Comment simuler des impulsions manquantes et déformées

Générateur de formes d'onde et de fonctions Essential
+ Générateur de formes d'onde et de fonctions Essential

Recréer les impulsions manquantes et déformées à des fins de débogage

Les impulsions manquantes ou déformées peuvent mettre en évidence des problèmes de synchronisation, de machine à états et de gestion des interfaces qui ne se manifestent pas nécessairement lorsqu'un dispositif est testé uniquement avec des signaux périodiques idéaux. La génération de formes d'onde arbitraires permet de créer des impulsions manquantes, des largeurs d'impulsion anormales, une dégradation des fronts et des irrégularités de synchronisation qui reproduisent ces conditions non idéales de manière contrôlée.

Un générateur de formes d'onde applique la séquence d'impulsions au dispositif testé, tandis qu'un oscilloscope, un analyseur logique ou tout autre instrument de mesure enregistre la réponse obtenue. Le mode bicanal permet d'aligner un signal de déclenchement, d'horloge ou de référence sur la séquence d'impulsions injectée, afin d'observer plus clairement les relations temporelles et le comportement de récupération.

Solution d'injection de défauts d'impulsions

La simulation d’impulsions manquantes ou déformées nécessite une source de stimulation contrôlable, capable de générer des trains d’impulsions réguliers, puis d’y insérer des impulsions omises, des variations de largeur, des déformations de front ou des perturbations de synchronisation à des points définis de la séquence. Les générateurs de formes d’onde et de fonctions de table « Essential » de Keysight prennent en charge ce flux de travail en produisant des formes d’onde d’impulsion, de fonction et arbitraires qui peuvent être modelées et reproduites pour un débogage en laboratoire reproductible. La sortie synchronisée à deux canaux, la capacité de génération de formes d’onde arbitraires et la bande passante de 20 MHz permettent de générer des conditions d’impulsion non idéales contrôlées. Il est ainsi plus facile d’observer la réponse du dispositif sous test (DUT), de comparer des exécutions répétées et d’isoler les comportements liés à la synchronisation dans le cadre de modèles de stimulation bien définis.

Voir le schéma fonctionnel de la solution d'injection de défauts par impulsions

Schéma fonctionnel de la solution d'injection de défauts par impulsions

Découvrez les produits de notre solution d'injection de défauts par impulsions

Cas d'utilisation connexes

contactez-nous logo

Contactez l'un de nos experts

Besoin d'aide pour trouver la solution qui vous convient ?