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- Soluzioni
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LINGUA
Soluzioni di test parametrici Sistemi di test a livello di wafer per la convalida parametrica
Modello: NX5730A
prev
- Panoramica
- Opzioni
- Accessori
- Software
- Supporto
Soluzione di test della memoria IV pulsata ad alta velocità di elaborazione da 1 ns
La soluzione di test con memoria IV pulsata da 1 ns ad alta velocità Keysight NX5730A è progettata per eseguire misurazioni IV pulsate ad alta velocità e misurazioni DC precise.
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Maximum number of measurement pins
2
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Minimum current measurement resolution
1 pA
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Minimum voltage measurement resolution
N/A
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Additional features
N/A
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Scopri cosa è incluso ed esplora le opzioni di aggiornamento disponibili da Keysight.
Punti salienti
- Caratterizzazione precisa e veloce di nuove memorie, come la memoria ad accesso casuale magnetoresistiva con coppia di trasferimento di spin (STT-MRAM), dal test CC al test IV pulsato ad alta velocità su wafer di silicio.
- Applicare tensioni pulsate accurate e ad alta velocità (fino a 1 ns di impulso) alla giunzione a tunnel magnetico (MTJ) per STT-MRAM e misurare con precisione la resistenza della MTJ.
- Eseguire tutti i test tipici di caratterizzazione MTJ in un'unica soluzione di test della memoria
- Test di ciclo da 10 a 100 volte più veloce, come il test del tasso di errore binario (BERT)
- Acquisizione e visualizzazione chiara delle forme d'onda di commutazione MTJ durante l'impulso di scrittura
- Soluzione dedicata per il test della memoria IV da 1 ns con competenza tecnica Keysight
Cosa è incluso:
- Armadio di sistema
- Unità driver PIV
- Unità ricevente PIV
Servizi e assistenza
Innova rapidamente grazie a piani di assistenza personalizzati e tempi di risposta e risoluzione prioritari.
Ottieni abbonamenti prevedibili basati su leasing e soluzioni complete per la gestione dell'intero ciclo di vita, in modo da raggiungere più rapidamente i tuoi obiettivi aziendali.
Beneficia di un servizio di alto livello come abbonato KeysightCare per ottenere assistenza tecnica dedicata e molto altro ancora.
Assicurati che il tuo sistema di test funzioni secondo le specifiche e soddisfi gli standard locali e globali.
Effettua misurazioni rapidamente grazie alla formazione interna con istruttore e all'e-learning.
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