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SPRACHE
Parametrische Testlösungen: Wafer-Level-Testsysteme zur parametrischen Validierung
Modell: NX4881A
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- Unterstützung
4881HV Hochspannungs-Wafer-Testsystem
Das Keysight 4881HV Hochspannungsprüfsystem ist eine bahnbrechende Lösung für parametrische Prüfungen bis zu 3 kV und unterstützt Hochspannung (HV) und Niederspannung (LV) in einem Durchgang.
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Additional features
High voltage CV measurement
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Maximum number of measurement pins
29
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Minimum voltage measurement resolution
2 µV
-
Minimum current measurement resolution
10 fA
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Highlights
Das Keysight 4881HV Hochspannungs-Wafer-Testsystem ist eine bahnbrechende Lösung für parametrische Tests bis zu 3 kV und unterstützt Hochspannung (HV) und Niederspannung (LV) in einem Durchgang.
- Konfigurieren Sie die HV-Schaltmatrix mit bis zu 29 Pins und 3 kV flexibel an jedem Ausgangspin.
- Durch die Kombination von Hoch- und Niederspannungsquellen/Messeinheiten wird eine genaue Strom-Spannungs-Messung bis hinunter zu einer Auflösung im Sub-pA-Bereich ermöglicht.
- Führen Sie Hochspannungskapazitätsmessungen mit einer Gleichspannung von bis zu 1 kV durch.
- Einhaltung regulatorischer Anforderungen wie z. B. Werksauflagen und SEMI S2-Konformität.
- Erhalten Sie Unterstützung für 200 mm / 300 mm Sonden und Fabrikautomation.
Dienstleistungen und Support
Innovieren Sie im Handumdrehen mit maßgeschneiderten Supportplänen und priorisierten Reaktions- und Bearbeitungszeiten.
Profitieren Sie von planbaren, leasingbasierten Abonnements und umfassenden Lifecycle-Management-Lösungen – damit Sie Ihre Geschäftsziele schneller erreichen.
Als KeysightCare-Abonnent profitieren Sie von einem erweiterten Service mit zuverlässiger technischer Unterstützung und vielem mehr.
Stellen Sie sicher, dass Ihr Testsystem den Spezifikationen entspricht und sowohl lokale als auch globale Standards erfüllt.
Schnelle Messungen dank hauseigener, von Ausbildern geleiteter Schulungen und E-Learning.
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