PXIe

Ahorra valioso espacio en el rack

Capacidades de banco de pruebas con rápido rendimiento de datos en un módulo compacto y de alta densidad.

PXIe

Sistemas modulares AXIe

Sistemas modulares AXIe, incluyendo chasis y módulos de medición.

Alta densidad de canales y alto rendimiento para sistemas de adquisición de datos escalables.

Sistemas modulares AXIe

Ordenadores centrales

Las soluciones de mainframe de alta densidad permiten una escalabilidad flexible y la personalización del rendimiento según las necesidades de sus aplicaciones.

Ordenadores centrales

Módulos

Combine módulos con diferentes niveles de rendimiento y capacidades para adaptar las soluciones a sus necesidades.

Módulos

Sistemas modulares

Sistemas modulares, incluyendo tarjetas, chasis y módulos de medición.

Conjunto de diversos componentes modulares ensamblados, por ejemplo, tarjetas PXI/AXI, chasis, ordenadores centrales, etc.

Sistemas modulares

Red modular XGS

Sistema modular de pruebas de red y seguridad

Chasis de alta densidad de puertos para módulos de carga de pruebas de red y seguridad de Keysight con alimentación y refrigeración eficientes.

Red modular XGS

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Imagen del  módulo generador de reloj
Módulo generador de reloj
Modelo
M8008A

Fuente de reloj Módulos AWG M8199A y M8199B.

Imagen del generador de formas de onda arbitrarias de 256 GSa/s
Generador de formas de onda arbitrarias de 256 GSa/s
Modelo
M8199B

El generador de formas de onda arbitrarias (AWG) M8199B ofrece una fuente de señales arbitrarias de alto rendimiento, lo que permite el desarrollo de diseños a 160 GBaud y superiores.

Imagen del generador de formas de onda arbitrarias
Generador de forma de onda arbitraria
Modelo
M8199A

El generador de formas de onda arbitrarias (AWG) M8199A proporciona una fuente de señal de alto rendimiento para señales arbitrarias, lo que permite desarrollar diseños de hasta 128 GSa/s.

Imagen del generador de formas de onda arbitrarias: 128 GSa/s, memoria de 2 GSa.
Generador de formas de onda arbitrarias: 128 GSa/s, memoria de 2 GSa
Modelo
M8198A

El generador de formas de onda arbitrarias M8198A ofrece la visión más realista de sus formas de onda para todas sus necesidades de aplicación, con memoria profunda y amplios esquemas de ancho de banda.

Imagen del generador de patrones para M8040A
Generador de patrones para M8040A
Modelo
M8045A

El M8040A de Keysight Technologies Inc. es un BERT altamente integrado para la caracterización de la capa física y las pruebas de conformidad.

Imagen del  módulo de sincronización multicanal
Módulo de sincronización multicanal
Modelo
M8192A

Módulo de sincronización M8192A para hasta 6 unidades generadoras de formas de onda arbitrarias M8190A.

Imagen del generador de patrones para M8050A
Generador de patrones para M8050A
Modelo
M8042A

El BERT M8050A de Keysight permite el éxito en la implementación de chips de 800G/1,6T, PCIe, USB4 y otras tecnologías punteras.

Imagen del generador de patrones para M8020A
Generador de patrones para M8020A
Modelo
M8041A

El J-BERT M8020A de Keysight Technologies, de alto rendimiento, permite una caracterización rápida y precisa de los receptores de dispositivos de uno o varios carriles que funcionan a velocidades de hasta 16 o 32 Gb/s.

Imagen del chasis AXIe de 2 ranuras
Chasis AXIe de 2 ranuras
Modelo
M9502A

Chasis AXIe de 2 ranuras M9502A para aplicaciones transportables. Incluye módulo de sistema integrado y enlace Gen 2, x8 a controlador externo.

Imagen del chasis AXIe de 5 ranuras
Chasis AXIe de 5 ranuras
Modelo
M9505A

Chasis AXIe de 5 ranuras M9505A con módulo de sistema integrado y enlace Gen 2, x8 a controlador externo. Es totalmente compatible con la especificación AXIe 1.0.

Imagen del chasis AXIe de alto rendimiento con 5 ranuras
Chasis AXIe de alto rendimiento con 5 ranuras
Modelo
M9506A

Chasis AXIe de 5 ranuras con módulo de sistema integrado, rendimiento Gen 3, 300 W por ranura y opción de GPS.

Imagen de los paneles del canal ISI
Tarjetas de canal ISI
Modelo
M8067A

Las tarjetas de canal ISI M8067A ofrecen una selección de doce trazas para emular la pérdida de canal para pruebas de receptores digitales de máxima velocidad con velocidades de símbolo de hasta 64 y 120 GBd.

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