Come eseguire il debug di microcontrollori e FPGA

Generatore di forme d'onda e funzioni Essential
+ Generatore di forme d'onda e funzioni Essential

Creare uno stimolo di debug arbitrario

Il debug di microcontrollori e array di porte programmabili sul campo (FPGA) richiede spesso qualcosa di più di semplici onde quadre fisse o semplici uscite di clock. La funzionalità di generazione di forme d'onda arbitrarie viene utilizzata per creare modelli di impulsi personalizzati, sfasamenti temporali, transizioni di tensione e segmenti di segnale ripetuti che rispecchiano il comportamento dell'interfaccia, l'attività delle linee di controllo o i casi limite anomali osservati durante lo sviluppo.

Un generatore di forme d'onda applica tali segnali personalizzati al dispositivo in prova, mentre un oscilloscopio o un analizzatore logico acquisisce la risposta risultante. Il funzionamento a doppio canale consente di allineare segnali correlati, confrontare le relazioni temporali o applicare modelli sincronizzati di trigger e stimoli durante il debug del comportamento dei circuiti digitali e a segnale misto.

Soluzione per il debug delle forme d'onda nei sistemi embedded

Il debug del comportamento dei microcontrollori e degli FPGA richiede una sorgente di stimolo controllabile in grado di riprodurre temporizzazioni non ideali, transizioni personalizzate, segmenti ripetuti e modelli di casi limite. I generatori di forme d’onda e di funzioni Essential Keysight Essential supportano questo flusso di lavoro generando forme d’onda arbitrarie che possono essere modificate, riprodotte e allineate per corrispondere alle condizioni del segnale oggetto di analisi. L’uscita sincronizzata a doppio canale è utile quando è necessario stimolare contemporaneamente due segnali correlati, mentre la funzionalità di generazione di forme d’onda arbitrarie semplifica il superamento dei modelli a funzione fissa durante il debug da banco. Ciò consente la validazione pratica del comportamento digitale, delle relazioni temporali, della risposta dell’interfaccia e della gestione dei segnali guidata dagli eventi in condizioni di test ripetibili.

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