Wie man Jitter von Taktsignalen analysiert

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Taktflankenzeitmessung mit Oszilloskopen

Die Analyse von Taktjitter erfordert die Erfassung wiederholter Taktflanken mit ausreichend hoher Zeitauflösung, um die Variationen von Zyklus zu Zyklus vergleichen zu können. Der Testaufbau benötigt ein Oszilloskop, eine stabile Takterfassung und eine Jitteranalyse, die die Flankenzeitvariation, den Zyklus-zu-Zyklus-Jitter und den Zeitintervallfehler (TIE) über eine große Anzahl von Taktereignissen messen kann.

Für den Test erfassen die Ingenieure das Taktsignal, messen den Jitter der erfassten Flankendaten und werten die Ergebnisse mittels statistischer Analyse wiederholter Zeitereignisse aus. Die Trennung von zufälligen und deterministischen Jitterkomponenten ermöglicht es, die gemessenen Zeitabweichungen mit Phänomenen wie Netzteilrauschen, Übersprechen oder Instabilitäten der Phasenregelschleife zu korrelieren.

Lösung zur Analyse von Taktjitter

Für eine präzise Analyse des Taktjitters wird ein Oszilloskop benötigt, das über viele Zyklen stabile Taktsignale erfassen kann, sowie eine Software, die die Zeitmessungen innerhalb der aufgezeichneten Daten automatisiert. Keysight Advanced Tischoszilloskope erfassen das Taktsignal, während Jitteranalyse-Software für Oszilloskope den Zyklus-zu-Zyklus-Jitter, TIE und das zugehörige Flankenverhalten misst. Passive Tastköpfe verbinden das Taktsignal mit dem Oszilloskop und gewährleisten die für eine präzise Zeitanalyse erforderliche hohe Signalgenauigkeit. Zusammen bilden Oszilloskop, Software und Tastkopf ein komplettes System zur statistischen Jitteranalyse und zur Ursachenfindung bei Hochgeschwindigkeits-Taktsignalen.
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Siehe Blockdiagramm der Lösung zur Analyse des Taktjitters.

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