Simulador de amenazas de radar por ángulo de llegada

Aprende a crear un simulador de amenazas de radar con un ángulo de llegada preciso. Abordamos tres temas clave: el problema, la solución y los resultados y beneficios.

Prueba de un cargador de baterías mediante una aplicación de adquisición de datos (DAQ) por USB

El dispositivo DAQ USB de Keysight te ayuda a medir de forma fácil y eficaz múltiples parámetros de prueba de los cargadores de baterías y prolonga la vida útil de estos.

Simulación de baterías de automóvil con fuentes de alimentación de corriente continua (6690A)

La fuente de alimentación de corriente continua de la serie 6690A es ideal para simular el comportamiento de la batería de un automóvil en todas las condiciones de carga y soporta picos de tensión. ¡Más información!

Simulación de señales con la máxima integridad

Descubre cómo los generadores de formas de onda Trueform te permiten simular con precisión tus señales sin las desventajas de la síntesis digital directa (DDS).

Nueva tecnología de sonda: amplio rango dinámico y alta sensibilidad

Las sondas de corriente N2820A/21A permiten a los ingenieros que realizan pruebas en productos alimentados por batería obtener tanto una visión detallada como una visión global de las formas de onda de corriente dinámicas.

Medición de la impedancia de CA de una pila de combustible

Descubre las seis características clave de las cargas electrónicas que permiten realizar mediciones precisas de la impedancia de CA. Encuentra más consejos sobre las mediciones de la impedancia de CA en pilas de combustible.

Configuración automatizada de los enlazadores de rutas de escaneo mediante x1149

Descubre cómo el enlazador automático de rutas de escaneo del analizador de escaneo de límites x1149 de Keysight ayuda a simplificar la implementación del escaneo de límites y la gestión de la cadena de escaneo de límites.

Cómo generar una forma de onda con muchos puntos de forma de onda

Descubre cómo los generadores de formas de onda Trueform permiten generar formas de onda largas o complejas gracias a una serie de características exclusivas que no se encuentran en otras soluciones comerciales.

Medición del ruido de frecuencia baja en dispositivos de 5 o 6 terminales con el E4727B

El analizador Advanced de ruido Advanced E4727B permite realizar mediciones rápidas, precisas y repetibles del ruido de baja frecuencia (LFN) en numerosos tipos de dispositivos. Ahora, gracias a la estrecha integración con el software WaferPro Express de Keysight, los ingenieros especializados en modelización y caracterización de dispositivos pueden añadir las mediciones de ruido a un conjunto más amplio que incluye mediciones de CC de alta velocidad, de capacitancia y de parámetros S de RF, todo ello mientras se automatiza el control del probador de obleas.

Modelo de detección de anomalías PMA: Algo más que algoritmos ML estándar

La plataforma de análisis de grandes volúmenes de datos Smart Factory recopiló cantidades masivas de datos de pruebas y mediciones para obtener información procesable sobre el producto. Una de estas percepciones serían las anomalías en las pruebas y mediciones, que podrían predecir un deterioro de la calidad del producto debido a piezas, procesos o personas. Y es posible que la industria no sea consciente de los graves problemas que plantea la "fatiga por alerta". En este artículo, destacaremos el resultado deseado y el rendimiento de nuestro algoritmo de detección de anomalías y modelo de aprendizaje automático de puntuación de alertas que clasifica, categoriza y filtra automáticamente las alertas de anomalías según la gravedad de una posible incidencia en la calidad.

Medición rápida y precisa de los componentes de BTS

El artículo del catálogo de Keysight ATP se ha convertido en un resumen de aplicación y se ha publicado como contenido de acceso restringido en www.keysight.com/find/apparticles, como parte del cumplimiento de los correos electrónicos de marketing de ATP.

Formatos de instrumentos de sobremesa y modulares: elige con cuidado

Elegir el formato de un equipo puede resultar complicado. Desde instrumentos de sobremesa hasta instrumentos modulares, no hay una solución única que se adapte a todos los casos. ¡Descubre las ventajas de cada uno!

Soluciones para el diseño y las pruebas de la capa física de LTE-Advanced

Esta nota de aplicación titulada «Soluciones para el diseño y las pruebas de la capa física de LTE-Advanced » ofrece una visión general de la agregación de portadoras, junto con algunos de los retos de diseño y pruebas asociados.

Migración del software del sistema de GPIB a LAN / LXI

Esta es la sexta nota de aplicación de una serie diseñada para gestionar la migración del software del sistema de GPIB a LAN/LXI, lo que supondrá una mejora neta en el rendimiento del sistema.

Modificación de las opciones de conectividad de un instrumento en el sistema de pruebas

Descubre cómo puedes utilizar o modificar fácilmente las opciones de conectividad con los protocolos VXI-11 y USBTMC en nuestros instrumentos sin tener que preocuparte por cambios en el código de prueba.

Optimización de las mediciones CCDF de estadísticas de potencia para analizadores de señales de la serie X

Los modernos esquemas de modulación digital han mejorado considerablemente la eficiencia espectral, lo cual resulta fundamental cuando se trabaja en un espectro de frecuencias finito.

La transición de los productos de sobremesa a los modulares

Descubre cómo una plataforma de software común puede facilitar la transferencia eficaz de metodologías de ensayo desde equipos de sobremesa a productos modulares.

Solución "todo en uno" para la medición de ruido de baja frecuencia con el Keysight M9601A

El analizador Advanced de ruido Advanced E4727B permite realizar mediciones rápidas, precisas y repetibles del ruido de baja frecuencia (LFN) en numerosos tipos de dispositivos. Ahora, gracias a la estrecha integración con el software WaferPro Express de Keysight, los ingenieros especializados en modelización y caracterización de dispositivos pueden añadir las mediciones de ruido a un conjunto más amplio que incluye mediciones de CC de alta velocidad, de capacitancia y de parámetros S de RF, todo ello mientras se automatiza el control del probador de obleas.

Consejos rápidos para mejorar la resolución de problemas de red

Descarga esta nota de aplicación para descubrir cómo puedes mejorar rápidamente tus procesos de resolución de problemas con el fin de: 1. Reducir la necesidad y el número de aprobaciones del Comité de Cambios. 2. Recopilar datos más precisos para las herramientas de supervisión. 3. Implementar técnicas más eficaces, como el filtrado de datos y los filtros flotantes.

Soluciones de pruebas para la fabricación de dispositivos móviles

Descubre cómo los ingenieros de pruebas de dispositivos móviles garantizan la ejecución puntual y precisa de sus planes de pruebas mediante pruebas sin señalización con capacidad multipuerto.