Sistema di test per schede i7090 massicciamente parallelo e scalabile

Keysight i7090 è un sistema di test scalabile e massicciamente parallelo con un massimo di 20 core, progettato per la produzione ad alto volume e alta varietà, che offre una copertura di test ottimizzata e tempi di esecuzione ridotti.

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  • Fixture actuation

    Press down

  • Maximum parallel testing

    20

  • Maximum node count

    2560

  • System width

    1510 mm

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Punti salienti

Test scalabili e altamente paralleli per una copertura completa dei PCBA

Il Keysight i7090 (Q3000A) combina test in-circuit (ICT), test funzionali (FCT), programmazione in-system (ISP) e boundary scan in un’unica piattaforma scalabile. Progettato per la produzione ad alta varietà e ad alto volume, consente ai produttori di configurare le risorse di test per schede raggruppate in pannelli o schede con un numero maggiore di pin. Le caratteristiche principali includono:

  • ICT parallelo scalabile: è possibile configurare fino a 20 core di test per testare più PCB contemporaneamente, oppure combinare i core per schede con un numero maggiore di pin.
  • Integrazione FCT: utilizzare OpenTAP e gli strumenti PXI per aggiungere misurazioni funzionali al flusso di test.
  • ISP parallelo: supporta fino a 160 canali di flashing simultanei per contribuire a ridurre i tempi di programmazione.
  • Ampia copertura dei guasti: combina test analogici, digitali e NanoVTEP senza vettori con il boundary scan.
  • Testa di prova compatta: una testa di prova larga 600 mm consente di posizionare le risorse di prova in prossimità dell'interfaccia del dispositivo di fissaggio.
  • Produzione connessa: supporto per CFX/Hermes e Keysight PathWave per i dati di produzione e i flussi di lavoro di automazione.