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Detecta, localiza y mitiga las fugas por canales laterales antes del «tape-out». El análisis de canales laterales pre-silicio Inspector SC2 permite a los equipos de seguridad, diseño y verificación de hardware identificar vulnerabilidades de canales laterales durante la fase de diseño y desarrollo, antes de la fabricación del silicio (pre-silicio). Mientras que las pruebas tradicionales posteriores a la fabricación pueden determinar si existe una fuga en un dispositivo fabricado, el análisis de canales laterales pre-silicio de Inspector SC2 ofrece visibilidad sobre el origen de la fuga dentro del diseño, lo que ayuda a los equipos a identificar la causa raíz y a evaluar estrategias de mitigación en una fase más temprana del ciclo de vida del desarrollo. Mediante el análisis de diseños a nivel de transferencia de registros (RTL), de la lista de redes sintetizada y a nivel de puerta, utilizando vectores de prueba y datos de actividad del diseño, el análisis de canales laterales pre-silicio de Inspector SC2 identifica qué señales presentan fugas, en qué medida se producen, cuándo ocurren y dónde se originan dentro del diseño. Esta visibilidad permite a los equipos validar las contramedidas, comparar alternativas de diseño y reducir el coste y el riesgo de descubrir vulnerabilidades tras la fabricación.
Key Features
Pre-silicon security evaluation; Integration with existing EDA workflows; Early vulnerability detection; Design-to-security feedback; Proven inspector methodologies; Reduced redesign risk; Secure-by-design development
Applications
Pre-silicon side-channel analysis, Leakage assessment, Semiconductor security evaluation, Secure chip design, Security validation, Certification preparation
License types
Perpetual, Subscription
Functionality
EDA integration, Simulation analysis, Leakage assessment, Root cause analysis, RTL analysis, Netlist analysis, Place-and-route analysis, Security verification
License options
Floating license, USB-based portable license
Descubra qué incluye y explore las opciones de actualización disponibles de Keysight.
El análisis de canales laterales previos a la fabricación de silicio de Inspector SC2 ayuda a los equipos de semiconductores a detectar y localizar fugas por canales laterales antes de la salida a producción, momento en el que los cambios en el diseño son más rápidos, menos costosos y más fáciles de implementar.
Mediante el uso de vectores de prueba, archivos de actividad VCD y modelos de potencia opcionales generados a través de flujos de trabajo existentes de automatización del diseño electrónico (EDA), Inspector analiza diseños RTL, listas de redes sintetizadas y diseños a nivel de puerta para identificar fugas, medir su gravedad y localizar con precisión las señales y los módulos responsables. Al proporcionar un análisis de causas raíz que permite actuar, los equipos pueden validar las contramedidas, comparar opciones de implementación y comparar las fugas entre los diseños RTL, de lista de redes sintetizada y a nivel de puerta para identificar los cambios introducidos durante el flujo de diseño.
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