-
Analizzatori di parametri
Sistemi all-in-one per la caratterizzazione dei dispositivi
-
Analizzatori di corrente-tensione
Sistemi di misurazione IV per la caratterizzazione dei dispositivi
-
Soluzioni per test paramisuratorici
Sistemi di test a livello di wafer per la validazione parametrica
-
Analizzatore di dispositivi di potenza / Curve Tracer
Test ad alta potenza per dispositivi Si, SiC e GaN
-
Femto / Picoamperometri ed elettrometri
Strumenti per la misurazione di correnti ultra-basse e resistenze elevate
-
Architettura universale di elaborazione dei segnali
Piattaforma di prototipazione in tempo reale per lo sviluppo di silicio
-
Matrice di commutazione a bassa dispersione
Commutazione ad alto isolamento per instradamento di corrente ultra-bassa
Analizzatori di parametri
Gli analizzatori di parametri Keysight offrono una caratterizzazione completa dei dispositivi a semiconduttori in un'unica piattaforma integrata. Combinando test di precisione corrente-tensione (IV) e capacità-tensione (CV), misurazioni a impulsi e test di affidabilità, questi sistemi modulari supportano un'ampia gamma di dispositivi, dai materiali avanzati ai componenti ad alta potenza. Con una precisione di misurazione leader nel settore, opzioni di configurazione flessibili e un controllo software intuitivo, gli analizzatori di parametri Keysight contribuiscono ad accelerare la ricerca, lo sviluppo e la qualificazione dei dispositivi. Hai bisogno di aiuto per la scelta? Consulta le risorse riportate di seguito.
Analizzatori di corrente-tensione
Gli analizzatori di corrente-tensione Keysight offrono funzionalità di alimentazione e misurazione accurate e a basso rumore, essenziali per la caratterizzazione dei dispositivi a semiconduttori e la ricerca sui materiali. Progettati per gestire un'ampia gamma di livelli di corrente e tensione, dalle correnti femtoampere alle scansioni ad alta tensione, questi analizzatori forniscono misurazioni precise e ripetibili in diverse applicazioni. Grazie alle configurazioni multicanale flessibili e al controllo software intuitivo, gli analizzatori IV Keysight contribuiscono ad accelerare lo sviluppo dei dispositivi, i test di affidabilità e l'ottimizzazione dei processi. Hai bisogno di aiuto per la scelta? Consulta le risorse riportate di seguito.
Soluzioni per test paramisuratorici
Le soluzioni di test parametrici Keysight combinano strumenti di misura ad alte prestazioni con un'automazione flessibile per accelerare la valutazione dei dispositivi a semiconduttori, dallo sviluppo iniziale alla produzione in serie. Offrendo test precisi di corrente-tensione (IV), capacità-tensione (CV) e affidabilità, questi sistemi scalabili aiutano a ottimizzare le prestazioni dei dispositivi, monitorare la variabilità dei processi e garantire l'affidabilità a lungo termine. Progettate per integrarsi perfettamente con i wafer prober e gli ambienti di produzione, le soluzioni parametriche Keysight offrono la precisione, la velocità e l'efficienza necessarie per le moderne tecnologie avanzate dei semiconduttori. Hai bisogno di aiuto per scegliere? Consulta le risorse riportate di seguito.
Analizzatore di dispositivi di potenza / Curve Tracer
Gli analizzatori di dispositivi di potenza / tracciatori di curve Keysight sono soluzioni appositamente progettate per valutare e caratterizzare dispositivi a semiconduttori ad alta tensione e alta corrente. Combinando un'alimentazione accurata, misurazioni rapide e analisi complete, questi sistemi supportano test critici per transistor di potenza, diodi, IGBT e dispositivi a banda larga come SiC e GaN. Con gamme di tensione e corrente scalabili, funzioni di sicurezza integrate e software intuitivo, le soluzioni Keysight aiutano ad accelerare lo sviluppo, migliorare l'affidabilità dei dispositivi e semplificare i test di produzione. Hai bisogno di aiuto per la scelta? Consulta le risorse riportate di seguito.
Femto / Picoamperometri ed elettrometri
I femto/picoamperometri e gli elettrometri Keysight offrono una sensibilità leader nel settore per la misurazione di correnti estremamente basse, resistenze elevate e tensioni basse in materiali avanzati e dispositivi a semiconduttori. Con capacità di misurazione fino a 0,01 fA e analisi grafica integrata, questi strumenti offrono prestazioni accurate, stabili e resistenti al rumore per applicazioni esigenti come il test della corrente di dispersione, la resistenza di isolamento e la caratterizzazione di correnti ultra basse. Progettati sia per l'integrazione su banco che nel sistema, gli elettrometri di precisione Keysight aiutano ad accelerare la ricerca, lo sviluppo dei dispositivi e la garanzia della qualità. Hai bisogno di aiuto per la scelta? Consulta le risorse riportate di seguito.
Architettura universale di elaborazione dei segnali
L'architettura universale di elaborazione dei segnali (USPA) di Keysight offre un ambiente in tempo reale ad alte prestazioni, modulare e completamente programmabile per la prototipazione e la convalida ultraveloce di applicazioni specifiche. Basata sui convertitori di dati ADC3 e DAC3 leader del settore e sull'elaborazione dei segnali digitali basata su FPGA, la piattaforma USPA consente agli ingegneri di iterare e verificare rapidamente i progetti, riducendo i rischi, i tempi di sviluppo e i costi. Supporta applicazioni che spaziano dalla prototipazione SoC/ASIC, al 6G, alle comunicazioni ottiche, ai radar e alla ricerca fisica avanzata. Hai bisogno di aiuto per la scelta? Consulta le risorse riportate di seguito.
Matrice di commutazione a bassa dispersione
Le matrici di commutazione a bassa dispersione Keysight sono progettate per i test automatizzati dei semiconduttori che richiedono misurazioni di corrente ultra-basse e prestazioni di isolamento elevate. Progettate per mantenere l'integrità del segnale a livelli di femtoampere, queste matrici di commutazione consentono una commutazione senza interruzioni tra più dispositivi o nodi di test senza compromettere la precisione di misurazione. Grazie alle configurazioni flessibili, ai formati compatti e alla facile integrazione con gli analizzatori Keysight, sono ideali per test parametrici, studi di affidabilità e caratterizzazione a livello di wafer. Hai bisogno di aiuto per la scelta? Consulta le risorse riportate di seguito.
Esplora i test a doppio impulso ad alta tensione
La validazione dei dispositivi di potenza di nuova generazione richiede strumenti in grado di garantire commutazioni rapide, tempistiche precise e sicurezza robusta in condizioni estreme. L'analizzatore/tracciatore di curve per dispositivi di potenza Keysight è appositamente progettato per la caratterizzazione dinamica dei transistor SiC e GaN, consentendo una misurazione accurata delle perdite di commutazione, della resistenza dinamica e degli effetti parassiti. Grazie al controllo completamente integrato, alle funzioni di protezione incorporate e alle capacità di alta tensione, aiuta gli ingegneri a replicare le condizioni di stress reali e ad accelerare lo sviluppo dei convertitori di potenza in modo sicuro e affidabile.
Trova software e accessori compatibili per la tua soluzione di test dei semiconduttori
Scegli tra un'ampia gamma di software o accessori specifici per test, controllo e applicazioni, come cavi a bassa dispersione, connettori triassiali, estensori di interruttori schermati, interfacce per sonde wafer e altro ancora.
Esplora i casi d'uso dei semiconduttori
Le soluzioni a semiconduttori supportano un'ampia gamma di applicazioni in vari settori industriali: scoprile tutte.
Semiconduttori
Caratterizzazione dei semiconduttori WBG con test a doppio impulso.
Semiconduttori
Caratterizzazione dei moduli di potenza a semiconduttori WBG utilizzando la tecnologia delle sonde con isolamento a impulsi reali.
Semiconduttori
Caratterizzazione di circuiti integrati a bassa potenza con un'unità di misura della sorgente.
Semiconduttori
Valutazione delle caratteristiche dei LED IV utilizzando un'unità di misura/sorgente.
Semiconduttori
Eliminazione degli elementi che inducono errori durante le misurazioni della resistenza.
Servizi e assistenza
Innova rapidamente grazie a piani di assistenza personalizzati e tempi di risposta e risoluzione prioritari.
Ottieni abbonamenti prevedibili basati su leasing e soluzioni complete per la gestione dell'intero ciclo di vita, in modo da raggiungere più rapidamente i tuoi obiettivi aziendali.
Beneficia di un servizio di alto livello come abbonato KeysightCare per ottenere assistenza tecnica dedicata e molto altro ancora.
Assicurati che il tuo sistema di test funzioni secondo le specifiche e soddisfi gli standard locali e globali.
Effettua misurazioni rapidamente grazie alla formazione interna con istruttore e all'e-learning.
Scarica il software Keysight o aggiorna il tuo software alla versione più recente.
Domande frequenti
I test sui semiconduttori coprono un ampio spettro di dispositivi, ciascuno con requisiti specifici. Ciò include componenti di base come i transistor, ad esempio i transistor a effetto di campo metallo-ossido-semiconduttore (MOSFET) e i transistor bipolari a gate isolato (IGBT), nonché diodi, raddrizzatori e dispositivi di potenza utilizzati nella conversione di energia. Anche i circuiti integrati (IC), sia analogici che digitali, richiedono una caratterizzazione elettrica precisa per garantire prestazioni e affidabilità. Inoltre, i sensori (come quelli di temperatura, pressione e ottici) richiedono configurazioni di test specializzate a causa della loro sensibilità e dei requisiti specifici dell'applicazione.
Con l'avvento dei materiali avanzati, i semiconduttori a banda larga come il carburo di silicio (SiC) e il nitruro di gallio (GaN) hanno acquisito sempre maggiore importanza nelle applicazioni ad alta potenza e alta frequenza, rendendo necessari approcci di test più sofisticati. Ciascuna di queste categorie di dispositivi presenta comportamenti elettrici e fisici unici. Ad esempio, correnti di dispersione a livelli di nanoampere o picoampere, variazioni di capacità con la tensione o caratteristiche di rottura ad alta tensione. Soluzioni di test e misurazione specializzate sono quindi fondamentali per acquisire con precisione il comportamento corrente-tensione (I-V), la capacità, la dispersione, la dinamica di commutazione e l'affidabilità in un'ampia gamma di condizioni ambientali e operative.
Molti dispositivi a semiconduttori, in particolare quelli utilizzati in applicazioni a bassa potenza, di precisione o di nuova generazione, funzionano a livelli di corrente estremamente bassi, talvolta nell'ordine dei femtoampere (fA) o dei picoampere (pA). A tali livelli, anche minime quantità di corrente di dispersione o interferenze elettriche parassite provenienti dal sistema di test stesso possono distorcere i risultati, portando a una caratterizzazione imprecisa. Le matrici di commutazione a bassa dispersione sono progettate per ridurre al minimo le correnti indesiderate che potrebbero mascherare il comportamento reale del dispositivo in prova, mentre i percorsi di misurazione ad alto isolamento impediscono il crosstalk o l'accoppiamento del rumore tra i segnali. Queste caratteristiche sono particolarmente importanti per la caratterizzazione di dispositivi sensibili come i sensori, per il collaudo di materiali avanzati a banda larga (SiC, GaN) o per l'esecuzione di test di affidabilità e stress a lungo termine in cui sono essenziali misurazioni stabili e ripetibili. Senza prestazioni a bassa dispersione e ad alto isolamento, gli ingegneri rischiano di trarre conclusioni errate sulle proprietà dei dispositivi, con potenziali ripercussioni sulla qualità del progetto, sulla sicurezza e sulla conformità agli standard applicativi.
La caratterizzazione dei dispositivi a semiconduttori comporta in genere una serie di tecniche di misurazione complementari, ciascuna delle quali è mirata a specifici parametri elettrici o fisici. Le misurazioni corrente-tensione (I-V) costituiscono la base, fornendo informazioni sulla conduzione, sulle tensioni di soglia, sul comportamento di dispersione e sulle caratteristiche di rottura in un ampio intervallo di tensione. Altrettanto importanti sono le misurazioni di capacità-tensione (C-V), che forniscono dati sui profili di concentrazione del drogaggio, sulla qualità dell'ossido e sulle proprietà di giunzione. Le misurazioni a impulsi sono spesso utilizzate per dispositivi ad alta potenza o sensibili al calore, poiché forniscono brevi impulsi di energia per prevenire il degrado del dispositivo, pur continuando a catturarne il comportamento dinamico.
Le tecniche di stress test di affidabilità, quali la valutazione della durata operativa ad alta temperatura (HTOL), il ciclo termico e l'instabilità della temperatura di polarizzazione (BTI), vengono utilizzate per simulare il funzionamento a lungo termine e identificare potenziali meccanismi di degrado delle prestazioni. In alcuni casi, a seconda dell'applicazione target, sono necessari anche metodi avanzati come l'analisi della risposta transitoria, la rottura dielettrica dipendente dal tempo (TDDB) o la caratterizzazione delle radiofrequenze (RF). Insieme, queste tecniche forniscono una comprensione completa delle prestazioni, della robustezza e dell'idoneità all'implementazione di un semiconduttore.
L'automazione è un elemento fondamentale dei moderni test sui semiconduttori, in particolare negli ambienti di produzione ad alto volume o nei laboratori di ricerca che si occupano della caratterizzazione complessa di più dispositivi. Sfruttando stazioni di prova automatizzate, manipolatori robotici e sequenze di test guidate da software, le organizzazioni possono aumentare significativamente la produttività, ridurre gli errori degli operatori e garantire una ripetibilità delle misurazioni coerente su grandi set di dati.
L'automazione supporta anche funzionalità avanzate come il test automatico dei wafer, che consente di testare centinaia o migliaia di dispositivi durante la notte, nonché il test automatico in batch dei dispositivi confezionati. Nei test di affidabilità, l'automazione consente il monitoraggio continuo a lungo termine dello stress senza intervento umano, garantendo il rilevamento tempestivo di eventuali variazioni delle prestazioni. Inoltre, i sistemi automatizzati facilitano l'integrazione e l'analisi dei dati, consentendo agli ingegneri di identificare rapidamente le tendenze, migliorare i modelli dei dispositivi e accelerare i cicli di sviluppo dei prodotti. In breve, l'automazione non solo migliora l'efficienza e la produttività, ma garantisce anche il controllo della qualità e la conformità a rigorosi standard industriali su larga scala.
Il settore dei semiconduttori è caratterizzato da una rapida innovazione, guidata da nuovi materiali, architetture avanzate dei dispositivi e requisiti applicativi emergenti. Per rimanere efficaci, i sistemi di test devono essere flessibili e scalabili. Le piattaforme modulari consentono agli ingegneri di espandere la capacità di commutazione, aggiungere nuovi moduli di misurazione o integrare metodologie di test emergenti senza richiedere la sostituzione completa del sistema.
Ad esempio, con la diffusione dei semiconduttori a banda proibita larga come il carburo di silicio (SiC) e il nitruro di gallio (GaN) nei veicoli elettrici e nei sistemi di energia rinnovabile, i sistemi di test devono incorporare funzionalità in grado di gestire tensioni più elevate, commutazioni più rapide e condizioni termiche più impegnative. Allo stesso modo, per i dispositivi di comunicazione e di elaborazione di nuova generazione, l'analisi transitoria ad alta velocità e i test in radiofrequenza (RF) sono sempre più essenziali.
L'adattabilità si estende anche al software. I moderni sistemi di test devono supportare standard, formati di dati e framework di automazione in continua evoluzione per garantire una perfetta integrazione nei flussi di lavoro di sviluppo. Mantenendo la scalabilità e l'aggiornabilità, i sistemi di test dei semiconduttori salvaguardano il valore dell'investimento, rimanendo al passo con la continua evoluzione dei dispositivi e delle applicazioni.