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Testez la résistance de votre appareil aux attaques par modification du signal d'horloge. Le « clock glitching » est une technique qui consiste à modifier temporairement la fréquence d'horloge d'un appareil cible pour lui attribuer des cycles d'horloge différents, ce qui entraîne un écart par rapport à son comportement normal. Cet écart peut donner lieu à des vulnérabilités et à des exploits.

Le générateur de glitches d'horloge DS1150A fonctionne en transmettant à la fois le signal d'horloge normal et le signal d'horloge modifié au dispositif cible, ce qui vous permet de vérifier si vos dispositifs résistent aux attaquants qui utilisent des signaux d'horloge modifiés pour compromettre leur sécurité.

• Comprend deux générateurs d'horloge internes pouvant être configurés indépendamment
• Basculer entre l'horloge normale et l'horloge à glitch en fonction d'un signal de déclenchement
• Signal d'horloge compris entre 1 kHz et 300 MHz ; niveau de tension compris entre -1 V et +4 V
• L'horloge Glitch dispose de trois modes : sortie numérique configurable, sortie numérique aléatoire et sortie analogique aléatoire
• Une interface analogique flexible permet une connexion aisée avec divers types de cibles
• Le signal de référence mesure le signal d'horloge généré
• Comprend une cible piñata avec le signal d'horloge apparent

La sonde de courant active est une sonde haute fréquence qui détecte activement les courants électriques. Utilisée dans le cadre de l'analyse par canal latéral pour mesurer la consommation électrique d'un dispositif cible, la sonde DS1202A, très sensible, s'insère dans la ligne d'alimentation d'un dispositif cible et peut transmettre des variations de courant allant jusqu'à 2 GHz. La sonde de courant active s'utilise en combinaison avec une unité de base, qui permet d'amplifier le signal mesuré.

• Bande passante : 1 MHz à 2 000 MHz
• Courant continu maximal : 100 mA (valeur efficace) CA
• Courant de crête maximal : 5 A
• Circuit de mesure de courant : ≤ 0,082 Ω, ≤ 0,042 µH
• 40 dB de gain avec l'unité de base au maximum

La sonde électromagnétique haute précision, une sonde très sensible utilisée dans l'analyse des canaux latéraux, capte les émissions électromagnétiques des circuits semi-conducteurs. La sonde est équipée d'un mécanisme qui permet d'échanger trois embouts de tailles différentes : 0,2 mm, 0,5 mm et 1,25 mm. Tous les embouts sont dotés d'une bobine dirigée et d'une coque de protection en Téflon. Généralement utilisée en combinaison avec une plate-forme à mouvement XYZ, la sonde peut capter des champs électromagnétiques dont la fréquence peut atteindre 6 GHz, et les convertir en un signal alternatif.

En parcourant la surface d'une cible, le DS1203B permet de détecter des circuits très actifs, ou « points chauds ». Les signaux captés sur un point chaud constituent les données de mesure nécessaires à une analyse électromagnétique simple ou différentielle. La sonde électromagnétique de haute précision est dotée d'un mécanisme de gain variable, que vous pouvez régler manuellement ou via un dispositif externe et adapter en fonction des caractéristiques de la cible.

Comprend désormais un amplificateur nouveau et amélioré 

L'amplificateur de glitch de 1,5 A est conçu pour permettre d'étendre vos tests d'injection de défauts à une large gamme de cibles embarquées. Connectez facilement l'amplificateur de glitch de 1,5 A aux modèles DS1180A et DS1070A/71A pour générer des glitches nets et précis sur la cible, ou à un oscilloscope pour mesurer et visualiser les glitches que vous générez.

Conçu pour piloter la broche d'entrée d'un processeur embarqué, l'amplificateur de glitch de 1,5 A présente une impédance de sortie pratiquement nulle (0 Ω). Le DS1140B peut fonctionner avec une alimentation unique comprise entre 0 et 4 volts (V). Cette tension est définie dans Inspector et contrôlée via les DS1180A et DS1070A/71A.

L'amplificateur de pics de 1,5 A a un facteur d'amplification de deux. Par exemple, lorsque l'on règle une tension continue de 2 V et une tension de crête de glitch de 3 V, les tensions entre le DS1180A et le DS1070A/71A, ainsi qu'entre le DS1180A et l'amplificateur de glitch de 1,5 A, sont respectivement de 1 V et 1,5 V. Par conséquent, les tensions entre le DS1140B et un processeur embarqué sont respectivement de 2 V et 3 V.

• Nouvel amplificateur amélioré
• Augmentation du taux de réussite des glitches grâce à des glitches plus précis
• Moniteur intégré de courant et de puissance
• Amplifie les perturbations générées par les modèles DS1180A et DS1070A/71A jusqu'à 1,5 A crête à crête
• Permet de provoquer des dysfonctionnements dans les dispositifs intégrés tels que les FPGA et les SOC.
• Connexion facile à votre appareil cible grâce à l'un des trois connecteurs de sortie proposés par le Glitch Amplifier
• Facile à positionner près de votre cible 
• Comprend une aiguille amplificatrice de glitch
• Positionneur 3D en option (pour l'aiguille de l'amplificateur Glitch)
• Peut être utilisé en combinaison avec la plaque de base de la station de test EM. L'amplificateur Glitch II s'adapte parfaitement à la grille de la plaque de base.

Les contre-mesures contre l'injection de défauts ne cessent de se perfectionner. Pour contourner certaines de ces contre-mesures, un évaluateur de sécurité doit être capable de générer plusieurs impulsions laser à différents emplacements. Le DS1102A permet de générer deux points laser dont l'emplacement et la synchronisation sont indépendants l'un de l'autre.

• Travailler avec différentes sources laser
• Accélérer le processus d'évaluation
• Réaliser des attaques à impulsions multiples avec un laser DPSS
• Contrôlez le balayage automatisé avec Inspector et le positionnement motorisé des deux points laser
• Obtenir une grande précision de positionnement et une haute résolution
• Utilisez le large champ de vision pour créer un écart relativement important entre deux points laser sur la matrice

La cible de formation cryptographique matérielle DS1031A est une carte de développement basée sur un cœur ARM Cortex-M4F fonctionnant à une fréquence d'horloge de 168 MHz. Elle a été physiquement modifiée et programmée pour servir de cible de formation aux attaques par analyse des canaux auxiliaires (SCA) et par injection de défauts (FI). Le code source et l'environnement de développement intégré (IDE) fournis avec la cible permettent également de l'utiliser pour le développement et le prototypage.

• Objectif de formation ambitieux tant pour les attaques SCA passives telles que l'analyse différentielle de puissance (DPA) que pour les attaques FI actives telles que l'analyse différentielle de défauts (DFA)
• Modélise avec précision les appareils embarqués 32 bits actuels ; le cryptage matériel est implémenté de manière similaire aux appareils actuels. 
• Comportement stable ; résistant aux dommages permanents accidentels causés par FI
• Contre-mesures configurables

Le laser d'injection de défauts multimode DS1110A 445 nm utilise des diodes laser multimodes à haute puissance, permettant un balayage grossier de la surface des puces avec une grande taille de spot et une intensité suffisante à l'intérieur du spot.

• Laser bleu à longueur d'onde de 445 nm
• Puissance d'impulsion laser : 3 W
• Longueur d'impulsion configurable aussi petite que 2 ns
• La fréquence d'impulsion élevée permet des attaques par injection de défauts à impulsions multiples.
• Le faible délai entre l'impulsion de déclenchement et l'impulsion lumineuse réelle, associé à une gigue minimale, permet un synchronisation précise des impulsions laser.
• Large gamme de tailles de spot : choisissez entre un balayage grossier ou détaillé de la surface de la puce grâce à des objectifs et un réducteur de taille de spot.
• Diode laser à longue durée de vie et vieillissement minimal
• S'intègre aux produits Keysight DS1101A, DS1102A, DS1160A et DS1180A

Le DS1104 se monte sur la platine de précision XYZ DS1010A. Il fonctionne avec les sources laser Keysight, les lasers à diode Keysight, les lasers DPSS et les lasers tiers lorsqu'une interface à queue d'aronde est disponible et que la longueur d'onde se situe dans la plage prise en charge. 

• Se monte sur la platine XYZ de précision DS1010A
• Attaques frontales et arrière 
• Prise en charge des sources laser 700 nm – 1100 nm, y compris le proche infrarouge (NIR)
• Caméra NIR, objectif 5X et réducteur de taille de spot inclus

L'aiguille amplificatrice de glitch vous permet d'appliquer un glitch directement sur les broches de soudure d'une puce, sans avoir à couper la ligne d'alimentation. Le positionneur 3D en option peut être utilisé pour monter l'aiguille et la positionner au-dessus de la cible.

Le DS1322A est piloté par l'amplificateur de glitch et peut insérer des glitches à haute vitesse sur des cibles embarquées sans avoir à utiliser l'amplificateur de glitch comme alimentation électrique pour la cible. En connectant la sortie SMB de l'amplificateur de glitch à l'aiguille de l'amplificateur de glitch, vous pouvez injecter des défauts en plaçant l'aiguille sur la broche VCC de la cible et en connectant la pince de mise à la terre à la terre de la cible. L'aiguille de l'amplificateur de glitch est dotée d'une pointe à ressort pour faciliter le positionnement.

Les pointes de sonde à injection de défauts de haute précision peuvent fournir un glitch local précis à l'aide de puissantes impulsions électromagnétiques. Notre technique de production unique permet d'obtenir des pointes de haute précision dotées de petites bobines qui produisent une perturbation locale qui, grâce à de multiples enroulements, fournit encore suffisamment de puissance pour mener à bien les tentatives d'injection de défauts. En raison de la taille réduite de nos bobines, la profondeur de pénétration de nos pointes de sonde d'injection de défauts haute précision est inférieure à celle des pointes de sonde plus grandes, de sorte qu'il peut être nécessaire de préparer ou de décapsuler la puce.

• Réduit la zone d'impact de la faille injectée, ce qui facilite l'analyse précise de la partie vulnérable de la puce.
• Augmente le taux de réussite de l'injection de défauts
• En raison de la puissance élevée des embouts, il n'est pas toujours nécessaire de décapsuler une puce.

L'injection de polarisation de corps (BBI) est une technique relativement récente dans le domaine de l'injection de défauts, qui a été adoptée par plusieurs programmes de tests de sécurité. En complétant la sonde d'injection de défauts unidirectionnelle DS1120A ou DS1120B avec les aiguilles de la sonde d'injection de polarisation de corps DS1320A, vous pouvez vous assurer que vos puces résistent à cette technique. Une sonde BBI injecte des défauts dans une zone très restreinte, ce qui vous permet de localiser les failles de sécurité à un emplacement plus précis.

• Bénéficiez d'une couverture complète des attaques BBI dans un package dédié : attaques directes (FBBI), inversées (RBBI) et à large plage de tension pour tous les scénarios d'attaque sur toutes les puces.
• Comprend deux sondes FBBI et deux sondes RBBI pour haute et basse tension.
• Prévenez les rayures sur le substrat grâce à des aiguilles à ressort.
• Pénétrez des substrats épais avec une puissance maximale de 200 V.
• Se connecte facilement à la sonde d'injection de défauts unidirectionnelle DS1120A ou DS1120B grâce à un connecteur SMA