Comment tester les systèmes radar et de guerre électronique à l'aide d'impulsions RF étroites

Générateur de signaux analogiques Pro XG7
+ Générateur de signaux analogiques Pro XG7

Reproduire des conditions de radiofréquence à impulsions étroites contrôlées

Les essais RF pulsés nécessitent une source de signal configurée pour la fréquence porteuse, le niveau RF, la largeur d'impulsion et la fréquence de répétition des impulsions (PRF) adaptées au radar ou au sous-système de guerre électronique (GE). L'intervalle de répétition des impulsions correspond au temps qui s'écoule entre deux points correspondants sur des impulsions successives, tandis que la PRF est son inverse. Associés à la largeur d'impulsion, ces paramètres déterminent le rapport cyclique d'un train d'impulsions répétitives.

Appliquez la stimulation RF pulsée au composant ou au sous-système et observez sa réponse dans les conditions sélectionnées. Pour les impulsions répétitives, le rapport cyclique établit la relation entre la largeur d'impulsion et l'intervalle de répétition des impulsions, et détermine la puissance RF moyenne. Maintenez le niveau RF d'impulsion requis tout en contrôlant la fréquence, la synchronisation des impulsions, l'atténuation, le câblage et les autres conditions qui influencent la stimulation parvenant au dispositif testé.

Solution de test pour radars à impulsions étroites et de guerre électronique

Générez le signal de test en définissant la fréquence et le niveau de la porteuse RF requis, puis configurez la modulation d'impulsion pour obtenir la largeur d'impulsion et la fréquence de répétition des impulsions (PRF) souhaitées. Le générateur de signaux analogiques Keysight SG6311A Pro XG7 couvre une plage de 9 kHz à 20 GHz et prend en charge des impulsions RF nivelées par l'instrument jusqu'à une largeur d'impulsion nivelée minimale de 40 ns. Cela vous permet de stimuler des composants et sous-systèmes de radar et de guerre électronique (GE) à l’aide d’impulsions RF étroites et contrôlées, tout en maintenant le niveau RF requis pendant chaque impulsion. Pour les tests à faible rapport cyclique, le niveau RF pendant l’impulsion peut être nettement supérieur à la puissance moyenne dans le temps, ce qui vous aide à évaluer les composants dans des conditions d’impulsion représentatives sans considérer le signal de test comme une puissance d’onde continue soutenue. Configurez les paramètres d’impulsion en fonction des exigences et des limites du dispositif testé.

Voir le schéma fonctionnel du radar à impulsions courtes et de la solution de test de guerre électronique

Comment tester les systèmes radar et de guerre électronique à l'aide d'impulsions RF étroites : schéma fonctionnel

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