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16454A
Die genaue Permeabilität von ringförmigen Materialien in einem breiten Größenbereich messen.
Frequenz:
1 kHz bis 1 GHz
Stichprobengröße (nur Toroiden):
Höhe: ≤ 8,5 mm
Innendurchmesser: ≥ 3,1 mm
Außendurchmesser: ≤ 20 mm
Die 16454A ist für präzise Permeabilitätsmessungen an ringförmigen magnetischen Werkstoffen konzipiert. Da die Konstruktion dieser Vorrichtung eine Windung um den Ring bildet (ohne magnetische Streuung), ist das Wickeln eines Drahtes um den Ring überflüssig. Die komplexe Permeabilität wird aus der Induktivität mit und ohne Ring berechnet. Bei Verwendung des Messgeräts E4991A/4291B mit Option 002 ist eine direkte Ablesung der komplexen Permeabilität möglich. Zusätzlich ist eine kleine und eine große Vorrichtung im Lieferumfang enthalten, um ein breites Größenspektrum abzudecken.
Weitere Informationen zu Materialprüfgeräten finden Sie unter Materialprüfgeräte und Zubehör für LCR-Meter und Impedanzmessgeräte
16451B
Bestimmung der Dielektrizitätskonstante fester dielektrischer Materialien; entspricht ASTM D150
Frequenz:
≤ 30 MHz
Messparameter:
Kapazität (C), Verlustfaktor (D) und Dielektrizitätskonstante (εr', εr'')
Größe des zu prüfenden Materials:
Dicke: ≤ 10 mm
Durchmesser: 10 bis 56 mm
Das Gerät 16451B dient zur präzisen Bestimmung der Dielektrizitätskonstante fester dielektrischer Materialien und entspricht der Norm ASTM D150. Es verwendet das Plattenkondensatorverfahren, bei dem das Material zwischen zwei Elektroden eingeschlossen wird. Die Kapazität des Kondensators wird anschließend mit einem LCR-Meter oder einem Impedanzanalysator gemessen.
Weitere Informationen zu Materialprüfgeräten finden Sie unter Materialprüfgeräte .
Erfahren Sie mehr über Zubehör für LCR-Meter und Impedanzmessgeräte.
16453A
Eliminieren Sie Streukapazitäten, indem Sie die Dielektrizitätskonstante fester Materialien mit Hilfe der Parallelplattenmethode messen.
Frequenz:
1 MHz bis 1 GHz
Stichprobengröße (nur glatte Blätter):
Dicke: 0,3 mm bis 3 mm
Durchmesser: ≥ 15 mm
Das Gerät 16453A ist für präzise Messungen der Dielektrizitätskonstante und des Verlustfaktors mit den Geräten E4991A/4291A/B konzipiert. Es nutzt das Parallelplattenverfahren, bei dem das Material zwischen zwei Elektroden eingeschlossen wird und so einen Kondensator bildet. Die Geräte E4991A/4291A/B messen die durch die Vorrichtung erzeugte Kapazität, und die Firmware-Option 002 berechnet die relative komplexe Permittivität, wie im Gerät 16451B beschrieben. Bei Verwendung des Geräts 16451B ist eine Justierung erforderlich, um parallele Elektroden zu gewährleisten. Diese Justierung ist beim Gerät 16453A nicht notwendig, da die Vorrichtung über eine flexible Elektrode verfügt, die sich automatisch an die Materialoberfläche anpasst.
Weitere Informationen zu Materialprüfgeräten finden Sie unter Materialprüfgeräte .
Erfahren Sie mehr über Zubehör für LCR-Meter und Impedanzmessgeräte.
16034E
Impedanzmessung an einem SMD-Bauteil mit einer Mindestgröße von 1,6 (L) x 0,8 (B) mm durchführen.
Die Prüfvorrichtung 16034E ist für Impedanzmessungen an SMD-Bauteilen konzipiert. Die minimale SMD-Bauteilgröße, für die diese Vorrichtung geeignet ist, beträgt 1,6 (L) x 0,8 (B) mm.
Erfahren Sie mehr über Keysight LCR-Meter und Zubehör für Impedanzmessgeräte
16065A
Messen Sie ein Prüfling mit einer Gleichspannungsvorspannung von bis zu +/-200 V und messen Sie auch axiale/radiale Anschlusskomponenten.
Die Prüfvorrichtung 16065A ermöglicht die Messung eines Prüflings mit einer Gleichspannung von bis zu ±200 V. Die gleichen Module 16047A/D können zur Messung von Bauteilen mit axialen/radialen Anschlüssen verwendet werden.
16190B
Überprüfen Sie die Genauigkeit von Impedanzanalysatoren, z. B. LCR-Metern oder Impedanzanalysatoren mit 7-mm-Messanschluss.
Das Prüfset 16190B dient zur Überprüfung der Impedanzmessgenauigkeit von LCR-Metern oder Impedanzanalysatoren mit 7-mm-Messanschluss. Die Anwendung dieser Standards ist in der Bedienungs-/Serviceanleitung des Geräts beschrieben.
Erfahren Sie mehr über Zubehör für LCR-Meter und Impedanzmessgeräte.
16047E
Impedanzmessung von bedrahteten Bauelementen bis 120 MHz; inklusive Schutzvorrichtung und Kurzschlussplatte
Die 16047E ist für die Impedanzmessung von Bauteilen mit Anschlussdrähten konzipiert. Für Bauteile mit drei Anschlüssen ist ein Schutzanschluss vorhanden, und eine Kurzschlussplatte ist an dieser Vorrichtung befestigt.
Erfahren Sie mehr über Keysight LCR-Meter und Zubehör für Impedanzmessgeräte
16034H
Impedanzmessung an einem SMD-Bauteil mit einer Mindestgröße von 1,6 (L) x 0,8 (B) mm durchführen.
Die Vorrichtung 16034H dient zur Impedanzmessung von SMD-Bauteilen in Array-Bauform. Die minimale SMD-Bauteilgröße, für die diese Vorrichtung geeignet ist, beträgt 1,6 mm (L) x 0,8 mm (B). Da die Messelektrodenspitzen sehr dünn und die Halterung extrem flach sind, kann das Bauteil verschoben werden, sodass die Messelektroden jedes Element des Array-Bauteils erreichen.
16034G
Impedanzmessung an einem SMD-Bauteil mit einer Mindestgröße von 0,6 (L) x 0,3 (B) mm durchführen.
Die Vorrichtung 16034G ist für Impedanzmessungen an oberflächenmontierten Bauelementen (SMD) konzipiert. Die minimale SMD-Größe, für die diese Vorrichtung geeignet ist, beträgt 0,6 (L) x 0,3 (B) mm.
E2667B
Verwenden Sie dieses E2667B USB 2.0 High-Speed Host Test Fixture Kit (zusammen mit der DSOXUSBSQ USB 2.0 Signal Quality Testoption), um den Signalqualitätstest an einem USB 2.0 High-Speed Host mit einem 1,5 GHz Bandbreite 4000 X-Series Oszilloskop durchzuführen.
Für die Signalqualitätsprüfung von USB-2.0-Hochgeschwindigkeitsgeräten empfiehlt Keysight die Verwendung des E2667B USB-2.0-Hochgeschwindigkeits-Testkits zusammen mit der Option DSOXUSBSQ zur Signalqualitätsprüfung an einem Oszilloskop der X-Serie 4000 mit 1,5 GHz Bandbreite. Zum Testen von Hochgeschwindigkeitsgeräten mit einem programmierten Testmuster gemäß USB-IF-Standard müssen Sie lediglich die D+- und D--Signale des Testkits mithilfe von SMA-Kabeln und den entsprechenden SMA-auf-BNC-Adaptern an die Eingangskanäle des Oszilloskops anschließen.
E2666B
Für den Signalqualitätstest an USB 2.0-Hochgeschwindigkeitsgeräten empfiehlt Keysight die Verwendung des E2666B USB 2.0-Hochgeschwindigkeitsgeräte-Testkits zusammen mit der DSOXUSBSQ USB 2.0-Signalqualitätstestoption auf einem 1,5 GHz 4000 X-Series-Oszilloskop.
Für den Signalqualitätstest von USB-2.0-Hochgeschwindigkeitsgeräten empfiehlt Keysight die Verwendung des Testkits E2666B für USB-2.0-Hochgeschwindigkeitsgeräte zusammen mit der Signalqualitätstestoption DSOXUSBSQ für USB 2.0 an einem Oszilloskop der X-Serie 4000 mit 1,5 GHz Bandbreite. Zum Testen von Hochgeschwindigkeitsgeräten mit einem programmierten Testmuster gemäß USB-IF-Standard müssen Sie lediglich die D+- und D--Signale des Testkits mithilfe von SMA-Kabeln und den entsprechenden SMA-auf-BNC-Adaptern an die Eingangskanäle des Oszilloskops anschließen.
E2646B
Führen Sie Tests zur Signalqualität bei niedriger und voller USB-2.0-Geschwindigkeit sowie Tests zum Einschaltstrom durch.
SQuIDD (Signalqualitäts-Einschaltstrom-, Abfall-/Drop-) Testvorrichtung für:
Erforderlich für die N5416A USB 2.0-Konformitätsprüfungssoftware. Kompatibel mit den Oszilloskopen der Serien Infiniium 8000, 9000, 80000 und 90000.