Wechsel von statischen Grenzwerten zu dynamischen Part Average Test (PAT)-Grenzwerten
Fallstudien
Die derzeitige Chipknappheit im Jahr 2021 dürfte die Halbleiter- und IC-Hersteller weiterhin belasten, obwohl sie stärker in die Erhöhung der Produktionskapazität investieren, und im besten Fall kann es noch einige Jahre dauern, bis sich die Situation stabilisiert hat.