Prueba de nodos de alta impedancia con un algoritmo de prueba corta mejorado
Para comprobar la presencia de cortocircuitos en conjuntos de placas de circuito impreso (PCBA), es necesario medir la resistencia entre nodos aislados. Este método consiste en inyectar una pequeña corriente a través del circuito y verificar la impedancia resultante entre los nodos. Sin embargo, las pruebas cortas para nodos de alta impedancia requieren un método de medición mucho más preciso para detectar los cambios mínimos de impedancia.
Las pruebas cortas de nodos de alta impedancia requieren un tiempo prolongado para estabilizar la tensión o la corriente y obtener una lectura precisa. Debido a la mayor sensibilidad del nodo, mantener la estabilidad de la señal y minimizar las influencias externas son aspectos cruciales del proceso de prueba. La duración prolongada y corta de las pruebas para nodos de alta impedancia no es adecuada para la fabricación a gran escala.
Solución de prueba corta mejorada
La comprobación de cortocircuitos en nodos de alta impedancia requiere más tiempo para estabilizar el voltaje o la corriente y obtener una lectura precisa. El sistema de pruebas en circuito (ICT) de alta densidad i3070 de Keysight cuenta con un algoritmo mejorado que reduce significativamente el tiempo de prueba. Se logra un ciclo de prueba más eficiente al reducir considerablemente el número de iteraciones necesarias para identificar cortocircuitos en los nodos de alta impedancia. Este avance reduce el tiempo de prueba sin comprometer la integridad de la prueba. Este algoritmo mejorado consta de dos fases: detección y aislamiento. El nuevo algoritmo mejoró el rendimiento entre un 30 % y un 50 % en las pruebas de laboratorio.
Cómo acelerar las pruebas cortas en nodos de alta impedancia
E9988GL Sistema ICT en línea de alta densidad; Serie 7i
El sistema E9988GL Keysight i3070 Series 7i Inline High-Density In-Circuit Test (ICT) lleva las tecnologías ICT a su línea de fabricación automatizada, ahorrando recursos y optimizando su estrategia de pruebas automatizadas.
