-
Analyseurs de paramètres
Systèmes tout-en-un pour la caractérisation des dispositifs
-
Analyseurs courant-tension
Systèmes de mesure IV pour la caractérisation des dispositifs
-
Solutions pour les tests paramétriques
Systèmes de test au niveau de la plaquette pour la validation paramétrique
-
Analyseur de dispositifs de puissance / Traceur de courbes
Essais haute puissance pour dispositifs Si, SiC et GaN
-
Femto / Picoamètres et électromètres
Instruments de mesure de courant ultra-faible et de résistance élevée
-
Architecture universelle de traitement du signal
Plateforme de prototypage en temps réel pour le développement de silicium
-
Matrice de commutation à faible fuite
Commutation à haute isolation pour acheminement de courant ultra-faible
Analyseurs de paramètres
Les analyseurs de paramètres Keysight offrent une caractérisation complète des dispositifs à semi-conducteurs dans une plateforme unique et intégrée. Combinant des tests de courant-tension (IV) et de capacité-tension (CV) de précision, des mesures pulsées et des tests de fiabilité, ces systèmes modulaires prennent en charge une large gamme de dispositifs, des matériaux avancés aux composants haute puissance. Grâce à leur précision de mesure inégalée, leurs options de configuration flexibles et leur contrôle logiciel intuitif, les analyseurs de paramètres Keysight contribuent à accélérer la recherche, le développement et la qualification des dispositifs. Besoin d'aide pour faire votre choix ? Consultez les ressources ci-dessous.
Analyseurs courant-tension
Les analyseurs courant-tension Keysight offrent des capacités de mesure et d'alimentation précises et à faible bruit, essentielles pour la caractérisation des dispositifs à semi-conducteurs et la recherche sur les matériaux. Conçus pour gérer une large gamme de niveaux de courant et de tension, des courants femtoampères aux balayages haute tension, ces analyseurs fournissent des mesures précises et reproductibles dans diverses applications. Grâce à leurs configurations multicanaux flexibles et à leur contrôle logiciel intuitif, les analyseurs IV de Keysight contribuent à accélérer le développement des dispositifs, les tests de fiabilité et l'optimisation des processus. Besoin d' aide pour choisir ? Consultez les ressources ci-dessous.
Solutions pour les tests paramétriques
Les solutions de test paramétrique Keysight combinent des instruments de mesure haute performance et une automatisation flexible pour accélérer l'évaluation des dispositifs semi-conducteurs, du développement initial à la production en série. Offrant des tests précis de courant-tension (IV), de capacité-tension (CV) et de fiabilité, ces systèmes évolutifs permettent d'optimiser les performances des dispositifs, de surveiller la variabilité des processus et de garantir une fiabilité à long terme. Conçues pour s'intégrer de manière transparente aux testeurs de plaquettes et aux environnements de production, les solutions paramétriques Keysight offrent la précision, la vitesse et l'efficacité nécessaires aux technologies avancées actuelles dans le domaine des semi-conducteurs. Vous avez besoin d'aide pour faire votre choix ? Consultez les ressources ci-dessous.
Analyseur de dispositifs de puissance / Traceur de courbes
Les analyseurs de dispositifs de puissance / traceurs de courbes Keysight sont des solutions spécialement conçues pour évaluer et caractériser les dispositifs semi-conducteurs haute tension et haute intensité. Combinant une alimentation précise, des mesures rapides et une analyse complète, ces systèmes prennent en charge les tests critiques pour les transistors de puissance, les diodes, les IGBT et les dispositifs à large bande interdite tels que le SiC et le GaN. Avec des plages de tension et de courant évolutives, des fonctions de sécurité intégrées et un logiciel intuitif, les solutions Keysight permettent d'accélérer le développement, d'améliorer la fiabilité des dispositifs et de rationaliser les tests de production. Vous avez besoin d'aide pour faire votre choix ? Consultez les ressources ci-dessous.
Femto / Picoamètres et électromètres
Les femto/picoampèremètres et électromètres Keysight offrent une sensibilité inégalée pour mesurer les courants extrêmement faibles, les résistances élevées et les tensions basses dans les matériaux avancés et les dispositifs à semi-conducteurs. Avec des capacités de mesure allant jusqu'à 0,01 fA et une analyse graphique intégrée, ces instruments offrent des performances précises, stables et résistantes au bruit pour les applications exigeantes telles que les tests de courant de fuite, la résistance d'isolement et la caractérisation de courants ultra-faibles. Conçus pour une utilisation en laboratoire et pour l'intégration dans des systèmes, les électromètres de précision Keysight contribuent à accélérer la recherche, le développement de dispositifs et l'assurance qualité. Vous avez besoin d'aide pour faire votre choix ? Consultez les ressources ci-dessous.
Architecture universelle de traitement du signal
L'architecture universelle de traitement du signal (USPA) de Keysight offre un environnement temps réel haute performance, modulaire et entièrement programmable pour le prototypage et la validation ultra-rapides d'applications spécifiques. Basée sur les convertisseurs de données ADC3 et DAC3 leaders du secteur et sur le traitement numérique du signal basé sur FPGA, la plate-forme USPA permet aux ingénieurs d'itérer et de vérifier rapidement leurs conceptions, réduisant ainsi les risques, le temps de développement et les coûts. Elle prend en charge des applications allant du prototypage SoC/ASIC à la 6G, en passant par les communications optiques, les radars et la recherche physique avancée. Besoin d'aide pour faire votre choix ? Consultez les ressources ci-dessous.
Matrice de commutation à faible fuite
Les matrices de commutation à faible fuite Keysight sont conçues pour les tests automatisés de semi-conducteurs qui exigent des mesures de courant ultra-faibles et des performances d'isolation élevées. Conçues pour maintenir l'intégrité du signal à des niveaux de l'ordre du femtoampère, ces matrices de commutation permettent une commutation transparente entre plusieurs appareils ou nœuds de test sans compromettre la précision des mesures. Grâce à leurs configurations flexibles, leurs formats compacts et leur intégration facile avec les analyseurs Keysight, elles sont idéales pour les tests paramétriques, les études de fiabilité et la caractérisation au niveau des plaquettes. Vous avez besoin d'aide pour faire votre choix ? Consultez les ressources ci-dessous.
Découvrez les essais à double impulsion haute tension
La validation des dispositifs de puissance de nouvelle génération nécessite des outils offrant une commutation rapide, un timing précis et une sécurité robuste dans des conditions extrêmes. L'analyseur/tracer de courbes pour dispositifs de puissance Keysight est spécialement conçu pour la caractérisation dynamique des transistors SiC et GaN, permettant une mesure précise des pertes de commutation, de la résistance dynamique à l'état passant et des effets parasites. Grâce à son contrôle entièrement intégré, ses fonctions de protection intégrées et ses capacités haute tension, il aide les ingénieurs à reproduire les conditions de stress réelles et à accélérer le développement des convertisseurs de puissance, de manière sûre et fiable.
Trouvez des logiciels et accessoires compatibles avec votre solution de test de semi-conducteurs
Choisissez parmi une large gamme de logiciels de test, de contrôle et spécifiques à certaines applications, ou d'accessoires tels que des câbles à faible fuite, des connecteurs triaxiaux, des prolongateurs de commutateurs blindés, des interfaces de sondes pour plaquettes, etc.
Explorer les cas d'utilisation des semi-conducteurs
Les solutions semi-conductrices prennent en charge un large éventail d'applications dans divers secteurs. Découvrez-les toutes.
Semi-conducteurs
Caractérisation des semi-conducteurs WBG à l'aide d'un test à double impulsion.
Semi-conducteurs
Caractérisation des modules de puissance à semi-conducteurs WBG à l'aide d'une technologie de sonde à isolation d'impulsion réelle.
Semi-conducteurs
Caractérisation des circuits intégrés à faible consommation à l'aide d'une unité de mesure de source.
Semi-conducteurs
Évaluation des caractéristiques des LED IV à l'aide d'une unité source/mesure.
Semi-conducteurs
Élimination des éléments sources d'erreurs lors des mesures de résistance.
Services et assistance
Innovez rapidement grâce à des plans d'assistance personnalisés et à des délais de réponse et d'exécution prioritaires.
Bénéficiez d'abonnements prévisibles basés sur un contrat de location et de solutions de gestion du cycle de vie complet afin d'atteindre plus rapidement vos objectifs commerciaux.
Bénéficiez d'un service haut de gamme en tant qu'abonné KeysightCare pour obtenir une assistance technique dédiée et bien plus encore.
Assurez-vous que votre système de test fonctionne conformément aux spécifications et respecte les normes locales et internationales.
Effectuez rapidement des mesures grâce à des formations internes dispensées par des instructeurs et à l'apprentissage en ligne.
Téléchargez le logiciel Keysight ou mettez à jour votre logiciel vers la dernière version.
Questions fréquemment posées
Les tests sur les semi-conducteurs couvrent un large éventail de dispositifs, chacun ayant ses propres exigences. Cela inclut les composants de base tels que les transistors (par exemple, les transistors à effet de champ à oxyde métallique et semi-conducteur (MOSFET) et les transistors bipolaires à grille isolée (IGBT)), ainsi que les diodes, les redresseurs et les dispositifs de puissance utilisés dans la conversion d'énergie. Les circuits intégrés (CI), y compris les variantes analogiques et numériques, nécessitent également une caractérisation électrique précise afin de garantir leurs performances et leur fiabilité. De plus, les capteurs (tels que les capteurs de température, de pression et optiques) requièrent des configurations de test spécialisées en raison de leur sensibilité et de leurs exigences spécifiques à chaque application.
Avec l'essor des matériaux avancés, les semi-conducteurs à large bande interdite tels que le carbure de silicium (SiC) et le nitrure de gallium (GaN) ont pris une importance croissante dans les applications à haute puissance et haute fréquence, nécessitant des approches de test plus sophistiquées. Chacune de ces catégories de dispositifs présente des comportements électriques et physiques uniques. Par exemple, des courants de fuite de l'ordre du nanoampère ou du picoampère, des variations de capacité en fonction de la tension ou des caractéristiques de claquage à haute tension. Des solutions de test et de mesure spécialisées sont donc essentielles pour capturer avec précision le comportement courant-tension (I-V), la capacité, les fuites, la dynamique de commutation et la fiabilité dans un large éventail de conditions environnementales et opérationnelles.
De nombreux dispositifs à semi-conducteurs, en particulier ceux utilisés dans les applications à faible puissance, de précision ou de nouvelle génération, fonctionnent à des niveaux de courant extrêmement faibles, parfois de l'ordre du femtoampère (fA) ou du picoampère (pA). À de telles échelles, même des traces de courant de fuite ou des interférences électriques parasites provenant du système de test lui-même peuvent fausser les résultats, conduisant à une caractérisation inexacte. Les matrices de commutation à faible fuite sont conçues pour minimiser les courants indésirables qui pourraient masquer le comportement réel du dispositif testé, tandis que les chemins de mesure à haute isolation empêchent la diaphonie ou le couplage de bruit entre les signaux. Ces caractéristiques sont particulièrement importantes pour caractériser des dispositifs sensibles tels que les capteurs, pour tester des matériaux avancés à large bande interdite (SiC, GaN) ou pour effectuer des tests de fiabilité et de résistance à long terme où des mesures stables et reproductibles sont essentielles. Sans performances de faible fuite et d'isolation élevée, les ingénieurs risquent de tirer des conclusions erronées sur les propriétés des dispositifs, ce qui pourrait avoir un impact sur la qualité de la conception, la sécurité et la conformité aux normes d'application.
La caractérisation des dispositifs à semi-conducteurs implique généralement toute une série de techniques de mesure complémentaires, chacune ciblant des paramètres électriques ou physiques spécifiques. Les mesures courant-tension (I-V) constituent la base et fournissent des informations sur la conduction, les tensions de seuil, le comportement de fuite et les caractéristiques de claquage sur une large plage de tensions. Les mesures de capacité-tension (C-V) sont tout aussi importantes, car elles fournissent des données sur les profils de concentration de dopage, la qualité de l'oxyde et les propriétés de jonction. Les mesures pulsées sont souvent utilisées pour les dispositifs à haute puissance ou sensibles à la chaleur, car elles délivrent de courtes impulsions d'énergie afin d'éviter la dégradation du dispositif tout en capturant son comportement dynamique.
Des techniques de test de fiabilité, telles que l'évaluation de la durée de vie en température élevée (HTOL), les cycles thermiques et l'instabilité de température de polarisation (BTI), sont utilisées pour simuler un fonctionnement à long terme et identifier les mécanismes potentiels de dégradation des performances. Dans certains cas, des méthodes avancées telles que l'analyse de la réponse transitoire, la rupture diélectrique dépendante du temps (TDDB) ou la caractérisation des radiofréquences (RF) sont également nécessaires, en fonction de l'application cible. Ensemble, ces techniques permettent de comprendre de manière exhaustive les performances, la robustesse et l'adéquation d'un semi-conducteur pour son déploiement.
L'automatisation est la pierre angulaire des tests modernes sur les semi-conducteurs, en particulier dans les environnements de fabrication à grand volume ou les laboratoires de recherche qui traitent la caractérisation complexe de plusieurs appareils. En tirant parti des stations de test automatisées, des manipulateurs robotisés et des séquences de test pilotées par logiciel, les organisations peuvent augmenter considérablement leur débit, réduire les erreurs des opérateurs et garantir une répétabilité constante des mesures sur de grands ensembles de données.
L'automatisation prend également en charge des fonctionnalités avancées telles que le test de puces sans surveillance, qui permet de tester des centaines ou des milliers de dispositifs pendant la nuit, ainsi que le test automatisé par lots pour les dispositifs emballés. Dans le cadre des tests de fiabilité, l'automatisation permet une surveillance continue et à long terme des contraintes sans intervention humaine, garantissant ainsi une détection précoce des dérives de performances. De plus, les systèmes automatisés facilitent l'intégration et l'analyse des données, permettant aux ingénieurs d'identifier rapidement les tendances, d'améliorer les modèles de dispositifs et d'accélérer les cycles de développement des produits. En bref, l'automatisation améliore non seulement l'efficacité et la productivité, mais garantit également le contrôle de la qualité et la conformité à des normes industrielles rigoureuses à grande échelle.
L'industrie des semi-conducteurs se caractérise par une innovation rapide, stimulée par les nouveaux matériaux, les architectures de dispositifs avancées et les nouvelles exigences en matière d'applications. Pour rester efficaces, les systèmes de test doivent être à la fois flexibles et évolutifs. Les plateformes modulaires permettent aux ingénieurs d'étendre la capacité de commutation, d'ajouter de nouveaux modules de mesure ou d'intégrer de nouvelles méthodologies de test sans avoir à remplacer complètement le système.
Par exemple, à mesure que les semi-conducteurs à large bande interdite tels que le carbure de silicium (SiC) et le nitrure de gallium (GaN) se généralisent dans les véhicules électriques et les systèmes d'énergie renouvelable, les systèmes de test doivent intégrer des capacités permettant de gérer des tensions plus élevées, des commutations plus rapides et des conditions thermiques plus exigeantes. De même, pour les appareils de communication et informatiques de nouvelle génération, l'analyse transitoire à grande vitesse et les tests radiofréquence (RF) sont de plus en plus essentiels.
L'adaptabilité s'étend également aux logiciels. Les systèmes de test modernes doivent prendre en charge les normes, les formats de données et les cadres d'automatisation en constante évolution afin de garantir une intégration fluide dans les workflows de développement. En conservant leur évolutivité et leur capacité de mise à niveau, les systèmes de test de semi-conducteurs préservent la valeur de l'investissement tout en suivant le rythme de l'évolution continue des appareils et des applications.