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Verifica la resistenza del tuo dispositivo agli attacchi basati sulla modifica del segnale di clock. Il "clock glitching" è una tecnica che consiste nel modificare temporaneamente i cicli di clock forniti a un dispositivo bersaglio, provocando una deviazione dal suo comportamento normale. Tale deviazione può portare a vulnerabilità e attacchi.

Il DS1150A Clock Glitcher funziona fornendo al dispositivo di destinazione sia il segnale di clock normale che quello modificato, consentendo di verificare se i dispositivi sono in grado di resistere agli attacchi che utilizzano segnali di clock modificati per comprometterne la sicurezza.

• Include due generatori di clock interni configurabili in modo indipendente
• Passare dall'orologio normale all'orologio glitch in base a un segnale di trigger
• Segnale di clock compreso tra 1 kHz e 300 MHz; livello di tensione compreso tra -1 V e +4 V
• L'orologio Glitch dispone di tre modalità di funzionamento: uscita digitale configurabile, uscita digitale casuale e uscita analogica casuale
• Il front-end analogico flessibile consente un facile collegamento con diversi tipi di dispositivi
• Il segnale di riferimento misura il segnale di clock generato
• Include un bersaglio a forma di piñata con il segnale dell'orologio visibile

La sonda di corrente attiva è una sonda ad alta frequenza che rileva attivamente le correnti elettriche. Utilizzata nell'analisi a canale laterale per misurare il consumo energetico di un dispositivo target, la sonda DS1202A, altamente sensibile, viene inserita nella linea di alimentazione del dispositivo target ed è in grado di rilevare variazioni di corrente fino a 2 GHz. La sonda di corrente attiva viene utilizzata in combinazione con un'unità base, che serve ad amplificare il segnale misurato.

• Banda di frequenza: 1 MHz–2.000 MHz
• Corrente continua massima 100 mA (RMS) CA
• Corrente di impulso massima 5 A
• Circuito di misurazione della corrente ≤ 0,082 Ω, ≤ 0,042 µH
• 40 dB di guadagno con l'unità base al massimo

La sonda elettromagnetica ad alta precisione, una sonda altamente sensibile utilizzata nell'analisi dei canali laterali, rileva le emissioni elettromagnetiche dai circuiti a semiconduttori. La sonda è dotata di un meccanismo che consente di sostituire tre diverse punte di diverse dimensioni: 0,2 mm, 0,5 mm e 1,25 mm. Tutte le punte sono dotate di una bobina diretta e di un guscio protettivo in teflon. Normalmente utilizzata in combinazione con una piattaforma di movimento XYZ, la sonda è in grado di rilevare campi elettromagnetici con frequenze fino a 6 GHz, convertendoli in un segnale CA.

Muovendosi sulla superficie di un bersaglio, il DS1203B è in grado di individuare circuiti altamente attivi, ovvero i cosiddetti "hotspot". I segnali rilevati su un hotspot costituiscono i dati di misura necessari per l'analisi elettromagnetica semplice o differenziale. La sonda elettromagnetica ad alta precisione è dotata di un meccanismo di guadagno variabile, che può essere regolato manualmente o tramite un dispositivo esterno e può essere adattato in base alle caratteristiche del bersaglio.

Ora include un'unità amplificatrice nuova e migliorata 

L'amplificatore di glitch da 1,5 A è progettato per rendere i vostri test di iniezione di errori applicabili a un'ampia gamma di sistemi embedded. È possibile collegare facilmente l'amplificatore di glitch da 1,5 A ai modelli DS1180A e DS1070A/71A per generare glitch nitidi e precisi sul sistema target, oppure a un oscilloscopio per misurare e visualizzare i glitch generati.

Progettato per pilotare il pin di ingresso di un processore integrato, l'amplificatore di glitch da 1,5 A presenta un'impedenza di uscita praticamente pari a 0 Ω. Il DS1140B può funzionare con un'alimentazione singola compresa tra 0 e 4 volt (V). Questa tensione viene impostata in Inspector e controllata tramite il DS1180A e il DS1070A/71A.

L'amplificatore di glitch da 1,5 A ha un fattore di amplificazione pari a due. Ad esempio, impostando un livello di tensione continua di 2 V e una tensione di picco di glitch di 3 V, i livelli di tensione tra il DS1180A e il DS1070A/71A e l'amplificatore di glitch da 1,5 A sono rispettivamente di 1 V e 1,5 V. Di conseguenza, i livelli di tensione tra il DS1140B e un processore integrato sono rispettivamente di 2 V e 3 V.

• Unità amplificatrice nuova e migliorata
• Aumento del tasso di successo dei glitch grazie a glitch più nitidi
• Monitor integrato di corrente e potenza
• Amplifica i picchi di corrente generati dai modelli DS1180A e DS1070A/71A fino a 1,5 A (picco-picco)
• Consente il glitching di dispositivi integrati quali FPGA e SOC
• Facile collegamento al dispositivo di destinazione tramite uno dei tre connettori di uscita di cui è dotato l'amplificatore Glitch
• Facile da posizionare vicino al bersaglio 
• Include amplificatore Glitch Needle
• Posizionatore 3D opzionale (per Glitch Amplifier Needle)
• Può essere utilizzato in combinazione con la piastra di base della stazione di sonda EM. L'amplificatore Glitch II si adatta perfettamente alla griglia della piastra di base.

Le contromisure contro l'iniezione di errori stanno diventando sempre più sofisticate. Per aggirare alcune di queste contromisure, un valutatore di sicurezza deve essere in grado di generare più impulsi laser in punti diversi. Il DS1102A consente di generare due punti laser con posizione e temporizzazione indipendenti.

• Lavorare con diverse sorgenti laser
• Accelerare il processo di valutazione
• Eseguire attacchi a impulsi multipli con un laser DPSS
• Controlla la scansione automatizzata con Inspector e il posizionamento motorizzato di entrambi i punti laser
• Ottenere un'elevata precisione di posizionamento e risoluzione
• Sfrutta l'ampio campo visivo per ottenere una distanza relativamente ampia tra i due punti laser

Il DS1031A Hardware Crypto Training Target è una scheda di sviluppo basata su un core ARM Cortex-M4F con una velocità di clock di 168 MHz. È stata modificata fisicamente e programmata per fungere da target di formazione per attacchi di analisi dei canali laterali (SCA) e di iniezione di guasti (FI). Il codice sorgente e l'ambiente di sviluppo integrato (IDE) forniti con il target consentono di utilizzarlo anche per lo sviluppo e la prototipazione.

• Obiettivo di formazione impegnativo sia per gli attacchi SCA passivi come l'analisi differenziale della potenza (DPA) sia per gli attacchi FI attivi come l'analisi differenziale dei guasti (DFA)
• Modella accuratamente gli attuali dispositivi embedded a 32 bit; la crittografia HW è implementata in modo simile ai dispositivi attuali. 
• Comportamento stabile; resistente ai danni permanenti accidentali causati da FI
• Contromisure configurabili

Il laser multimodale DS1110A da 445 nm per l'iniezione di guasti utilizza diodi laser multimodali ad alta potenza, consentendo una scansione grossolana della superficie del chip con una dimensione dello spot ampia e un'intensità sufficiente all'interno dello spot.

• Laser blu con lunghezza d'onda di 445 nm
• Potenza impulso laser: 3 W
• Lunghezza dell'impulso configurabile fino a un minimo di 2 ns
• L'elevata frequenza degli impulsi consente attacchi di iniezione di guasti multi-impulso
• Il breve ritardo tra l'impulso di trigger e l'impulso luminoso effettivo, combinato con un jitter minimo, consente una sincronizzazione accurata degli impulsi laser.
• Ampia gamma di dimensioni dello spot: scegli tra una scansione grossolana o dettagliata della superficie del chip con obiettivi e riduttore delle dimensioni dello spot.
• Diodo laser a lunga durata con invecchiamento minimo
• Si integra con i prodotti Keysight DS1101A, DS1102A, DS1160A e DS1180A.

Il DS1104 si monta sul tavolino di precisione XYZ DS1010A. Funziona con sorgenti laser Keysight, laser a diodi Keysight, laser DPSS e laser di terze parti quando è disponibile un'interfaccia a coda di rondine e la lunghezza d'onda rientra nell'intervallo supportato. 

• Si monta su tavola XYZ di precisione DS1010A
• Attacchi frontali e posteriori 
• Supporto per sorgenti laser da 700 nm a 1100 nm, compreso il vicino infrarosso (NIR)
• Telecamera NIR, obiettivo 5X e riduttore di dimensione del punto inclusi

L'ago amplificatore di glitch consente di applicare il glitch direttamente sui pin di saldatura di un chip, senza dover interrompere l'alimentazione. Il posizionatore 3D opzionale può essere utilizzato per montare l'ago e posizionarlo sopra il bersaglio.

Il DS1322A è alimentato dall'amplificatore Glitch e può inserire glitch ad alta velocità su target incorporati senza dover utilizzare l'amplificatore Glitch come alimentatore per il target. Collegando l'uscita SMB dell'amplificatore Glitch all'ago dell'amplificatore Glitch, è possibile iniettare guasti posizionando l'ago sul pin VCC del target e collegando la clip di terra alla terra del target. L'ago dell'amplificatore di glitch è dotato di una punta a molla che ne facilita il posizionamento.

Le punte delle sonde di iniezione di guasti ad alta precisione sono in grado di fornire un glitch locale preciso utilizzando potenti impulsi elettromagnetici. La nostra tecnica di produzione esclusiva consente di ottenere punte ad alta precisione dotate di piccole bobine che generano un glitch locale che, con avvolgimenti multipli, fornisce comunque una potenza sufficiente per eseguire con successo i tentativi di iniezione di guasti. A causa delle bobine più piccole, la profondità di penetrazione delle nostre punte per sonda ad alta precisione per l'iniezione di guasti è inferiore rispetto alle punte per sonda più grandi, pertanto potrebbe essere necessario preparare o decapsulare il chip.

• Riduce l'area di impatto del difetto iniettato, rendendo più facile analizzare esattamente quale parte del chip è vulnerabile.
• Aumenta il tasso di successo dell'iniezione di guasti
• A causa dell'elevata potenza delle punte, non sempre è necessario decapsulare un chip.

L'iniezione di polarizzazione del corpo (BBI) è una tecnica relativamente nuova nell'ambito dell'iniezione di errori, che è stata adottata da diversi schemi di test di sicurezza. Estendendo la sonda di iniezione di errori unidirezionale DS1120A o DS1120B con gli aghi per sonda di iniezione di polarizzazione del corpo DS1320A, è possibile garantire che i propri chip siano resistenti a questa tecnica. Una sonda BBI inietta guasti in un'area molto piccola, consentendo di individuare le vulnerabilità di sicurezza in una posizione più specifica.

• Ottieni una copertura completa degli attacchi BBI in un pacchetto dedicato: forward (FBBI), reverse (RBBI) e ampio intervallo di tensione per scenari di attacco su tutti i chip.
• Include due sonde FBBI e due sonde RBBI ad alta e bassa tensione
• Prevenire graffi sul substrato con aghi azionati a molla
• Penetri substrati spessi con una potenza massima di 200 V.
• Collegamento semplice alla sonda di iniezione di guasti unidirezionale DS1120A o DS1120B tramite connettore SMA