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x1149 Boundary Scan Analyzer (analyseur à balayage frontal)

Le nouvel analyseur Boundary Scan x1149 est un outil destiné aux tests structurels électriques doté d'une puissante fonction Boundary Scan de JTAG Technologies, basé sur les normes IEEE 1149.x.

image_produit

  • Tap IO ports

    4

  • Remote test configurability

    Yes

  • CET ports

    1

  • System width

    120 mm

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Prêt pour un devis

Découvrez ce qui est inclus et explorez les options de mise à niveau disponibles auprès de Keysight.

Points forts

Outil de test de carte polyvalent et facile à utiliser

Le x1149 est un outil permettant aux ingénieurs d'effectuer des tests structurels, tels que des tests d'ouverture et de court-circuit, sur leurs PCBA. Il effectue également la programmation en système pour des dispositifs tels que les matrices de portes programmables sur le terrain (FPGA) et les dispositifs logiques programmables complexes (CPLD).

De plus, le x1149 programme les dispositifs PROM (mémoire morte programmable) et exécute des tests de vérification de la mémoire sur des dispositifs tels que la mémoire DDR SDRAM (mémoire vive dynamique synchrone à double débit). Cela vous permet de programmer et de reprogrammer ces dispositifs, offrant ainsi une plus grande flexibilité et un meilleur contrôle pendant le développement. Grâce à ses capacités de test avancées et à son logiciel convivial, le Keysight x1149 est la solution idéale pour tous vos besoins en matière de test de cartes de circuits imprimés.

x1149 2.1 Caractéristiques

  • Normes IEEE
    • 1149.1-2013 (Nouveau)
    • 1149.6-2015 (Nouveau)
    • 1149.1-2001
    • 1149.6-2003
    • 1687-2014
  • Test personnalisé avec Insert Source Language (ISL) 2.0
  • Prise en charge d'Autobank et de Scan Path Linker
  • Nouvelle extension BSDL pour les normes 1149.1 et 1149.6-2015
  • Plus grande flexibilité et prise en charge des paquets IP et des fonctionnalités programmables dans les normes 1149.1 et 1149.6

Développement des tests

  • Optimisez la couverture des tests sur les connecteurs et les circuits intégrés sans balayage des limites.
  • Excellents outils de débogage
  • Rapports exploitables sur les défaillances au niveau des broches
  • Programmation dans le système

Applications

  • Excellente couverture de test pour les clients Netcom, Server Products et Automotive
  • Solution IEEE 1687 pour les tests de cartes et les tests d'instrumentation embarquée
  • Configuration automatisée des liens de chemin d'analyse

Services et assistance