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x1149 Boundary Scan Analyzer

Der neue x1149 Boundary Scan Analyzer ist ein Werkzeug für elektrische Strukturtests mit einem leistungsstarken Boundary Scan von JTAG Technologies, basierend auf den IEEE 1149.x Standards.

Produktbild

  • Tap IO ports

    4

  • Remote test configurability

    Yes

  • CET ports

    1

  • System width

    120 mm

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Highlights

Vielseitiges und dennoch einfach zu bedienendes Platinen-Testgerät

Das x1149 ist ein Werkzeug für Ingenieure zur Durchführung von Strukturtests, wie z. B. Kurzschluss- und Unterbrechungstests, an ihren Leiterplatten. Es ermöglicht außerdem die In-System-Programmierung von Bauelementen wie Field-Programmable Gate Arrays (FPGAs) und Complex-Programmable Logic Devices (CPLDs).

Darüber hinaus programmiert der x1149 PROM-Speicher (Programmable Read-Only Memory) und führt Speicherverifizierungstests an Geräten wie DDR-SDRAM (Double Data Rate Synchronous Dynamic Random-Access Memory) durch. Dies ermöglicht das Programmieren und Reprogrammieren dieser Geräte und bietet so mehr Flexibilität und Kontrolle während der Entwicklung. Mit seinen fortschrittlichen Testfunktionen und der benutzerfreundlichen Software ist der Keysight x1149 die ideale Lösung für alle Ihre Leiterplattentestanforderungen.

x1149 2.1 Funktionen

  • IEEE-Standards
    • 1149.1-2013 (Neu)
    • 1149.6-2015 (Neu)
    • 1149.1-2001
    • 1149.6-2003
    • 1687-2014
  • Benutzerdefinierter Test mit Insert Source Language (ISL) 2.0
  • Unterstützung für Autobank und Scan Path Linker
  • Neue BSDL-Erweiterung für den Standard 1149.1 und 1149.6-2015
  • Größere Flexibilität und Unterstützung für IP-Pakete und programmierbare Funktionen sowohl im 1149.1- als auch im 1149.6-Standard

Testentwicklung

  • Maximieren Sie die Testabdeckung von Steckverbindern und ICs ohne Boundary-Scan-Funktion.
  • Hervorragende Debugging-Tools
  • Umsetzbare Fehlerberichterstattung auf Pin-Ebene
  • In-System-Programmierung

Anwendungen

  • Hervorragende Testabdeckung für Netcom-, Serverprodukt- und Automobilkunden
  • IEEE 1687-Lösung für Platinentests und Tests eingebetteter Instrumentierung
  • Automatisierte Konfiguration von Scanpfad-Linkern

Dienstleistungen und Support