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IDIOMA
Pruebas de seguridad de tarjetas inteligentes Inyección de fallos
Modelo: DS1160A
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Generador de interferencias de tensión y reloj para tarjetas inteligentes
Gracias a la tecnología FPGA ultrarrápida, el generador de fallos de tensión y reloj para tarjetas inteligentes DS1160A puede generar fallos de 2 ns mediante un hardware totalmente programable.
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Maximum voltage
8.5 V
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Technology
Device Security
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Input voltage range
-7.4 V to +4.2 V
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Product type
Smartcard voltage and clock glitcher
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Destacados
Gracias a la tecnología FPGA ultrarrápida, el generador de fallos de tensión y reloj para tarjetas inteligentes DS1160A puede generar fallos de 2 ns con un patrón y una lógica de control totalmente programables. El DS1160A cuenta con circuitos integrados para generar fallos de tensión y reloj, así como un canal de salida para controlar los pulsos ópticos en el sistema láser de inyección de fallos DS1101A.
- Genera fallos muy breves mediante la tecnología FPGA en el generador de patrones digitales integrado para realizar pruebas de gran potencia
- Crea fácilmente cualquier escenario de prueba con el conjunto de instrucciones de perturbación
- Reproducir pruebas con un registro preciso del comportamiento de la tarjeta inteligente
- Reducir el tiempo de pruebas mediante la ejecución automatizada de pruebas con un amplio conjunto de parámetros de perturbación
- Se integra a la perfección con el generador de señales de activación basado en patrones DS1002A y el sistema láser de inyección de fallos DS1101A
- Evita que la tarjeta sufra daños con un limitador de corriente ajustable
- Consigue un alto nivel de fiabilidad mediante pruebas de perturbación exhaustivas y sistemáticas. No es necesario desmontar el chip.
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