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Analyse des canaux latéraux pré-silicium Inspector SC2

Détectez, localisez et atténuez les fuites par canal latéral avant la validation de la conception (tape-out). L'analyse des canaux latéraux pré-silicium Inspector SC2 permet aux équipes chargées de la sécurité matérielle, de la conception et de la vérification d'identifier les vulnérabilités liées aux canaux latéraux dès la phase de conception et de développement, avant la fabrication du silicium (pré-silicium). Alors que les tests post-silicium traditionnels permettent de déterminer si des fuites existent dans un dispositif fabriqué, l’analyse des canaux latéraux pré-silicium d’Inspector SC2 offre une visibilité sur l’origine des fuites au sein de la conception, aidant ainsi les équipes à identifier la cause première et à évaluer des stratégies d’atténuation plus tôt dans le cycle de vie du développement. En analysant les conceptions au niveau du transfert de registres (RTL), la liste d’interconnexions synthétisée et au niveau des portes à l’aide de vecteurs de test et de données d’activité de conception, l’analyse des canaux latéraux pré-silicium d’Inspector SC2 identifie les signaux qui fuient, l’ampleur de la fuite, le moment où elle se produit et son origine au sein de la conception. Cette visibilité permet aux équipes de valider les contre-mesures, de comparer différentes alternatives de conception et de réduire le coût et le risque liés à la découverte de vulnérabilités après la fabrication.

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Points forts

L'analyse des canaux latéraux en amont de la fabrication (Pre-Silicon Side-Channel Analysis) d'Inspector SC2 aide les équipes spécialisées dans les semi-conducteurs à détecter et à localiser les fuites par canaux latéraux avant la validation de la conception (tape-out), à un stade où les modifications de conception sont plus rapides, moins coûteuses et plus faciles à mettre en œuvre.

À l'aide de vecteurs de test, de fichiers d'activité VCD et de modèles de consommation optionnels générés via des workflows existants d'automatisation de la conception électronique (EDA), Inspector analyse les conceptions au niveau RTL, de la liste d'interconnexions synthétisée et au niveau des portes logiques afin d'identifier les fuites, d'en mesurer la gravité et de localiser avec précision les signaux et les modules responsables. Grâce à une analyse des causes profondes exploitable, les équipes peuvent valider des contre-mesures, comparer les options de mise en œuvre et comparer les fuites entre les conceptions RTL, les listes d'interconnexions synthétisées et les conceptions au niveau des portes afin d'identifier les modifications introduites au cours du cycle de conception.

  • Détecter les fuites par canal latéral avant la mise en production (phase pré-silicium), lorsque les modifications de conception sont encore réalisables et rentables.
  • Compléter les tests traditionnels post-silicium en identifiant les vulnérabilités plus tôt dans le cycle de développement.
  • Identifiez automatiquement la cause première des fuites, jusqu’aux signaux, portes logiques et modules spécifiques.
  • Identifiez les signaux qui présentent des fuites, l'ampleur de ces fuites et le moment où elles se produisent à l'aide d'indicateurs quantitatifs de fuite.
  • Évaluer l'efficacité des contre-mesures contre les attaques par canal latéral et comparer différentes implémentations.
  • Analyser les conceptions RTL, les listes d'interconnexions synthétisées et les conceptions au niveau des portes tout au long du cycle de développement.
  • Détecter les fuites apparues au cours de la synthèse et de l'optimisation, à mesure que les conceptions évoluent.
  • Assurer la validation continue de la sécurité et les tests de régression.
  • Permettre aux équipes de conception et de vérification, et pas seulement aux spécialistes de la sécurité, d'identifier et de résoudre les problèmes de sécurité.
  • Générez des rapports et des visualisations personnalisables à l'aide de scripts Python pour les flux de travail internes, les révisions et les activités de certification.
  • Réduire les efforts liés aux tests post-silicium, les risques liés à la certification et les coûteuses modifications de conception après la fabrication.
  • Évaluer les compromis en matière de sécurité tout en tenant compte des aspects liés aux performances, à la consommation électrique et à la surface.

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