如何校準 MultiGBASE-T1 雜訊注入

接收器測試解決方案
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建立已校驗的外來雜訊位準

在評估接收器拒斥能力之前,先校驗注入的外來雜訊,以確保裝置連接器處的頻譜密度符合規定的測試條件。工程師可建立接收器資料速率所需的雜訊頻寬與目標位準,透過耦合網路傳送雜訊,並在裝置介面測量產生的位準。校驗序列必須考量耦合路徑與測量系統的基準雜訊,以便將施加的干擾與儀器雜訊基底區分開來。

MultiGBASE-T1 接收器測試通常需要特別嚴苛的低位準雜訊條件,包括 10GBASE-T1 的 3500 MHz 頻寬以及 -152 dBm/Hz 的附加雜訊目標,同時針對較低資料速率提供對應的頻寬與雜訊目標。因此,校驗過程採用受控的測量條件、穩定的纜線,以及裝置連接器處的可重複參考點。建立雜訊分佈後,工程師可在外來串擾測試期間套用已校驗的激發訊號,並重複測量,以確保接收器行為的差異並非由注入的雜訊位準變動所引起。

接收器雜訊校正解決方案

使用受控的雜訊來源、耦合路徑與測量參考,在開始接收器拒斥測量之前,先建立裝置連接器的雜訊分佈。接收器測試解決方案搭配已校驗的干擾產生功能,以便在各個接收器測試中重複套用雜訊條件。工程師可驗證目標頻譜密度、確認測量系統基準與注入雜訊之間有足夠的區隔,並將校驗結果與測試組態一併保留。可重複的校驗序列有助於保持各次執行之間的外來雜訊拒斥測量具備相關性,並在變更 PHY 資料速率、頻寬、通道組態或接收器操作模式時,提供一致的分析支援。

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