Column Control DTX
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고속 디지털 컴플라이언스 테스트를 가속화하는 방법

UXR-시리즈 오실로스코프
+ UXR-시리즈 오실로스코프

장비밖 병렬 처리를 통한 컴플라이언스 테스트 가속

LPDDR4, USB, DisplayPort, PCIe5 등을 위한 고속 디지털 프로토콜 컴플라이언스 테스트의 경우 데이터 수집 및 수집후 분석을 포함하는 수백 가지의 테스트를 진행해야 합니다. 새로운 세대가 발표될 때마다 테스트와 처리 요구 사항이 늘어나게 되고, 데이터 수집보다 계산에 훨씬 더 많은 시간이 소요될 수 있습니다. 병렬로 더 빠르게 작업을 처리할 수 있는 외부 컴퓨팅 리소스로 분석을 오프로딩하면 이러한 과제를 극복할 수 있습니다. 이러한 기법을 측정 세분화라고 합니다.

데이터를 외부 컴퓨팅 리소스로 오프로딩하려면 원격 데이터 처리를 지원하는 오실로스코프가 필요합니다. 이러한 구성의 경우 신호 수집은 장비에서 이루어지고 신호 분석은 외부 컴퓨팅 리소스에서 진행됩니다. 다수의 처리 작업을 병렬 컴퓨팅 노드로 나누기 위해서는 테스트 시퀀서가 필요합니다. 올바르게 구현하면 일반적인 컴플라이언스 통과 / 실패 보고 기능을 유지하면서 훨씬 더 빠르게 결과를 얻을 수 있습니다.

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측정 세분화 설정

컴플라이언스 테스트 가속 솔루션

컴플라이언스 테스트 처리를 가속하려면 컴퓨팅 작업을 고성능 병렬 컴퓨팅 리소스로 오프로딩할 수 있는 솔루션이 필요합니다. 키사이트의 컴플라이언스 테스트 가속 솔루션은 PCIe5, DisplayPort 1.4a, LPDDR5, USB4 컴플라이언스 테스트를 위한 오실로스코프의 컴퓨팅 작업을 오프로딩합니다. UXR 오실로스코프에서 실행되는 컴플라이언스 테스트 소프트웨어가 캡처된 데이터를 테스트 시퀀서가 관리하는 다수의 가상 머신으로 전송합니다. 키사이트의 UXR 오실로스코프는 파형을 병렬 방식으로 분석 및 사후처리하는 서버 리소스를 오프보딩하는 동시에 파형을 연속적으로 캡처할 수 있습니다.
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