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Generar un pulso de activación en el momento preciso es esencial en las pruebas de inyección de fallos (FI) y de análisis de canales laterales (SCA), pero la fluctuación del reloj y las interrupciones aleatorias del programa dificultan esta tarea, lo que da lugar a una sincronización inexacta.

El generador de impulsos de activación basado en patrones DS1002A resuelve este problema generando un impulso de activación tras detectar un patrón en la señal electromagnética de un chip. Un filtro pasabanda estrecho especial permite la detección de patrones incluso en señales con ruido.

El DS1210A es una fuente láser de onda continua con una potencia de salida muy precisa. Se utiliza para realizar mediciones de canal lateral basadas en metodologías de análisis de fallos aplicadas al análisis de canal lateral.

• Láser de onda continua de 1310 nm
• Modo único
• 500 MW
• Diodo láser de larga duración para un envejecimiento mínimo
• Elige entre un escaneo de la superficie de la pastilla, desde el más general hasta el más detallado, con un rango de tamaño de punto de 100:1
• Se utiliza con el sistema láser de inyección de fallos DS1101A y el sistema láser dual de inyección de fallos DS1102A
• Controla la potencia óptica con el generador de glitches de tensión y reloj para tarjetas inteligentes DS1160A o con el generador de patrones de glitches DS1180A

Para inyectar fallos en un dispositivo integrado mediante la alimentación eléctrica se requiere un equipo específico. Para que se transmita un glitch fiable al dispositivo objetivo, la fuente de alimentación debe suministrar suficiente potencia con un ruido mínimo, además de tener la potencia necesaria para generar picos de tensión pronunciados. También es necesario supervisar el consumo de energía para identificar las áreas de interés y observar el comportamiento del dispositivo objetivo. El amplificador de 30 A de Keysight combina estas funcionalidades en un único componente autónomo para objetivos que consumen hasta 10 A de corriente (pico a pico).

El modelo DS1141A ofrece las siguientes características:

• Práctico complemento para el generador de patrones de glitch de Keysight o el generador de glitches de tensión y reloj para tarjetas inteligentes, que amplifica los glitches de potencia para un procesador integrado
• Incluye un monitor interno de tensión y corriente
• Incluye dos fuentes de alimentación externas

La sonda electromagnética de alta precisión, una sonda altamente sensible utilizada en el análisis de canales laterales, capta las emisiones electromagnéticas de los circuitos semiconductores. La sonda cuenta con un mecanismo que permite intercambiar tres puntas de diferentes tamaños: 0,2 mm, 0,5 mm y 1,25 mm. Todas las puntas tienen una bobina dirigida y una cubierta protectora de teflón. Normalmente se utiliza en combinación con una plataforma de movimiento XYZ, la sonda puede captar campos electromagnéticos con frecuencias de hasta 6 GHz, convirtiéndolos en una señal de CA.

Al desplazarse sobre la superficie de un objetivo, el DS1203A puede encontrar circuitos muy activos o puntos calientes. Las señales captadas en un punto caliente comprenden las mediciones para el análisis electromagnético simple o diferencial. La sonda electromagnética de alta precisión tiene un mecanismo de ganancia variable, que se puede ajustar manualmente o mediante un dispositivo externo como el Spider, y que puede variar en función de las características del objetivo.

El amplificador de fallos de 1,5 A está diseñado para que sus pruebas de inyección de fallos sean aplicables a una amplia gama de objetivos integrados. Conecte fácilmente el amplificador de fallos de 1,5 A al Spider o al VC Glitcher para producir fallos precisos y nítidos en el objetivo, y a un osciloscopio para medir y ver los fallos que genera.

Diseñado para controlar el pin de entrada de un procesador integrado, el amplificador de glitch de 1,5 A tiene una impedancia de salida prácticamente nula (0 Ω). El DS1140A puede funcionar con una única fuente de alimentación entre 0 y 4 voltios (V). Este voltaje se configura en Inspector y se controla a través del Spider o el VC Glitcher.

El amplificador de glitch de 1,5 A tiene un factor de amplificación de dos. Por ejemplo, al establecer un nivel de tensión continua de 2 V y una tensión máxima de glitch de 3 V, los niveles de tensión entre el Spider o VC Glitcher y el amplificador de glitch de 1,5 A son 1 y 1,5 V, respectivamente. En consecuencia, los niveles de tensión entre el DS1140A y un procesador integrado son 2 y 3 V, respectivamente.

• Mayor tasa de éxito de los fallos debido a fallos más pronunciados.
• Monitor integrado de corriente y potencia
• Amplifica los glitches producidos por Spider o VC Glitcher hasta 1,5 A pico a pico.
• Permite provocar fallos en dispositivos integrados como FPGA y SOC.
• Conexión sencilla a tu objetivo a través de uno de los tres conectores de salida que ofrece Glitch Amplifier II.
• Fácil de colocar cerca de su objetivo
• Incluye aguja amplificadora Glitch.
• Posicionador 3D opcional (para Glitch Amplifier Needle)
• Se puede utilizar en combinación con la placa base de la estación de sonda EM. El amplificador Glitch II se ajusta perfectamente a la rejilla de la placa base.

La sonda de corriente activa es una sonda de alta frecuencia que capta de forma activa las corrientes eléctricas. Utilizada en el análisis de canal lateral para medir el consumo energético de un dispositivo objetivo, la DS1202A, de gran sensibilidad, se inserta en la línea de alimentación de dicho dispositivo y puede transmitir variaciones de corriente de hasta 2 GHz. La sonda de corriente activa se utiliza junto con una unidad base, que sirve para amplificar la señal medida.

• Ancho de banda: 1 MHz–2 000 MHz
• Corriente continua máxima: 100 mA (RMS) CA
• Corriente de pulso máxima: 5 A
• Circuito de medición de corriente ≤ 0,082 Ω, ≤ 0,042 µH
• 40 dB de ganancia con la unidad base al máximo

La aguja amplificadora de fallos le permite provocar fallos directamente en los pines de soldadura de un chip, sin tener que cortar la línea de alimentación. El posicionador 3D opcional se puede utilizar para montar la aguja y colocarla sobre el objetivo.

El DS1322A es accionado por el amplificador de fallos y puede insertar fallos de alta velocidad en objetivos integrados sin tener que utilizar el amplificador de fallos como fuente de alimentación para el objetivo. Al conectar la salida SMB del amplificador de fallos a la aguja del amplificador de fallos, se pueden inyectar fallos colocando la aguja en el pin VCC del objetivo y conectando el clip de tierra a la tierra del objetivo. La aguja del amplificador de glitches tiene una punta con resorte para facilitar su posicionamiento.

Las puntas de sonda de inyección de fallos de alta precisión pueden proporcionar un fallo local preciso mediante potentes pulsos electromagnéticos. Nuestra técnica de producción única da como resultado puntas de alta precisión con bobinas pequeñas, que producen una falla local que, con múltiples bobinados, sigue proporcionando suficiente potencia para realizar con éxito los intentos de inyección de fallos. Debido a nuestras bobinas más pequeñas, la profundidad de penetración de nuestras puntas de sonda de inyección de fallos de alta precisión es menor en comparación con las puntas de sonda más grandes, por lo que puede ser necesario preparar o descapsular el chip.

• Reduce el área de impacto de la falla inyectada, lo que facilita el análisis exacto de qué parte del chip es vulnerable.
• Aumenta la tasa de éxito de la inyección de fallos.
• Debido a la alta potencia de las puntas, no siempre es necesario descapsular un chip.

La inyección de polarización del cuerpo (BBI) es una técnica relativamente nueva en el ámbito de la inyección de fallos que ha sido adoptada por varios protocolos de pruebas de seguridad. Al ampliar la sonda de inyección de fallos unidireccional DS1120A o DS1120B con las agujas de la sonda de inyección de polarización del cuerpo DS1320A, podrá asegurarse de que sus chips sean resistentes a esta técnica. Una sonda BBI inyecta fallos en un punto muy pequeño, lo que le permite localizar las vulnerabilidades de seguridad en una ubicación más específica.

• Obtenga una cobertura completa de ataques BBI en un paquete específico: hacia adelante (FBBI), hacia atrás (RBBI) y amplio rango de voltaje para escenarios de ataque en todos los chips.
• Incluye dos sondas FBBI y dos sondas RBBI en alta y baja tensión.
• Evita arañazos en el sustrato con agujas accionadas por resorte.
• Penetra sustratos gruesos con una potencia máxima de 200 V.
• Conéctese fácilmente a la sonda de inyección de fallos unidireccional DS1120A o DS1120B mediante un conector SMA

La estación de trabajo de análisis DS1020A es una estación de trabajo de PC estándar para el paquete de software Inspector.

• Monitor de 27 pulgadas
• Disco duro de estado sólido (SSD) de 1 TB
• Windows 10
• 32 GB de RAM

El generador de patrones de fallos de Keysight ofrece un único punto de control para optimizar y acelerar las pruebas de inyección de fallos. Además, interactúa con objetivos embebidos complejos, lo que te permite ejecutar funciones, reinicios en caliente o en frío, generar fallos y controlar el flujo del programa.

Al generar ondas de glitch con cualquier pendiente, el generador de patrones de glitch de Keysight permite realizar pruebas muy específicas de los chipsets integrados. Las ondas de glitch más largas con una pendiente específica suelen poner a prueba la robustez de un chipset, pero el generador de patrones de glitch crea formas de glitch personalizadas que permiten ajustar la tensión de salida, la sincronización, la tasa de repetición y la frecuencia, así como la duración del pulso.

• Reduzca la complejidad de la configuración en las pruebas de análisis de canal lateral (SCA) y de inyección de fallos (FI) gracias a un único punto de control que incluye todas las líneas de entrada/salida (E/S) y de reinicio para interfaces personalizadas o integradas.
• Genera ondas de glitch arbitrarias con una resolución temporal de 4 ns.
• Leer y responder a las señales asociadas a protocolos como JTAG, I2C y SPI.
• Controla todo sin problemas, ya sea mediante el software Inspector o desde un dispositivo independiente.
• Enlaza fácilmente un canal de información con el estado de procesamiento interno del hardware de prueba en tus pruebas.
• Empieza rápidamente con los protocolos de ejemplo incluidos.