Webinar
Questo webinar, partendo dalla pratica ingegneristica, analizzerà in modo sistematico i principi del test a doppio impulso, la realizzazione del sistema di test,le fonti di errore e i metodi di verifica incrociata tra diversi schemi di test, aiutandovi a comprendere a fondo le differenze tra i vari risultati dei test e le loro cause alla radice. Allo stesso tempo, partendo dalla catena completa “materiali – processo di produzione dei wafer – incapsulamento – ispezione – verifica applicativa”, esploreremo come stabilire una serie di metodi di test che garantiscano riproducibilità e comparabilità, riducendo i costi di ricerca e sviluppo e accelerando il passaggio dei componenti di potenza dal laboratorio alle applicazioni pratiche.
Nel corso, grazie al “metodo di analisi chiave”, vi guideremo in un’analisi approfondita di:
✅ Perché il DPT è diventato un metodo fondamentale per testare le caratteristiche dinamiche dei componenti di potenza?
✅ Come misurare con precisione parametri chiave quali Eon, Eoff, dv/dt e altri?
✅ Da dove derivano gli errori di misura? Come evitare che “i risultati rilevati non corrispondano alle caratteristiche reali dei componenti”?
✅ Come si possono confrontare diversi schemi di test per individuare il metodo di test più adatto?
Ingegneri di ricerca e sviluppo, collaudo e applicazione nei settori dei semiconduttori di potenza SiC/GaN, dei moduli di potenza, dell’elettronica di potenza, degli alimentatori, dei veicoli elettrici (EV) e della ricarica, dei sistemi di accumulo di energia (ESS), nonché nei relativi ambiti di collaudo e verifica.
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