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- Soluzioni
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LINGUA
Soluzioni di test parametrici Sistemi di test a livello di wafer per la convalida parametrica
Modello: NX4881A
prev
- Panoramica
- Opzioni
- Accessori
- Software
- Supporto
4881HV Sistema di test per wafer ad alta tensione
Il sistema di test ad alta tensione Keysight 4881HV è una soluzione innovativa per test parametrici fino a 3 kV, che supporta test ad alta tensione (HV) e bassa tensione (LV) in un unico passaggio.
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Additional features
High voltage CV measurement
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Maximum number of measurement pins
29
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Minimum voltage measurement resolution
2 µV
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Minimum current measurement resolution
10 fA
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Punti salienti
Il sistema di test per wafer ad alta tensione Keysight 4881HV è una soluzione innovativa per test parametrici fino a 3 kV, che supporta alta tensione (HV) e bassa tensione (LV) in un unico passaggio.
- Configura la matrice di commutazione HV con un massimo di 29 pin e 3 kV in modo flessibile su qualsiasi pin di uscita.
- Combina unità di misura/sorgenti HV e LV per consentire misurazioni accurate di corrente-tensione con risoluzione fino a sub-pA.
- Effettua misurazioni di capacità ad alta tensione con polarizzazione fino a 1 kV CC.
- Soddisfa i requisiti normativi quali i mandati di fabbrica e la conformità SEMI S2.
- Assistenza per prober da 200 mm / 300 mm e automazione industriale.
Servizi e assistenza
Innova rapidamente grazie a piani di assistenza personalizzati e tempi di risposta e risoluzione prioritari.
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Beneficia di un servizio di alto livello come abbonato KeysightCare per ottenere assistenza tecnica dedicata e molto altro ancora.
Assicurati che il tuo sistema di test funzioni secondo le specifiche e soddisfi gli standard locali e globali.
Effettua misurazioni rapidamente grazie alla formazione interna con istruttore e all'e-learning.
Scarica il software Keysight o aggiorna il tuo software alla versione più recente.
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