L'analyseur de réseau vectoriel ENA le plus flexible et le plus intégré du secteur
Les dispositifs hautement intégrés nécessitent une solution de mesure RF et hyperfréquence offrant une caractérisation complète. L'analyseur de réseau vectoriel (VNA) Keysight E5080B offre des performances de R&D jusqu'à 53 GHz et une flexibilité de test avancée. La gamme dynamique, le bruit de trace et la stabilité en température garantissent la fiabilité et la répétabilité.
Le VNA E5080B permet une caractérisation complète des composants passifs, amplificateurs, mélangeurs et convertisseurs de fréquence. Des sources CC intégrées, des Té de polarisation, des générateurs d'impulsions, des modulateurs d'impulsions et une deuxième source interne permettent d'effectuer davantage de mesures sur un seul instrument. Obtenez des informations plus approfondies grâce à des applications logicielles telles que l'analyse spectrale, les mesures de mélangeurs et le facteur de bruit.
Le modèle E5080B utilise la même technologie de mesure que les autres analyseurs de réseau vectoriels Keysight, tels que les modèles PNA, PXI et USB VNA. La plate-forme logicielle commune facilite l'équilibre entre les besoins en matière de mesure, de performances et de budget. Cette communalité garantit la cohérence et la répétabilité des mesures, ainsi qu'une interface de programmation à distance commune pour les instruments de R&D et de fabrication.
- choisissez entre une option à 2 ou 4 ports
- sélectionnez une gamme de fréquences comprise entre 9 kHz et 4,5/6,5/9/14/20 GHz
ou entre 100 kHz et 26,5/32/44/53 GHz
- Réalisez une caractérisation complète des appareils grâce à des
sources CC intégrées en option, des T de polarisation, des générateurs d'impulsions et des modulateurs d'impulsions.
- performances du dispositif de capture avec une large plage dynamique de 140 dB
- Testez en toute confiance, de la R&D à la production, en utilisant la même interface utilisateur et les mêmes commandes SCPI que les analyseurs de réseau PNA haut de gamme.
- Améliorez le débit à l'aide de l'analyse spectrale, des mesures RF pulsées, des mesures du mélangeur vectoriel, du facteur de bruit et d'autres applications logicielles sur un seul instrument.
