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Hochgeschwindigkeits-Digitalentwicklung

So meistern Sie Herausforderungen im Gigabit-Design

Hochgeschwindigkeits-Digitalstandards entwickeln sich weiter, um mit neuen Technologien wie 5G, dem Internet of Things (IoT) und autonomen Fahrzeugen Schritt zu halten. Jede Veränderung bringt neue Herausforderungen mit sich, durch die sich das Signal in Ihren digitalen Designs verschlechtert kann. Die Simulationssoftware von Keysight kann Ihnen dabei behilflich sein, die neuesten Herausforderungen für Ihre digitalen Designs vorauszusehen und zu meistern. Nutzen Sie sie noch heute, um die Leistung Ihres Designs zu optimieren, Kosten zu senken und für besser vorhersehbare Ergebnisse zu sorgen.

Probleme bei der Signalintegrität lösen

Ganz gleich, ob Sie Designs für die neueste Version von PCI Express entwerfen oder mit der PAM-4 neue Grenzen austesten: Herausforderungen beim seriellen Hochgeschwindigkeitsdesign nehmen viele Stunden an Designzeit in Anspruch. Sorgen Sie für mehr Effizienz, indem Sie eine integrierte Kanal- und Elektromagnetik- (EM-) Lösung einsetzen. Mit dem Kanalsimulator und den IBIS-AMI-Modellen lassen sich komplexe Signalverbindungen mit Jitter, Equalization sowie Takt- und Datenwiederherstellung genau simulieren. Äußerst genaue EM-Modelle in nur wenigen Minuten

Designs für Leistungsintegrität

Probleme bei der Leistungsintegrität (PI) können sehr kostspielig sein. Unbemerkte Probleme bei der Leistungsintegrität können dazu führen, dass das Produkt unzuverlässig wird. Für die Frequenz- und Zeitbereichsanalyse von Stromverteilungsnetzen (PDNs) benötigen Sie einen zusammenhängenden Design-Fluss. Hierbei kann Ihnen Software zur Signalintegritätsanalyse unter Berücksichtigung von Betriebsspannungseinflüssen helfen.

Lösung von Herausforderungen bei DDR-Arbeitsspeicher

Entwickler von Double Data Rate (DDR-) Arbeitsspeicher sehen sich immer kürzeren Zeit- und Spannungsspannen und einer zunehmenden Anzahl von Konformitätsmessungen gegenüber. Außerdem müssen sie zahlreiche Empfängermaskentests bei extrem niedrigen Bitfehlerraten durchführen.

Mit der Memory Designer Software von Keysight könnnen Entwickler von DDR-Arbeitsspeicher nun schneller EM-Modelle extrahieren, Busse simulieren und Konformitätstests durchführen. Da sowohl für die Simulation als auch für die Hardware-Verifizierung dieselbe Messtechnik verwendet wird, können sie Simulation und Messungen leicht miteinander vergleichen.

Finden Sie das für Ihre Anwendung optimale Produkt

Bundle

Modellnummer Bundle-Bezeichnung Beschreibung  
W2222BP Powerintegritäts-Bundle ADS Core, TransConv, Harmonic Balance, Layout, PIPro Weitere Informationen
W2223BP
Signalintegritäts-Bundle ADS Core, TransConv, Channel, IT, Layout, SIPro, PIPro Weitere Informationen
W2225BP
Memory Designer Bundle ADS Core, TransConv, Channel, IT, Layout, SIPro, PIPro und Memory Designer Weitere Informationen

Simulationselemente

Modellnummer Bundle-Bezeichnung Beschreibung  
W2360EP SIPro EM-Analyse-Element Bietet eine Signalintegritätsanalyse für Ihre Hochgeschwindigkeits-Leiterplatten (PCBs) Weitere Informationen
W2359EP
PIPro EM-Analyse-Element
Liefert eine Leistungsintegritätsanalyse Ihres PDN Weitere Informationen
W2393EP Memory Designer Element Verringert den erforderlichen Aufwand, um EM-Modelle zu installieren und zu extrahieren, um Busse zu simulieren und Konformitätstests durchzuführen.
Weitere Informationen
W2309EP
DDR Bus Simulator Erstellt mithilfe einer statistischen Simulation schnell präzise Bitfehlerraten (BER-) Konturen, Masken und Spannen Weitere Informationen
W2307EP Steckverbinder-Toolbox-Element Ermöglicht Ihnen mit aufschlussreichen Metriken die Optimierung Ihres PCB-Aufbaus und Ihrer Übertragungsleitung Weitere Informationen
W1714EP AMI-Modelliersatz Optimiert die Signalverarbeitungsblocks für Ihren Serializer/Deserializer- (SerDes-) IC Weitere Informationen
W2350EP DDR-3-Konformitätsprüfstand Ermöglicht eine Korrelation zwischen Simulation und Messung sowie einen Workflow für DDR-3-Konformität Weitere Informationen
W2351EP DDR-4-Konformitätsprüfstand Ermöglicht eine Korrelation zwischen Simulation und Messung sowie einen Workflow für DDR-4-Konformität Weitere Informationen

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