Funcionalidades de activación basadas en el tráfico para ampliar tus escenarios de prueba con análisis de canal lateral (SCA) e inyección de fallos (FI)
• Conforme a la norma ISO 21434
• Escaneo inteligente y activo de buses en la fase de detección para registrar el tráfico
• Acceso a todas las funciones de bajo nivel utilizadas en los escenarios de prueba predefinidos para ayudarte a crear tu propio escenario
• Capacidad para analizar el tráfico del bus en tiempo real y manipular mensajes
• Utiliza Python o la línea de comandos para crear scripts

El DS1210A es una fuente láser de onda continua con una potencia de salida muy precisa. Se utiliza para realizar mediciones de canal lateral basadas en metodologías de análisis de fallos aplicadas al análisis de canal lateral.

• Láser de onda continua de 1310 nm
• Modo único
• 500 MW
• Diodo láser de larga duración para un envejecimiento mínimo
• Elige entre un escaneo de la superficie de la pastilla, desde el más general hasta el más detallado, con un rango de tamaño de punto de 100:1
• Se utiliza con el sistema láser de inyección de fallos DS1101A y el sistema láser dual de inyección de fallos DS1102A
• Controla la potencia óptica con el generador de glitches de tensión y reloj para tarjetas inteligentes DS1160A o con el generador de patrones de glitches DS1180A

La protección de los chips frente a los ataques de fallo por láser es uno de los principales retos de seguridad en el sector de las tarjetas inteligentes. Con el sistema láser de inyección de fallos DS1101A, se pueden llevar a cabo ataques avanzados de fallo por láser que cumplen con los más altos estándares internacionales para evaluar si una tarjeta inteligente está protegida contra los ataques de láser. El DS1101A ofrece un conjunto de nuevas funciones que satisfacen los últimos requisitos de sincronización y potencia exigidos por los expertos en inyección de fallos de todo el mundo. El conjunto especial de láseres, con óptica específica y un control ultrarrápido y flexible, constituye la solución definitiva para las pruebas de inyección de fallos. Su integración con el software Inspector garantiza además que la automatización y el análisis estén cubiertos por módulos ampliables, flexibles y fáciles de usar.

• Admite ataques por delante y por detrás
• Integración con el software de Inspector y los módulos de análisis de fallos
• Cámara con función de zoom para facilitar la navegación y eje Z automatizado
• Glitching rápido en múltiples intervalos de tiempo y escalado digital preciso con una respuesta rápida y predecible al pulso de activación
• Hay disponibles actualizaciones de navegación multipunto y por infrarrojos
• Escaneo automático de la superficie de un chip con una plataforma XYZ motorizada integrada
• Inspección mediante cámara del punto láser y su ubicación en el área del chip
• Alta precisión de repetición en los ejes motorizados
• SDK disponible para su integración en configuraciones personalizadas

La sonda de inyección de fallos bidireccional DS1121A de Keysight induce pulsos electromagnéticos (EM) de alta potencia en una ubicación del chip definida por el usuario. El pulso rápido y predecible cumple con las exigencias de los laboratorios de pruebas y fabricantes internacionales.

Los evaluadores pueden controlar el conjunto de sondas, la mesa XY y la cámara con el software de inyección de fallos EM de Keysight, que también permite automatizar los escenarios de prueba y generar informes fácilmente para su posterior análisis y perfeccionamiento. Utilice la sonda de inyección de fallos bidireccional en entornos independientes o personalizados, o intégrela con su propio hardware y software.

Con paquetes de chips cada vez más complejos y sofisticados sensores sensibles a la luz para evitar fallos ópticos del láser, este nuevo vector de prueba para escenarios de inyección de fallos supera las medidas tradicionales y da un paso más en las pruebas de seguridad de alta gama.

La sonda de inyección de fallos bidireccional de Keysight ofrece las siguientes características:

• No requiere desempaquetado del chip.
• Las mallas de sensores de luz no detectan fallos electromagnéticos.
• Inverte el valor de las celdas lógicas en el dispositivo de destino.
• Ofrece menos probabilidades de daños permanentes en el chip en comparación con el glitching láser.
• Permite pulsos ajustables de alta potencia e incluye diferentes bobinas para generar diferentes campos electromagnéticos sobre un chip.
• Permite configurar pulsos rápidos y cortos con software.
• Proporciona una respuesta rápida y predecible al disparador.
• Se adapta a la plataforma XYZ de precisión de Keysight y al láser de inyección de fallos multimodo para el escaneo automatizado.
• Incluye bobinas transitorias EM-FI estándar y una sonda de ferrita en forma de media luna.

Con paquetes de chips cada vez más complejos y sofisticados sensores sensibles a la luz empleados para prevenir fallos ópticos del láser, Keysight presenta un nuevo y potente vector de prueba para escenarios de inyección de fallos (FI) en chips modernos. La sonda de inyección de fallos unidireccional induce pulsos electromagnéticos rápidos y de alta potencia en una ubicación definida por el usuario de un chip. Las pruebas FI unidireccionales le permiten eludir las contramedidas tradicionales y proporcionan el siguiente paso en las pruebas de seguridad de alta gama.

El sencillo proceso de configuración y prueba del DS1120A ahorra tiempo y proporciona un pulso rápido y predecible que cumple con los requisitos internacionales de los laboratorios de pruebas y los fabricantes. El conjunto de sondas, la mesa XY y la cámara ofrecen una configuración completa que los probadores pueden controlar y parametrizar de forma flexible a través del software Inspector FI. El software permite automatizar las pruebas y generar informes fácilmente para realizar análisis y ajustes adicionales. La sonda de inyección de fallos unidireccional se puede utilizar de forma independiente o en entornos personalizados, así como integrarse con su propio hardware y software. 

• No requiere desempaquetar el chip.
• Fallos electromagnéticos no detectados por las redes de sensores de luz.
• Inverte el valor de las celdas lógicas en el dispositivo de destino.
• Menor probabilidad de daño permanente en el chip en comparación con el glitching láser.
• Pulsos ajustables y de alta potencia
• Se incluyen diferentes bobinas para generar diferentes campos electromagnéticos sobre un chip.
• Pulsos rápidos y cortos configurables desde el software.
• Respuesta rápida y predecible al disparador
• Se adapta a la plataforma XYZ de alta precisión de la sonda electromagnética de alta precisión para el escaneo automatizado.

Se monta en la plataforma XYZ de precisión de la sonda electromagnética de alta precisión con:

• 1 sonda ferrita en forma de media luna
• Puntas de sonda de inyección de fallos de alta precisión

Las contramedidas contra la inyección de fallos son cada vez más sofisticadas. Para eludir algunas de estas contramedidas, un evaluador de seguridad debe ser capaz de generar múltiples pulsos láser en diferentes ubicaciones. El DS1102A permite generar dos puntos láser con ubicación y sincronización independientes.

• Trabajar con diferentes fuentes láser
• Acelerar el proceso de evaluación
• Realizar ataques multipulso con un láser DPSS
• Controla el barrido automático con Inspector y el posicionamiento motorizado de ambos puntos láser
• Consigue una alta precisión posicional y resolución
• Aprovecha el amplio campo de visión para crear una distancia relativamente grande en el chip entre dos puntos láser

El láser de inyección de fallos de estado sólido bombeado por diodo DS1114A de 1064 nm complementa a los láseres de diodo y ofrece mejores características de inyección de fallos en comparación con los sistemas de corte por láser.

• Láser NIR con longitud de onda de 1064 nm
• Tiempo de disparo corto
• Fácil control de la potencia de salida
• Duración corta del pulso (5 kW)
• Evita la degradación, proporcionando el mismo rendimiento a lo largo del tiempo.

La sonda electromagnética de alta precisión, una sonda altamente sensible utilizada en el análisis de canales laterales, capta las emisiones electromagnéticas de los circuitos semiconductores. La sonda cuenta con un mecanismo que permite intercambiar tres puntas de diferentes tamaños: 0,2 mm, 0,5 mm y 1,25 mm. Todas las puntas tienen una bobina dirigida y una cubierta protectora de teflón. Normalmente se utiliza en combinación con una plataforma de movimiento XYZ, la sonda puede captar campos electromagnéticos con frecuencias de hasta 6 GHz, convirtiéndolos en una señal de CA.

Al desplazarse sobre la superficie de un objetivo, el DS1203A puede encontrar circuitos muy activos o puntos calientes. Las señales captadas en un punto caliente comprenden las mediciones para el análisis electromagnético simple o diferencial. La sonda electromagnética de alta precisión tiene un mecanismo de ganancia variable, que se puede ajustar manualmente o mediante un dispositivo externo como el Spider, y que puede variar en función de las características del objetivo.