Cómo realizar la caracterización de dispositivos sobre oblea a frecuencias sub-THz

Obtener presupuesto
Analizador de redes Expert
+ Analizador de redes Expert
Analizador de redes Expert
+ Analizador de redes Expert

Caracterización de dispositivos sub-THz

La caracterización sobre oblea a frecuencias subterahercio requiere mediciones de banda ancha que aíslen el comportamiento eléctrico intrínseco de los dispositivos semiconductores de la influencia de las sondas, las interconexiones y los dispositivos de fijación para la medición. La configuración de medición incluye un analizador vectorial de redes, extensores de frecuencia de banda ancha, un controlador del equipo de prueba, sustratos de calibración de precisión y sondas de oblea «tierra-señal-tierra» que operan en amplios rangos de frecuencia. Los ingenieros realizan mediciones calibradas de parámetros de dispersión de banda ancha directamente sobre las obleas semiconductoras para evaluar los dispositivos activos y pasivos antes de su encapsulado. Entre los dispositivos típicos se incluyen amplificadores de transimpedancia, controladores electroópticos, circuitos integrados monolíticos de microondas, amplificadores diferenciales y componentes emergentes en el rango sub-terahercio para comunicaciones ópticas, sensores y hardware de inteligencia artificial.

Los datos de medición obtenidos se utilizan para validar el rendimiento de los circuitos, extraer modelos compactos de dispositivos y comparar el comportamiento eléctrico medido con simulaciones electromagnéticas y de circuitos. Las mediciones de banda ancha proporcionan información sobre la ganancia, el aislamiento, la adaptación de impedancia, el ancho de banda, la estabilidad y el funcionamiento diferencial, al tiempo que mantienen una calibración coherente en todo el rango de medición. Al realizar la caracterización antes del encapsulado, los ingenieros pueden identificar variaciones en el proceso, optimizar la disposición de los dispositivos, verificar las hipótesis de diseño y acelerar las iteraciones de diseño sin la incertidumbre adicional que introducen los encapsulados o las estructuras de interconexión externas.

Solución para la caracterización de dispositivos sub-THz

Una caracterización precisa de los dispositivos sobre oblea requiere mediciones de banda ancha que conserven el rendimiento eléctrico intrínseco de los dispositivos semiconductores, al tiempo que minimicen la influencia de las interfaces de medición y las transiciones de las sondas. El flujo de trabajo comienza con una calibración sobre oblea mediante sustratos de calibración de precisión, seguida de un funcionamiento sincronizado del analizador de redes vectorial, los extensores de frecuencia de banda ancha y el controlador del equipo de prueba para obtener mediciones continuas de los parámetros de dispersión en todo el rango de frecuencias de funcionamiento. Los ingenieros evalúan la ganancia, la pérdida de inserción, la pérdida de retorno, el aislamiento, la adaptación de impedancia, el rendimiento diferencial y el ancho de banda, al tiempo que comparan los resultados medidos con simulaciones electromagnéticas y modelos de circuitos. La solución permite la caracterización de dispositivos activos, como amplificadores de transimpedancia, controladores electroópticos, circuitos integrados monolíticos de microondas y amplificadores diferenciales, así como de estructuras semiconductoras pasivas. Las mediciones continuas hasta 250 GHz mejoran la repetibilidad, la coherencia de la calibración y la fiabilidad de las mediciones en los flujos de trabajo de investigación, desarrollo de procesos y validación de diseños.
Obtener presupuesto

Véase el diagrama de bloques de la solución para la caracterización de dispositivos sub-THz

Cómo realizar la caracterización de dispositivos sobre oblea a frecuencias sub-THz

Descubre los productos de nuestra solución para la caracterización de dispositivos sub-THz

Casos prácticos relacionados

Cómo caracterizar materiales para diseños electrónicos de alta frecuencia

Caracterizar materiales dieléctricos y conductores utilizando un analizador de redes vectorial y técnicas de medición con resonadores.

Más información

Cómo eliminar los errores en la medición de los campos electromagnéticos térmicos

Elimina los errores térmicos de los campos electromagnéticos mediante técnicas de inversión de corriente.

Más información

Cómo mejorar la estabilidad de las mediciones en microohmios

Mejorar la estabilidad de la medición en aplicaciones de ensayo de baja resistencia.

Más información

contacto logotipo

Póngase en contacto con uno de nuestros expertos

¿Necesita ayuda para encontrar la solución adecuada para usted?

Contáctenos