Cómo realizar mediciones de baja corriente en PCBAs

Comprobador en circuito
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Integración de una unidad de medición de fuente en el comprobador en circuito

La realización de mediciones de baja corriente en ensamblajes de placas de circuitos impresos (PCBA) requiere un instrumento preciso de medición de baja corriente, como un multímetro digital (DMM) o una unidad de medición de fuentes (Unidad de Alimentación y Medida). Estos instrumentos deben medir simultáneamente la tensión y la corriente con una alta resolución y un filtrado eficaz del ruido. Sin embargo, para realizar pruebas de baja corriente de fuga durante la etapa de prueba en circuito, es esencial integrar una Unidad de Alimentación y Medida en el probador en circuito (ICT) para lograr una mayor precisión.

Integrar una Unidad de Alimentación y Medida en la ICT requiere establecer una interfaz y conectar el comprobador a los nodos específicos del dispositivo sometido a prueba. Por consiguiente, la configuración de la Unidad de Alimentación y Medida implica establecer la tensión de salida, los parámetros de corriente y el rango de medición deseado. Los ingenieros de pruebas también necesitan planes de pruebas para la automatización de las pruebas de hardware y software. Elaborar un nuevo plan de pruebas para cada tipo de placa garantiza la precisión de las pruebas.

Solución de prueba de baja corriente para TIC

La medición de baja corriente en un sistema ICT requiere la integración de una unidad de medida de fuente. El sistema de prueba de baja corriente ICT de Keysight simplifica este proceso con el complemento OpenTap y la unidad de medida/fuente de precisión de doble canal Keysight B2912C. El complemento OpenTap automatiza la generación de pruebas en cuatro pasos utilizando el archivo de placa y los parámetros proporcionados, gestionando todos los cálculos necesarios y mostrando los resultados directamente. La integración de la SMU a través del comprobador ICT reduce la introducción manual de datos, lo que mejora la eficiencia. El Keysight i3070 7i incorpora estos avances y ofrece una solución optimizada y flexible para las pruebas de baja corriente.

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