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Systèmes de test parallèles
Tests évolutifs et flexibles pour les assemblages de cartes complexes
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Analyseurs à balayage de frontière
Isolation efficace des défauts avec une précision au niveau des broches
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Systèmes de test fonctionnel
Système de test fonctionnel intégré pour des résultats de production fiables
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Systèmes de test en circuit
Détection précise des défauts pour les cartes à haute densité
Systèmes de test parallèles
Les systèmes de test parallèles Keysight offrent des solutions polyvalentes et évolutives adaptées à divers besoins en matière de tests de fabrication. Le Advanced propose une plateforme compacte et économique pour les tests de circuits imprimés à signaux mixtes, dotée de capacités intégrées de test analogique, numérique et boundary scan. Il simplifie le développement et l'intégration des tests, ce qui le rend particulièrement adapté aux environnements de production allégée. Expert offre un débit inégalé pour les applications exigeantes, avec des milliers de canaux de test simultanés, une architecture modulaire et une couverture complète, incluant les tests en circuit, boundary scan et fonctionnels. Ce système excelle dans la fabrication à forte mixité et à haut volume, offrant des diagnostics rapides et une intégration transparente de l'automatisation. Découvrez notre large gamme de systèmes de test parallèles, allant des niveaux de performance avancés aux niveaux experts, afin de trouver celui qui convient à votre application. Besoin d'aide pour choisir ? Consultez les ressources ci-dessous.
Advanced
Expert
Analyseurs à balayage de frontière
Les analyseurs de balayage des limites Keysight offrent des capacités de test numérique avancées pour les cartes à haute densité, permettant une isolation précise des défauts sans nécessiter d'accès physique à une sonde. Le système est conçu pour des tests structurels efficaces et fournit des diagnostics rapides des interconnexions, des courts-circuits, des circuits ouverts et des défauts bloqués dans des assemblages numériques complexes. Grâce à son intégration transparente dans les systèmes de test en circuit et fonctionnels, le boundary scan prend en charge les chaînes de scan basées sur JTAG. Il permet d'accéder à des réseaux difficiles à atteindre, ce qui réduit le temps de développement des tests et améliore la couverture. Découvrez nos solutions de boundary scan pour trouver celle qui convient à votre application. Vous avez besoin d'aide pour faire votre choix ? Consultez les ressources ci-dessous.
Systèmes de test fonctionnel
Les systèmes de test fonctionnel Keysight offrent une solution modulaire et flexible pour tester des assemblages électroniques complexes. Grâce à ses mesures de précision, sa commutation haute densité, son alimentation configurable et son acquisition de signaux synchronisée, le système prend en charge un large éventail d'applications analogiques, numériques et à signaux mixtes. L'automatisation intégrée et la surveillance en temps réel rationalisent le développement des tests et améliorent la couverture, ce qui le rend idéal pour valider des dispositifs tels que les calculateurs automobiles, les contrôleurs industriels et les cartes embarquées. Découvrez notre large gamme de systèmes de test fonctionnel pour trouver celui qui convient à votre application. Vous avez besoin d'aide pour faire votre choix ? Consultez les ressources ci-dessous.
Systèmes de test en circuit
Les systèmes de test en circuit Keysight offrent des solutions hautes performances et évolutives pour tester des cartes de circuits imprimés complexes et densément peuplées dans le cadre d'une production à grand volume. Grâce à des configurations de broches flexibles, à la prise en charge du balayage des limites, à des capacités de test sans vecteur et à des mesures analogiques programmables, ces systèmes garantissent une détection rapide et précise des défauts d'assemblage tels que les défauts de soudure, les composants mal orientés et les valeurs erronées. Les diagnostics intégrés, les outils de développement de tests intuitifs et l'intégration prête pour l'automatisation rationalisent les flux de production tout en réduisant les faux positifs et en améliorant le rendement dès le premier passage. Découvrez notre large gamme de systèmes de test en circuit pour trouver celui qui convient à votre application. Besoin d'aide pour faire votre choix ? Consultez les ressources ci-dessous.
Renforcer la confiance dans les tests électroniques automobiles
L'électronique automobile nécessite des tests précis et complets afin de garantir sa fiabilité et sa sécurité. Les systèmes de test en circuit de Keysight offrent des fonctionnalités clés telles que les mesures à faible courant, les tests de supercondensateurs, les diagnostics LED et la détection rapide des courts-circuits, qui sont idéales pour les modules tels que les calculateurs électroniques, les contrôleurs de moteur et les cartes de capteurs. Les solutions à haut débit testent efficacement les cartes compactes en parallèle, tandis que les outils de scan des limites améliorent la couverture des nœuds inaccessibles. Ensemble, ces outils garantissent les performances et la qualité des composants électroniques automobiles, qu'ils soient très complexes ou peu complexes.
Découvrez les logiciels et accessoires compatibles avec votre solution de test en circuit pour la fabrication.
Choisissez parmi une large gamme de logiciels de test en circuit pour une génération rationalisée des programmes de test, un diagnostic avancé des défauts et une couverture de test améliorée. Complétez votre système ICT avec des accessoires tels que des kits de fixation, des modules de sonde, des outils de scan des limites, des assemblages de câbles, des plaques de capteurs, des sondes simples, etc.
Découvrez les tests en circuit pour les cas d'utilisation en fabrication
Les tests en circuit pour la fabrication prennent en charge un large éventail de tests dans divers secteurs industriels. Découvrez-les tous.
Fabrication
Comment effectuer des mesures de faible courant sur les cartes de circuits imprimés ?
Intégrer une unité de mesure de source dans le testeur en circuit.
Fabrication
Comment intégrer un testeur en circuit dans l'industrie 4.0
Le testeur en circuit et IPC-CFX permettent la mise en place d'usines Industrie 4.0.
Fabrication
Comment accélérer les tests courts pour les nœuds à haute impédance ?
Mettre en œuvre l'algorithme amélioré pour les tests courts dans un système de test en circuit afin de réduire la durée des tests courts.
Services et assistance
Innovez rapidement grâce à des plans d'assistance personnalisés et à des délais de réponse et d'exécution prioritaires.
Bénéficiez d'abonnements prévisibles basés sur un contrat de location et de solutions de gestion du cycle de vie complet afin d'atteindre plus rapidement vos objectifs commerciaux.
Bénéficiez d'un service haut de gamme en tant qu'abonné KeysightCare pour obtenir une assistance technique dédiée et bien plus encore.
Assurez-vous que votre système de test fonctionne conformément aux spécifications et respecte les normes locales et internationales.
Effectuez rapidement des mesures grâce à des formations internes dispensées par des instructeurs et à l'apprentissage en ligne.
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Questions fréquemment posées
Le test en circuit (ICT) est essentiel pour vérifier la qualité électrique et structurelle des cartes de circuits imprimés (PCB) immédiatement après la phase d'assemblage. Il garantit que chaque composant, tel que les résistances, les condensateurs, les diodes et les circuits intégrés, est correctement placé, orienté et soudé à la carte. Cela comprend la vérification des circuits ouverts, des courts-circuits, des composants manquants ou incorrects et des joints de soudure défectueux. En identifiant ces défauts avant la mise sous tension, l'ICT réduit le risque d'endommagement des composants et empêche les cartes défectueuses de progresser dans la chaîne de production. Cette approche proactive des tests améliore le rendement et la fiabilité des produits et réduit considérablement les coûts de réparation et de retouche, contribuant ainsi à des opérations de fabrication plus efficaces et plus fiables.
Les tests en circuit (ICT) et les tests fonctionnels ont des objectifs différents dans le processus de fabrication des circuits imprimés. Les tests ICT sont effectués sur une carte non alimentée à l'aide d'un dispositif à lit de clous ou d'un système à sondes mobiles. Ils isolent électriquement chaque composant afin de vérifier son emplacement, son orientation, sa valeur et l'intégrité de la soudure. Ce test permet d'identifier rapidement les défauts structurels tels que les circuits ouverts, les courts-circuits, les composants incorrects et les problèmes de soudure avant la mise sous tension, ce qui minimise les risques et les coûts de réparation.
Les tests fonctionnels, quant à eux, sont effectués après les tests ICT et consistent à mettre la carte sous tension afin de simuler son environnement d'exploitation réel. Ils permettent de valider le comportement de la carte, en vérifiant que les entrées et sorties répondent correctement, que les microcontrôleurs exécutent le code et que les fonctions au niveau du système fonctionnent comme prévu. Ce test vérifie les performances, la synchronisation et l'interaction entre les composants, ce que les tests ICT ne peuvent pas détecter.
En résumé, les TIC garantissent que la carte est correctement construite, tandis que les tests fonctionnels garantissent qu'elle fonctionne correctement. Les deux sont complémentaires et souvent utilisés conjointement pour assurer une couverture de test élevée et des performances fiables du produit.
Absolument. Les tests en circuit (ICT) sont spécialement conçus pour les environnements de fabrication à grand volume. Ils offrent des tests rapides, reproductibles et automatisés, ce qui les rend idéaux pour les lignes produisant des centaines ou des milliers de cartes de circuits imprimés (PCB) chaque jour. Les dispositifs de test sont conçus pour un chargement rapide et sécurisé des cartes, tandis que des séquences logicielles automatisées contrôlent le processus de test avec une intervention humaine minimale. La durée typique des tests varie de quelques secondes à moins d'une minute par carte, ce qui permet un débit rapide. Sa couverture élevée des défauts et ses résultats cohérents garantissent l'efficacité de la production et la qualité des produits à grande échelle.
Les circuits imprimés modernes sont de plus en plus complexes, avec des densités de composants plus élevées, des formats plus petits et l'utilisation généralisée de la technologie de montage en surface (SMT) et des conceptions multicouches. Ces tendances limitent l'accès aux tests physiques, réduisent le nombre de plots de test disponibles pour les sondes et rendent la conception des fixations plus difficile en raison de la densité des composants. De plus, les tests ICT ne permettent pas de tester efficacement les dispositifs programmables, les circuits intégrés cryptés ou les composants dont l'accès électrique est limité ou inexistant (par exemple, les BGA ou les composants passifs intégrés). Par conséquent, les tests ICT doivent souvent être complétés par des tests boundary scan ou fonctionnels afin d'obtenir une couverture complète.
Le test en circuit (ICT) améliore la qualité de fabrication en détectant les défauts d'assemblage dès le début de la production, avant que la carte ne soit mise sous tension. En vérifiant le placement, l'orientation et l'intégrité électrique des composants, l'ICT prévient les défauts latents qui pourraient causer des pannes intermittentes sur le terrain. Son caractère automatisé et reproductible garantit une inspection cohérente tout au long de la production à grand volume, réduisant ainsi la variabilité. En identifiant les composants manquants, les ponts de soudure et les valeurs erronées, l'ICT contribue à maintenir la fiabilité des produits, à réduire les taux de retouche et à augmenter le rendement et la satisfaction des clients.