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Le contromisure contro l'iniezione di errori stanno diventando sempre più sofisticate. Per aggirare alcune di queste contromisure, un valutatore di sicurezza deve essere in grado di generare più impulsi laser in punti diversi. Il DS1102A consente di generare due punti laser con posizione e temporizzazione indipendenti.

• Lavorare con diverse sorgenti laser
• Accelerare il processo di valutazione
• Eseguire attacchi a impulsi multipli con un laser DPSS
• Controlla la scansione automatizzata con Inspector e il posizionamento motorizzato di entrambi i punti laser
• Ottenere un'elevata precisione di posizionamento e risoluzione
• Sfrutta l'ampio campo visivo per ottenere una distanza relativamente ampia tra i due punti laser

Il laser a stato solido con iniezione di guasti pompato a diodi DS1114A da 1064 nm integra i laser a diodi e vanta caratteristiche di iniezione di guasti migliori rispetto ai sistemi di taglio laser.

• Laser NIR con lunghezza d'onda di 1064 nm
• Tempo di attivazione breve
• Facile controllo della potenza di uscita
• Breve durata dell'impulso (5 kW)
• Evita il degrado, garantendo la stessa resa nel tempo

La sonda elettromagnetica ad alta precisione, una sonda altamente sensibile utilizzata nell'analisi dei canali laterali, rileva le emissioni elettromagnetiche dai circuiti a semiconduttori. La sonda è dotata di un meccanismo che consente di sostituire tre diverse punte di diverse dimensioni: 0,2 mm, 0,5 mm e 1,25 mm. Tutte le punte sono dotate di una bobina diretta e di un guscio protettivo in teflon. Normalmente utilizzata in combinazione con una piattaforma di movimento XYZ, la sonda è in grado di rilevare campi elettromagnetici con frequenze fino a 6 GHz, convertendoli in un segnale CA.

Muovendosi sulla superficie di un bersaglio, il DS1203A è in grado di individuare circuiti altamente attivi, o hotspot. I segnali rilevati su un hotspot costituiscono le misurazioni per analisi elettromagnetiche semplici o differenziali. La sonda elettromagnetica ad alta precisione è dotata di un meccanismo di guadagno variabile, che può essere impostato manualmente o tramite un dispositivo esterno come Spider e può variare in base alle caratteristiche del bersaglio.

L'amplificatore di glitch da 1,5 A è progettato per rendere i test di iniezione di guasti applicabili a un'ampia gamma di target integrati. È possibile collegare facilmente l'amplificatore di glitch da 1,5 A allo Spider o al VC Glitcher per produrre glitch nitidi e precisi sul target e a un oscilloscopio per misurare e visualizzare i glitch generati.

Progettato per pilotare il pin di ingresso di un processore integrato, l'amplificatore glitch da 1,5 A ha un'impedenza di uscita praticamente pari a 0 Ω. Il DS1140A può funzionare con un'unica alimentazione compresa tra 0 e 4 volt (V). Questa tensione viene impostata in Inspector e controllata tramite Spider o VC Glitcher.

L'amplificatore di glitch da 1,5 A ha un fattore di amplificazione pari a due. Ad esempio, quando si imposta un livello di tensione continua di 2 V e una tensione di picco glitch di 3 V, i livelli di tensione tra lo Spider o il VC Glitcher e l'amplificatore glitch da 1,5 A sono rispettivamente 1 e 1,5 V. Di conseguenza, i livelli di tensione tra DS1140A e un processore integrato sono rispettivamente 2 e 3 V.

• Aumento del tasso di successo dei glitch grazie a glitch più nitidi
• Monitor integrato di corrente e potenza
• Amplifica i glitch prodotti dallo Spider o dal VC Glitcher fino a 1,5 A picco-picco
• Consente il glitching di dispositivi integrati quali FPGA e SOC
• Facile connessione al tuo obiettivo tramite uno dei tre connettori di uscita offerti da Glitch Amplifier II
• Facile da posizionare vicino al bersaglio
• Include amplificatore Glitch Needle
• Posizionatore 3D opzionale (per Glitch Amplifier Needle)
• Può essere utilizzato in combinazione con la piastra di base della stazione di sonda EM. L'amplificatore Glitch II si adatta perfettamente alla griglia della piastra di base.

La sonda di corrente attiva è una sonda ad alta frequenza che rileva attivamente le correnti elettriche. Utilizzata nell'analisi a canale laterale per misurare il consumo energetico di un dispositivo target, la sonda DS1202A, altamente sensibile, viene inserita nella linea di alimentazione del dispositivo target ed è in grado di rilevare variazioni di corrente fino a 2 GHz. La sonda di corrente attiva viene utilizzata in combinazione con un'unità base, che serve ad amplificare il segnale misurato.

• Banda di frequenza: 1 MHz–2.000 MHz
• Corrente continua massima 100 mA (RMS) CA
• Corrente di impulso massima 5 A
• Circuito di misurazione della corrente ≤ 0,082 Ω, ≤ 0,042 µH
• 40 dB di guadagno con l'unità base al massimo

Il laser multimodale DS1110A da 445 nm per l'iniezione di guasti utilizza diodi laser multimodali ad alta potenza, consentendo una scansione grossolana della superficie del chip con una dimensione dello spot ampia e un'intensità sufficiente all'interno dello spot.

• Laser blu con lunghezza d'onda di 445 nm
• Potenza impulso laser: 3 W
• Lunghezza dell'impulso configurabile fino a un minimo di 2 ns
• L'elevata frequenza degli impulsi consente attacchi di iniezione di guasti multi-impulso
• Il breve ritardo tra l'impulso di trigger e l'impulso luminoso effettivo, combinato con un jitter minimo, consente una sincronizzazione accurata degli impulsi laser.
• Ampia gamma di dimensioni dello spot: scegli tra una scansione grossolana o dettagliata della superficie del chip con obiettivi e riduttore delle dimensioni dello spot.
• Diodo laser a lunga durata con invecchiamento minimo
• Si integra con i prodotti Keysight DS1101A, DS1102A, DS1160A e DS1180A.

Il tavolino di precisione XYZ DS1010A è il tavolino XYZ predefinito per vari componenti hardware Keysight che richiedono un posizionamento accurato sopra il dispositivo in prova.

• Tre tavole di alta precisione con passo ridotto, gioco minimo e angolazione di imbardata ridotta
• Carrello in acciaio rettificato e passo della vite ad alta precisione
• Il telaio di base garantisce la massima flessibilità per il montaggio del dispositivo in prova, dalle piccole smart card ai grandi circuiti stampati di notevole spessore
• Il telaio mantiene le tavole XYZ in posizione fissa durante le operazioni di carico e le variazioni di temperatura

La protezione dei chip dagli attacchi di tipo "laser fault" rappresenta una delle principali sfide in materia di sicurezza nel settore delle smart card. Con il sistema laser per l'iniezione di guasti DS1101A è possibile eseguire attacchi laser avanzati conformi ai più elevati standard internazionali, al fine di verificare se una smart card è protetta contro gli attacchi laser. Il DS1101A offre una serie di nuove funzionalità che soddisfano le più recenti esigenze in termini di temporizzazione e potenza degli esperti di iniezione di guasti di tutto il mondo. La speciale serie di laser con ottiche dedicate e un controllo ultraveloce e flessibile crea la soluzione definitiva per i test di iniezione di guasti. La sua integrazione con il software Inspector garantisce inoltre che l'automazione e l'analisi siano coperte da moduli estendibili, flessibili e facili da usare.

• Supporta gli attacchi sia frontali che posteriori
• Integrazione con il software Inspector e i moduli di analisi dei guasti
• Telecamera con zoom per una navigazione agevole e asse Z automatizzato
• Glitching multiplo ad alta velocità e ridimensionamento digitale preciso con risposta rapida e prevedibile all'impulso di trigger
• Sono disponibili aggiornamenti per la navigazione multi-punto e a infrarossi
• Scansione automatica della superficie di un chip con tavola motorizzata XYZ integrata
• Ispezione tramite telecamera del punto laser e della sua posizione sull'area del chip
• Elevata precisione di ripetibilità sugli assi motorizzati
• SDK disponibile per l'integrazione in configurazioni personalizzate

Verifica la resistenza del tuo dispositivo agli attacchi basati sulla modifica del segnale di clock. Il "clock glitching" è una tecnica che consiste nel modificare temporaneamente i cicli di clock forniti a un dispositivo bersaglio, provocando una deviazione dal suo comportamento normale. Tale deviazione può portare a vulnerabilità e attacchi.

Il DS1150A Clock Glitcher funziona fornendo al dispositivo di destinazione sia il segnale di clock normale che quello modificato, consentendo di verificare se i dispositivi sono in grado di resistere agli attacchi che utilizzano segnali di clock modificati per comprometterne la sicurezza.

• Include due generatori di clock interni configurabili in modo indipendente
• Passare dall'orologio normale all'orologio glitch in base a un segnale di trigger
• Segnale di clock compreso tra 1 kHz e 300 MHz; livello di tensione compreso tra -1 V e +4 V
• L'orologio Glitch dispone di tre modalità di funzionamento: uscita digitale configurabile, uscita digitale casuale e uscita analogica casuale
• Il front-end analogico flessibile consente un facile collegamento con diversi tipi di dispositivi
• Il segnale di riferimento misura il segnale di clock generato
• Include un bersaglio a forma di piñata con il segnale dell'orologio visibile

La sonda elettromagnetica ad alta precisione, una sonda altamente sensibile utilizzata nell'analisi dei canali laterali, rileva le emissioni elettromagnetiche dai circuiti a semiconduttori. La sonda è dotata di un meccanismo che consente di sostituire tre diverse punte di diverse dimensioni: 0,2 mm, 0,5 mm e 1,25 mm. Tutte le punte sono dotate di una bobina diretta e di un guscio protettivo in teflon. Normalmente utilizzata in combinazione con una piattaforma di movimento XYZ, la sonda è in grado di rilevare campi elettromagnetici con frequenze fino a 6 GHz, convertendoli in un segnale CA.

Muovendosi sulla superficie di un bersaglio, il DS1203B è in grado di individuare circuiti altamente attivi, ovvero i cosiddetti "hotspot". I segnali rilevati su un hotspot costituiscono i dati di misura necessari per l'analisi elettromagnetica semplice o differenziale. La sonda elettromagnetica ad alta precisione è dotata di un meccanismo di guadagno variabile, che può essere regolato manualmente o tramite un dispositivo esterno e può essere adattato in base alle caratteristiche del bersaglio.

Ora include un'unità amplificatrice nuova e migliorata 

L'amplificatore di glitch da 1,5 A è progettato per rendere i vostri test di iniezione di errori applicabili a un'ampia gamma di sistemi embedded. È possibile collegare facilmente l'amplificatore di glitch da 1,5 A ai modelli DS1180A e DS1070A/71A per generare glitch nitidi e precisi sul sistema target, oppure a un oscilloscopio per misurare e visualizzare i glitch generati.

Progettato per pilotare il pin di ingresso di un processore integrato, l'amplificatore di glitch da 1,5 A presenta un'impedenza di uscita praticamente pari a 0 Ω. Il DS1140B può funzionare con un'alimentazione singola compresa tra 0 e 4 volt (V). Questa tensione viene impostata in Inspector e controllata tramite il DS1180A e il DS1070A/71A.

L'amplificatore di glitch da 1,5 A ha un fattore di amplificazione pari a due. Ad esempio, impostando un livello di tensione continua di 2 V e una tensione di picco di glitch di 3 V, i livelli di tensione tra il DS1180A e il DS1070A/71A e l'amplificatore di glitch da 1,5 A sono rispettivamente di 1 V e 1,5 V. Di conseguenza, i livelli di tensione tra il DS1140B e un processore integrato sono rispettivamente di 2 V e 3 V.

• Unità amplificatrice nuova e migliorata
• Aumento del tasso di successo dei glitch grazie a glitch più nitidi
• Monitor integrato di corrente e potenza
• Amplifica i picchi di corrente generati dai modelli DS1180A e DS1070A/71A fino a 1,5 A (picco-picco)
• Consente il glitching di dispositivi integrati quali FPGA e SOC
• Facile collegamento al dispositivo di destinazione tramite uno dei tre connettori di uscita di cui è dotato l'amplificatore Glitch
• Facile da posizionare vicino al bersaglio 
• Include amplificatore Glitch Needle
• Posizionatore 3D opzionale (per Glitch Amplifier Needle)
• Può essere utilizzato in combinazione con la piastra di base della stazione di sonda EM. L'amplificatore Glitch II si adatta perfettamente alla griglia della piastra di base.