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Wir bieten Ihnen Test- und Messlösungen für alle Komponenten von seriellen 112-Gbit/s-Datenverbindungen - vom optischen Frontend eines Transceivers bis hin zum Silizium-Switch.

Diese schlüsselfertigen Lösungen unterstützen rückverfolgbare Standardvalidierungsverfahren, die von Keysight-Experten entwickelt wurden, damit sich Ihr Team auf das konzentrieren kann, was es am besten kann: Innovation.

Optischer Konformitätstest

Verwandte Lösungen

Optischer Transceiver-Test

Integrierte photonische Prüfung

Serielle optische Validierung und Konformitätstest für 112 Gbit/s

Konformitätstests sind in der Datenkommunikationsbranche von zentraler Bedeutung, da sie die Interoperabilität zwischen Silizium, Modulen und optischen Transceivern verschiedener Anbieter sicherstellen. Unsere Lösungen für die Prüfung optischer Transceiver kombinieren wichtige Hardwaregeräte mit Softwareanwendungen, um vollautomatische Konformitätsprüfungen zu ermöglichen und gleichzeitig genaue und wiederholbare Ergebnisse zu gewährleisten.

Die 400G- und 800G-Testlösungen von Keysight unterstützen die in IEEE 802.3bs/cd/ck/cu sowie in den 800G PSM8- und 100G Lambda-Multisource-Vereinbarungen (MSAs) definierten Empfehlungen. Darüber hinaus werden Multimode-Schnittstellen, wie sie derzeit in IEEE802.3db definiert sind, unterstützt.

Die neuesten Lösungen unterstützen steckbare Optiken mit den Formfaktoren QSFP-DD800 und 112G OSFP, während andere Softwareanwendungen, die auf derselben Hardwareplattform basieren, ältere Geschwindigkeiten für steckbare SFP+- und QSFP-Module abdecken, einen klaren Upgrade-Pfad ermöglichen und Investitionsschutz bieten.

Lösung für elektrische Validierung und Konformitätsprüfung

112 Gbit/s serielle elektrische Validierung und Konformitätstest

Ein wichtiges Ziel für die heutigen Hochleistungs-Chipsätze ist die Interoperabilität. Um mit der elektrischen Technologie und den Normen für 112 Gbit/s erfolgreich zu sein, ist eine enorme Steigerung der Leistungsfähigkeit der Messtechnik erforderlich, die zur Unterstützung der wesentlichen Messungen benötigt wird.

Wir bieten die einzigen vollständigen elektrischen 112-Gbit/s-Tx- und Rx-Konformitätstestlösungen für IEEE 802.3ck und OIF-CEI-112G. Unsere Experten tragen zur Entwicklung von Standards bei und verfolgen diese genau, um zu gewährleisten, dass Sie immer mit den richtigen Werkzeugen und Techniken ausgestattet sind, um sicherzustellen, dass Ihr Design rechtzeitig fertig wird und die Anforderungen Ihrer Kunden erfüllt.

Unsere vollautomatischen Standardkonformitätstests bieten Ihnen die nötige Flexibilität, um über die grundlegende Konformität hinauszugehen. Passen Sie Tests für erweiterte Fehlersuche und die Bewertung von Leistungsspannen an.

Elektrischer Konformitätstest

Elektrische Konformitätsprüfung Anwendungen

N1091CKCA Elektrische TX-Test-SW für IEEE802.3ck (100/200/400 Gb/s)

M8091CKCA Empfänger-Konformitätstestanwendung für IEEE 802.3ck

N109212CA Elektrische TX-Testsoftware für OIF-CEI-112G

D90103CKC Elektrische TX-Test-SW für IEEE802.3ck

D9050CEIC OIF-CEI-112G

Verwandte Produkte

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Ausgewählte Ressourcen

Poster 2025.01.16

Ihr Weg zu 1.6T

Mit dem Aufkommen von 800G und 1.6T Rechenzentren und Entwickler von Netzwerkgeräten müssen sich mit einer Vielzahl neuer Schnittstellen, Bauformen, Standards und Testanforderungen vertraut machen. Dieses Poster fasst wichtige Merkmale elektrischer und optischer Schnittstellen zusammen und bietet einen Überblick über wichtige Aspekte der Prüfung und Messung. Darüber hinaus finden Sie nützliche Informationen zu Branchentreibern, Zeitplänen für Standards und Keysight-Lösungen, die den gesamten 800G/ 1.6T Entwicklungszyklus von der Konstruktion bis zur Fertigung.

2025.01.16

White Papers 2023.06.09

TDECQ Teil 1: Genaue und wiederholbare Messungen zur Einhaltung der Vorschriften durchführen

TDECQ ist die Abkürzung für "Transmitter Dispersion and Eye Closure Quaternary". Dabei handelt es sich um eine Leistungsabzugsgröße, die beschreibt, wie viel zusätzliche Leistung ein Sender im Vergleich zu einem idealen Sender benötigt, um sowohl nicht-ideale Senderwellenformen als auch die Auswirkungen der chromatischen Dispersion zu kompensieren. Sie ähnelt der TDP-Metrik (Transmitter Dispersion Penalty), die in optischen NRZ-Kommunikationsstandards verwendet wird. Sie wurde in der Norm IEEE 802.3bs entwickelt und in der Norm IEEE 802.3cd verbessert. Es ist eine bequeme Art, die Leistung eines PAM4-Senders zu spezifizieren, da es viele Senderattribute in einer einzigen Metrik zusammenfasst und die Metrik direkt die Auswirkungen der Unzulänglichkeiten eines Senders auf die Gesamtleistung auf Systemebene anzeigt.

2023.06.09

White Papers 2023.11.28

TDECQ Teil II Empfehlungen für Produktionstests

Dieses Dokument gibt einen Überblick über die Einführung von TDECQ in Produktionstests und darüber, wie FlexDCA zur Durchführung von TDECQ-Messungen effizient automatisiert werden kann.

2023.11.28

White Papers 2020.09.02

Verkürzung der Zeit für Konformitätsprüfungen mit Software

Jede neue Generation von Hochgeschwindigkeits-Computing-Standards beinhaltet mehr Tests und Faktoren, die berücksichtigt werden müssen. Dies white paper bespricht vier Möglichkeiten, wie Sie mithilfe von Software Ihre Konformitätstests beschleunigen können.

2020.09.02

Technische Übersichten 2020.04.19

PAM-4 Mess-SDK und Ressourcen-Arbiter

Diese technische Notiz beschreibt, wie der Messdurchsatz durch die Disaggregation von Testsignalerfassung und Signalanalyse und durch die Parallelisierung mehrerer Analyseprozesse bei der Automatisierung des Transceivertests erhöht werden kann. Mit dem N1094BS1A PAM-4 Mess-SDK können Sie die wichtigsten Augendiagramme TDECQ, OMA, OER, Augenlinearität, Augenbreite und Augenschiefe auf leistungsstarken physischen oder virtuellen Maschinen berechnen.

2020.04.19

Applikationshinweise 2023.11.21

Konformitätsprüfung von 800G-Ethernet-Links für das Rechenzentrum

In dieser Application Note werden die Änderungen der Anforderungen zwischen 400G und 800G elektrischen Schnittstellen behandelt und es wird gezeigt, wie die Konformitätstestlösungen von Keysight Technologies für Sender und Empfänger es den Anwendern ermöglichen, auf einfache Weise Designvalidierungstests durchzuführen und ihre Designmargen zu untersuchen.

2023.11.21

Applikationshinweise 2021.09.28

Experimentelle Validierung für eine C2M-Hyperscale-Verbindung mit 100 Gbit/s pro Spur unter Verwendung der Channel Operating Margin

Prüfung der physikalischen Schicht der Chip-zu-Modul-Verbindung.

2021.09.28

Applikationshinweise 2021.11.08

Elektrische Signalisierung auf 100 Gb/s Systemebene Auswirkungen von EM-Modal-Artefakten in Hyperscale-Netzwerken

Das white paper wird den Leser darüber aufklären, wie sich die Moduskonvertierung in Differenzkanälen negativ auf die physikalische Schicht der Internetinfrastruktur auswirken kann.

2021.11.08

Lösung Videos

Video 2021-10-07

Webinar: Herausforderungen bei der Validierung der physikalischen Schicht zur Charakterisierung von 100-Gbit/s-Lane-Designs

Webinar: Herausforderungen bei der Validierung der physikalischen Schicht zur Charakterisierung von 100-Gbit/s-Lane-Designs.

2021-10-07

Demo 2021-11-30

Sendertest für Multimode-Datacom-Transceiver der nächsten Generation

Die Entwicklung der Investitionskosten und des Stromverbrauchs für Netzwerke ist für die Betreiber von Rechenzentren von großer Bedeutung. Die steckbaren Multimode-Module der nächsten Generation sind eine Antwort auf diese kritische Frage. Keysight-Experte Dr. Hadrien Louchet erörtert zunächst, wie wichtige Leistungskennzahlen wie Bitfehlerrate und Frame Loss Ratio mit dem Multiport-Tester A400GE-QDD gemessen werden können. Anschließend konzentriert er sich auf einen kritischen Schritt der Validierung optischer Module, den optischen Transmittertest, und zeigt, wie Keysight das N1077B Multimode Optical/Electrical Clock Recovery und die DCA-M Abtastoszilloskope der Serie N1092x kombiniert, um genaue Messungen an Multimode-Designs mit einer sehr geringen Marge durchzuführen. Da Interoperabilität ein Muss ist und bleibt, sind genaue Validierungs- und Konformitätstestlösungen erforderlich, bevor diese Technologie mit geringem Platzbedarf in großem Maßstab eingesetzt werden kann.

2021-11-30

Demo 2021-10-01

Wie testet man die kommende optische Schnittstelle, die mit 100 Gbits über eine einzelne Multimode-Faser läuft?

Die Industrie arbeitet an einer optischen Schnittstelle mit geringem Platzbedarf für Rechenzentren, um der sich beschleunigenden digitalen Transformation der Gesellschaft zu begegnen. Diese Technologie stößt an die Grenzen der Möglichkeiten kostengünstiger und energieeffizienter Multimode-Faserlaserquellen wie VCSEL, um mit 53Gbaud PAM4 zu arbeiten. Keysight Technologies steht mit seinem Multimode-Testlösungsportfolio an vorderster Front der Dateninnovation. Unser Experte Dr. Hadrien Louchet erörtert die Herausforderungen und Lösungen für das Testen dieser neuen optischen Schnittstelle.

2021-10-01

Demo 2021-07-02

100G Electrical Receiver Test Application für IEEE 802.3ck - Übersicht

Die Testanwendung M8091CKPA von Keysight bietet die branchenweit erste Pre-Conformance-Lösung für elektrische Empfänger für die im IEEE 802.3ck-Standard definierte serielle und aggregierte 100-Gbps-Schnittstelle. Sie wurde konzipiert und entwickelt, um die Kalibrierung und Prüfung der elektrischen Eingänge von Chip-to-Chip (C2C) und Chip-to-Module (C2M) unter Verwendung der Keysight M8040A Hochleistungs-BERT- und DCA-Abtastoskope zu vereinfachen. Die Anwendung bietet genaue und wiederholbare Empfängertests gemäß den IEEE 802.3ck-Empfehlungen, um die Interoperabilität zwischen der nächsten Generation von Datenkommunikationsgeräten sicherzustellen. Mit den ferngesteuerten Funktionen der automatischen Stresssignalkalibrierung und der Pre-Conformance-Messung liefert die M8091CKPA-Anwendung robuste und wiederholbare Testergebnisse, die die Benutzerinteraktion auf ein Minimum reduzieren.

2021-07-02

Demo 2020-12-04

100G Electrical TX and RX Conformance Test Solution - Überblick

Die neue Pre-Conformance-Testlösung von Keysight vereinfacht das Testen von elektrischen 100Gb/s-Schnittstellen durch die Automatisierung von mehr als 120 Sendermessungen und Empfängertestverfahren für Chip-to-Module- (C2M) und Chip-to-Chip- (C2C) Schnittstellen.

2020-12-04

Demo 2021-06-22

100G Serial FEC-Aware Konformitätstest

Keysight demonstriert eine Lösung zur Validierung des physikalischen Designs für 800G-Komponenten und Transceiver. Elektrische 100G-Schnittstellen, wie sie von den Standardisierungsgremien IEEE 802.3ck und OIF-CEI 112G definiert wurden, sind das Arbeitspferd der nächsten Generation von Rechenzentren. Da die Designmargen für 53Gbaud PAM4-Schnittstellen immer kleiner werden, ist der Bedarf an einer genauen und gründlichen Designvalidierung enorm gestiegen. Die Lösung besteht aus dem M8040A BERT in Kombination mit dem G800GE Mehrkanal-Tester. Sie wurde entwickelt, um FEC-Einschränkungen in die physikalische Designvalidierung und Konformitätsprüfung zu integrieren. Weitere Informationen finden Sie unter https://www.keysight.com/find/800g.

2021-06-22

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