Detección precoz de problemas de acoplamiento de RF con la cosimulación EM/circuito
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Descubra cómo los diseños mixtos de microondas y ondas milimétricas integran ahora MMIC, RFIC, laminados y antenas en un factor de forma compacto.

Aprende:

  • Por qué se producen efectos secundarios EM que degradan el rendimiento de los circuitos 
  • Cómo los diseñadores de circuitos necesitan incluir de forma iterativa los efectos EM 3D del embalaje y las interconexiones durante la Exploreción, ajuste y optimización del diseño. 
  • Sistema Advanced (ADS) de Keysight con el paquete W3606B
Lecciones