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Rilevare con precisione i difetti più impercettibili nei collegamenti a filo
Scoprite una soluzione di test capacitivo non distruttivo che identifica con precisione i difetti nella microelettronica legata a filo.
Test types
Single Die Wire-Bonded Packages
System width
700 mm to 1,430 mm
Maximum parallel testing
4 to 20 sites
Scopri cosa è incluso ed esplora le opzioni di aggiornamento disponibili da Keysight.
Il tester strutturale elettrico Keysight è una soluzione di collaudo basata sulla tecnologia capacitiva, progettata per identificare con precisione i difetti dei collegamenti a filo. Sfruttando l'avanzata analisi PAT (Part Average Test), il tester stabilisce una linea di riferimento basata su unità di comprovata funzionalità per rilevare rapidamente anomalie quali quasi-cortocircuiti, fili vaganti, deviazioni dei fili e cedimenti all'interno dei circuiti integrati (IC). Questa funzionalità garantisce una solida gestione della qualità del prodotto e migliora significativamente l'efficienza produttiva. Il tester strutturale elettrico consente di:
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