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La génération d'une impulsion de déclenchement au moment opportun est essentielle dans les tests d'injection de défauts (FI) et d'analyse des canaux latéraux (SCA), mais la gigue d'horloge et les interruptions aléatoires du programme compliquent cette tâche, ce qui entraîne un synchronisme imprécis.

Le générateur de déclenchement basé sur des motifs DS1002A résout ce problème en générant une impulsion de déclenchement après avoir détecté un motif dans le signal électromagnétique d'une puce. Un filtre passe-bande étroit spécial permet la détection de motifs même dans des signaux parasités.

L'injection de défauts sur un dispositif embarqué via l'alimentation électrique nécessite un équipement spécialisé. Pour qu'une perturbation fiable soit transmise à la cible, l'alimentation doit fournir une puissance suffisante avec un bruit minimal, et disposer d'une puissance suffisante pour générer des pics de tension abrupts. Il est également nécessaire de surveiller la consommation électrique afin d'identifier les zones d'intérêt et d'observer le comportement de la cible. L'amplificateur Keysight 30 A combine ces fonctionnalités dans un seul composant autonome pour les cibles consommant jusqu'à 10 A de courant (crête à crête).

Le modèle DS1141A offre les fonctionnalités suivantes :

• Accessoire pratique pour le générateur de signaux parasites de Keysight ou le générateur de signaux parasites de tension et d'horloge pour cartes à puce, permettant d'amplifier les signaux parasites de tension destinés à un processeur embarqué
• Comprend un dispositif de surveillance interne de la tension et du courant
• Comprend deux blocs d'alimentation externes

La sonde électromagnétique haute précision, une sonde très sensible utilisée dans l'analyse des canaux latéraux, capte les émissions électromagnétiques des circuits semi-conducteurs. La sonde est équipée d'un mécanisme qui permet d'échanger trois embouts de tailles différentes : 0,2 mm, 0,5 mm et 1,25 mm. Tous les embouts sont dotés d'une bobine dirigée et d'une coque de protection en Téflon. Généralement utilisée en combinaison avec une plate-forme à mouvement XYZ, la sonde peut capter des champs électromagnétiques dont la fréquence peut atteindre 6 GHz, et les convertir en un signal alternatif.

En se déplaçant à la surface d'une cible, le DS1203A peut détecter des circuits très actifs, ou points chauds. Les signaux captés sur un point chaud constituent les mesures pour une analyse électromagnétique simple ou différentielle. La sonde électromagnétique haute précision dispose d'un mécanisme de gain variable, que vous pouvez régler manuellement ou à l'aide d'un appareil externe tel que le Spider, et qui peut varier en fonction des caractéristiques de la cible.

L'amplificateur de glitch 1,5 A est conçu pour rendre vos tests d'injection de défauts applicables à une large gamme de cibles embarquées. Connectez facilement l'amplificateur de glitch 1,5 A au Spider ou au VC Glitcher pour produire des glitches nets et précis sur la cible, puis à un oscilloscope pour mesurer et visualiser les glitches que vous générez.

Conçu pour piloter la broche d'entrée d'un processeur embarqué, l'amplificateur de glitch 1,5 A a une impédance de sortie pratiquement nulle (0 Ω). Le DS1140A peut fonctionner avec une alimentation unique comprise entre 0 et 4 volts (V). Cette tension est réglée dans Inspector et contrôlée via Spider ou VC Glitcher.

L'amplificateur de glitch 1,5 A a un facteur d'amplification de deux. Par exemple, lorsque le niveau de tension continu est réglé sur 2 V et la tension de crête glitch sur 3 V, les niveaux de tension entre le Spider ou le VC Glitcher et l'amplificateur glitch 1,5 A sont respectivement de 1 et 1,5 V. Par conséquent, les niveaux de tension entre le DS1140A et un processeur intégré sont respectivement de 2 et 3 V.

• Augmentation du taux de réussite des glitches grâce à des glitches plus précis
• Moniteur intégré de courant et de puissance
• Amplifie les glitches produits par le Spider ou le VC Glitcher jusqu'à 1,5 A crête à crête.
• Permet de provoquer des dysfonctionnements dans les dispositifs intégrés tels que les FPGA et les SOC.
• Connexion facile à votre cible via l'un des trois connecteurs de sortie proposés par Glitch Amplifier II
• Facile à positionner près de votre cible
• Comprend une aiguille amplificatrice de glitch
• Positionneur 3D en option (pour l'aiguille de l'amplificateur Glitch)
• Peut être utilisé en combinaison avec la plaque de base de la station de test EM. L'amplificateur Glitch II s'adapte parfaitement à la grille de la plaque de base.

L'aiguille amplificatrice de glitch vous permet d'appliquer un glitch directement sur les broches de soudure d'une puce, sans avoir à couper la ligne d'alimentation. Le positionneur 3D en option peut être utilisé pour monter l'aiguille et la positionner au-dessus de la cible.

Le DS1322A est piloté par l'amplificateur de glitch et peut insérer des glitches à haute vitesse sur des cibles embarquées sans avoir à utiliser l'amplificateur de glitch comme alimentation électrique pour la cible. En connectant la sortie SMB de l'amplificateur de glitch à l'aiguille de l'amplificateur de glitch, vous pouvez injecter des défauts en plaçant l'aiguille sur la broche VCC de la cible et en connectant la pince de mise à la terre à la terre de la cible. L'aiguille de l'amplificateur de glitch est dotée d'une pointe à ressort pour faciliter le positionnement.

Les pointes de sonde à injection de défauts de haute précision peuvent fournir un glitch local précis à l'aide de puissantes impulsions électromagnétiques. Notre technique de production unique permet d'obtenir des pointes de haute précision dotées de petites bobines qui produisent une perturbation locale qui, grâce à de multiples enroulements, fournit encore suffisamment de puissance pour mener à bien les tentatives d'injection de défauts. En raison de la taille réduite de nos bobines, la profondeur de pénétration de nos pointes de sonde d'injection de défauts haute précision est inférieure à celle des pointes de sonde plus grandes, de sorte qu'il peut être nécessaire de préparer ou de décapsuler la puce.

• Réduit la zone d'impact de la faille injectée, ce qui facilite l'analyse précise de la partie vulnérable de la puce.
• Augmente le taux de réussite de l'injection de défauts
• En raison de la puissance élevée des embouts, il n'est pas toujours nécessaire de décapsuler une puce.

L'injection de polarisation de corps (BBI) est une technique relativement récente dans le domaine de l'injection de défauts, qui a été adoptée par plusieurs programmes de tests de sécurité. En complétant la sonde d'injection de défauts unidirectionnelle DS1120A ou DS1120B avec les aiguilles de la sonde d'injection de polarisation de corps DS1320A, vous pouvez vous assurer que vos puces résistent à cette technique. Une sonde BBI injecte des défauts dans une zone très restreinte, ce qui vous permet de localiser les failles de sécurité à un emplacement plus précis.

• Bénéficiez d'une couverture complète des attaques BBI dans un package dédié : attaques directes (FBBI), inversées (RBBI) et à large plage de tension pour tous les scénarios d'attaque sur toutes les puces.
• Comprend deux sondes FBBI et deux sondes RBBI pour haute et basse tension.
• Prévenez les rayures sur le substrat grâce à des aiguilles à ressort.
• Pénétrez des substrats épais avec une puissance maximale de 200 V.
• Se connecte facilement à la sonde d'injection de défauts unidirectionnelle DS1120A ou DS1120B grâce à un connecteur SMA

La station de travail d'analyse DS1020A est une station de travail PC standard destinée à la suite logicielle Inspector.

• Écran 27 pouces
• Disque dur SSD de 1 To
• Windows 10
• 32 Go de RAM

Le boîtier de sécurité DS1106A pour injection de défauts laser est un boîtier de sécurité de grande taille destiné aux essais d'injection de défauts laser.

• Dimensions intérieures de l'espace de travail : 69 cm (l) x 65 cm (p) x 87,5 cm (h)
• Compatible avec le système d'injection de défauts laser DS1101A et le système d'injection de défauts à double laser DS1102A
• Environnement sécurisé certifié par la FDA et conforme aux normes CE

Utilisez ce kit comprenant un anneau lumineux infrarouge et une caméra pour faciliter la navigation laser arrière de votre système laser d'injection de défauts DS1101A. Le kit comprend un anneau lumineux infrarouge, une caméra de remplacement sensible aux infrarouges et trois fixations magnétiques permettant de fixer l'anneau lumineux aux objectifs.

Anneau lumineux pour les montages de test par injection de défauts :

• Type de LED : IR 1 200 nm
• Dimensions : 70,4 x 23 mm
• 24 LED
• Distance de travail : environ 20 mm
• Comprend un support magnétique permettant de fixer l'anneau lumineux à l'objectif