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Systèmes de test parallèles
Tests évolutifs et flexibles pour les assemblages de cartes complexes
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Analyseurs à balayage de frontière
Isolation efficace des défauts avec une précision au niveau des broches
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Systèmes de test fonctionnel
Système de test fonctionnel intégré pour des résultats de production fiables
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Systèmes de test en circuit
Détection précise des défauts pour les cartes à haute densité
Systèmes de test parallèles
Les systèmes de test parallèles Keysight offrent des solutions polyvalentes et évolutives adaptées à divers besoins en matière de tests de fabrication. Le Advanced propose une plateforme compacte et économique pour les tests de circuits imprimés à signaux mixtes, dotée de capacités intégrées de test analogique, numérique et boundary scan. Il simplifie le développement et l'intégration des tests, ce qui le rend particulièrement adapté aux environnements de production allégée. Expert offre un débit inégalé pour les applications exigeantes, avec des milliers de canaux de test simultanés, une architecture modulaire et une couverture complète, incluant les tests en circuit, boundary scan et fonctionnels. Ce système excelle dans la fabrication à forte mixité et à haut volume, offrant des diagnostics rapides et une intégration transparente de l'automatisation. Découvrez notre large gamme de systèmes de test parallèles, allant des niveaux de performance avancés aux niveaux experts, afin de trouver celui qui convient à votre application. Besoin d'aide pour choisir ? Consultez les ressources ci-dessous.
Advanced
Expert
Analyseurs à balayage de frontière
Les analyseurs de balayage des limites Keysight offrent des capacités de test numérique avancées pour les cartes à haute densité, permettant une isolation précise des défauts sans nécessiter d'accès physique à une sonde. Le système est conçu pour des tests structurels efficaces et fournit des diagnostics rapides des interconnexions, des courts-circuits, des circuits ouverts et des défauts bloqués dans des assemblages numériques complexes. Grâce à son intégration transparente dans les systèmes de test en circuit et fonctionnels, le boundary scan prend en charge les chaînes de scan basées sur JTAG. Il permet d'accéder à des réseaux difficiles à atteindre, ce qui réduit le temps de développement des tests et améliore la couverture. Découvrez nos solutions de boundary scan pour trouver celle qui convient à votre application. Vous avez besoin d'aide pour faire votre choix ? Consultez les ressources ci-dessous.
Systèmes de test fonctionnel
Les systèmes de test fonctionnel Keysight offrent une solution modulaire et flexible pour tester des assemblages électroniques complexes. Grâce à ses mesures de précision, sa commutation haute densité, son alimentation configurable et son acquisition de signaux synchronisée, le système prend en charge un large éventail d'applications analogiques, numériques et à signaux mixtes. L'automatisation intégrée et la surveillance en temps réel rationalisent le développement des tests et améliorent la couverture, ce qui le rend idéal pour valider des dispositifs tels que les calculateurs automobiles, les contrôleurs industriels et les cartes embarquées. Découvrez notre large gamme de systèmes de test fonctionnel pour trouver celui qui convient à votre application. Vous avez besoin d'aide pour faire votre choix ? Consultez les ressources ci-dessous.
Systèmes de test en circuit
Les systèmes de test en circuit Keysight offrent des solutions hautes performances et évolutives pour tester des cartes de circuits imprimés complexes et densément peuplées dans le cadre d'une production à grand volume. Grâce à des configurations de broches flexibles, à la prise en charge du balayage des limites, à des capacités de test sans vecteur et à des mesures analogiques programmables, ces systèmes garantissent une détection rapide et précise des défauts d'assemblage tels que les défauts de soudure, les composants mal orientés et les valeurs erronées. Les diagnostics intégrés, les outils de développement de tests intuitifs et l'intégration prête pour l'automatisation rationalisent les flux de production tout en réduisant les faux positifs et en améliorant le rendement dès le premier passage. Découvrez notre large gamme de systèmes de test en circuit pour trouver celui qui convient à votre application. Besoin d'aide pour faire votre choix ? Consultez les ressources ci-dessous.
Renforcer la confiance dans les tests électroniques automobiles
L'électronique automobile nécessite des tests précis et complets afin de garantir sa fiabilité et sa sécurité. Les systèmes de test en circuit de Keysight offrent des fonctionnalités clés telles que les mesures à faible courant, les tests de supercondensateurs, les diagnostics LED et la détection rapide des courts-circuits, qui sont idéales pour les modules tels que les calculateurs électroniques, les contrôleurs de moteur et les cartes de capteurs. Les solutions à haut débit testent efficacement les cartes compactes en parallèle, tandis que les outils de scan des limites améliorent la couverture des nœuds inaccessibles. Ensemble, ces outils garantissent les performances et la qualité des composants électroniques automobiles, qu'ils soient très complexes ou peu complexes.
Découvrez les logiciels et accessoires compatibles avec votre solution de test en circuit pour la fabrication.
Choisissez parmi une large gamme de logiciels de test en circuit pour une génération rationalisée des programmes de test, un diagnostic avancé des défauts et une couverture de test améliorée. Complétez votre système ICT avec des accessoires tels que des kits de fixation, des modules de sonde, des outils de scan des limites, des assemblages de câbles, des plaques de capteurs, des sondes simples, etc.
Découvrez les tests en circuit pour les cas d'utilisation en fabrication
Les tests en circuit pour la fabrication prennent en charge un large éventail de tests dans divers secteurs industriels. Découvrez-les tous.
Fabrication
Comment effectuer des mesures de faible courant sur les cartes de circuits imprimés ?
Intégrer une unité de mesure de source dans le testeur en circuit.
Fabrication
Comment intégrer un testeur en circuit dans l'industrie 4.0
Le testeur en circuit et IPC-CFX permettent la mise en place d'usines Industrie 4.0.
Fabrication
Comment accélérer les tests courts pour les nœuds à haute impédance ?
Mettre en œuvre l'algorithme amélioré pour les tests courts dans un système de test en circuit afin de réduire la durée des tests courts.
Services et assistance
Innovez rapidement grâce à des plans d'assistance personnalisés et à des délais de réponse et d'exécution prioritaires.
Bénéficiez d'abonnements prévisibles basés sur un contrat de location et de solutions de gestion du cycle de vie complet afin d'atteindre plus rapidement vos objectifs commerciaux.
Bénéficiez d'un service haut de gamme en tant qu'abonné KeysightCare pour obtenir une assistance technique dédiée et bien plus encore.
Assurez-vous que votre système de test fonctionne conformément aux spécifications et respecte les normes locales et internationales.
Effectuez rapidement des mesures grâce à des formations internes dispensées par des instructeurs et à l'apprentissage en ligne.
Téléchargez le logiciel Keysight ou mettez à jour votre logiciel vers la dernière version.
Questions fréquemment posées
Choisissez un système informatique en fonction de la densité des circuits imprimés, du volume de production et des besoins en matière de couverture des tests. Tenez compte des éléments suivants :
Capacités du système : Les systèmes TICde Keysight Technologies prennent en charge les circuits imprimés à haute densité, les composants à pas fin et les cartes multicouches complexes.
Stratégie relative aux montages : évaluez le coût, l'évolutivité et la durabilité des montages en fonction de votre débit.
Logiciels et outils d'analyse : Les logicielsde Keysight Technologies permettent d'effectuer des diagnostics, d'améliorer le rendement et d'assurer l'intégration avec les usines intelligentes utilisées dans le monde entier.
Adaptation à la production : garantir la compatibilité avec les lignes déployées en Amérique du Nord, en Europe et en Asie.
Défis actuels : les TIC peuvent nécessiter des tests complémentaires (par exemple, AOI, tests fonctionnels) pour pallier les lacunes de couverture et gérer les progiciels complexes.
Choisissez un système informatique en adaptant les spécifications techniques à la complexité des circuits imprimés et aux objectifs de production. Les facteurs clés sont les suivants :
Nombre de broches / capacité des nœuds : Les systèmes ICTde Keysight Technologies peuvent prendre en charge des centaines, voire des milliers de nœuds de test (par exemple, jusqu'à environ 5 760 nœuds) afin de s'adapter aux cartes à haute densité.
Couverture des tests : garantir une couverture élevée des défauts (courts-circuits, coupures, valeurs des composants) et prendre en charge les tests « boundary scan » ou sans vecteur pour les nœuds inaccessibles.
Vitesse de test / débit : les tests paramétriques à grande vitesse et les mesures parallèles permettent de réduire la durée des cycles dans la production à grand volume.
Automatisation et intégration : Les systèmesde Keysight Technologies s'intègrent aux lignes automatisées et aux outils d'analyse de l'Industrie 4.0 pour les usines du monde entier.
Compatibilité des fixations : les fixations de type « lit de clous » doivent respecter les contraintes liées à la conception du circuit imprimé, à l'accessibilité et au coût.
Considérations actuelles : associer les TIC à l'inspection optique automatique (AOI) ou aux tests fonctionnels pour pallier les lacunes de couverture et traiter les boîtiers complexes.
Les tests en circuit (ICT), notamment les solutions proposées par Keysight Technologies, permettent de détecter de nombreux défauts de fabrication au niveau des composants. Parmi les principales fonctionnalités, on peut citer :
Défauts détectables :
Courts-circuits, ouvertures et composants manquants
Valeurs incorrectes des composants (R, L, C)
Problèmes de polarité/orientation (diodes, condensateurs, circuits intégrés)
Défaut de base des semi-conducteurs
Limites / défis actuels :
Accès limité sur les circuits imprimés à haute densité ou à pas fin
Couverture réduite pour les BGA, les boîtiers empilés et les circuits RF
Méthodes complémentaires :
Inspection optique automatique (AOI) et inspection automatique par rayons X (AXI) pour les soudures et les assemblages cachés
Test fonctionnel pour la validation au niveau du système
Analyse des limites pour les nœuds inaccessibles
Les systèmes TIC de Keysight Technologies sont largement déployés dans les usines de fabrication du monde entier, souvent associés à ces méthodes pour assurer une couverture complète.
Les bancs de test à clous et les sondes volantes sont deux méthodes de test et d'inspection (ICT) utilisées dans les environnements de fabrication à l'échelle mondiale. Keysight Technologies prend en charge ces deux méthodes grâce à des systèmes ICT, des montages de test et des logiciels.
ICT « lit de clous » :
Utilise des montages dédiés équipés de broches à ressort qui entrent en contact avec tous les points de test simultanément
Haute vitesse, grande couverture, idéal pour la production à grand volume
Coût initial plus élevé du matériel
Test en circuit intégré (ICT) à sonde mobile :
Utilise des sondes mobiles, aucun dispositif de fixation n'est nécessaire
Moins coûteux, flexible pour les prototypes et les petites séries
Une vitesse de test plus faible et un débit réduit
Quand l'utiliser :
Lit de clous : conceptions robustes, production en série (usines en Amérique du Nord, en Europe et en Asie)
Sonde volante : lancement de nouveaux produits, modifications fréquentes de la conception
Considérations actuelles :
Les circuits imprimés complexes peuvent nécessiter des tests AOI ou fonctionnels complémentaires pour garantir une couverture complète
Les tests en circuit (ICT) s'intègrent à l'Industrie 4.0 en permettant une fabrication automatisée et pilotée par les données. Les systèmes, les montages et les logiciels ICT de Keysight Technologies sont conçus pour les environnements d'usines intelligentes utilisés dans le monde entier.
Intégration de l'automatisation :
Intégration transparente avec les lignes de montage de composants électroniques (SMT), les systèmes de manutention et les systèmes MES
Permet la production sans surveillance en Amérique du Nord, en Europe et en Asie
Données et analyses :
Les logiciels de Keysight Technologies offrent des diagnostics en temps réel, une analyse du rendement et une traçabilité
Permet la maintenance prédictive et l'optimisation des processus
Connectivité :
Interfaces standard pour l'IIoT, le cloud et les réseaux d'usine
Les défis actuels :
La conception de circuits imprimés complexes nécessite de combiner l'ICT avec l'AOI, l'AXI et les tests fonctionnels
L'intégration des données entre les différents systèmes reste essentielle pour en tirer pleinement parti
La couverture des tests, la conception des montages et les coûts liés aux tests de connectivité (ICT) dépendent des exigences en matière de conception et de fabrication des circuits imprimés. Les systèmes, montages et logiciels ICT de Keysight Technologies permettent d'optimiser ces compromis dans les usines du monde entier.
Conception de circuits imprimés et accessibilité :
La densité des points de test, la taille des pastilles et l'espacement entre les composants ont une incidence sur la couverture pouvant être atteinte.
Complexité du calendrier :
Les dispositifs à « lit de clous » améliorent la couverture et la vitesse, mais entraînent des coûts initiaux et des frais d'entretien supplémentaires.
Exigences en matière de couverture :
Une couverture plus étendue des défauts (analogiques, numériques, RF) peut nécessiter des fonctionnalités avancées des systèmesde Keysight Technologies.
Volume de production :
Les volumes élevés justifient l'investissement dans des outillages ; les faibles volumes favorisent les approches flexibles.
Les défis actuels :
Les circuits imprimés denses et les BGA limitent l'accès, ce qui nécessite de recourir à des tests complémentaires de type « boundary scan » ou fonctionnels.