Cómo realizar la prueba LIV para dispositivos VCSEL

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Unidad de medida de la fuente de precisión
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Realización del ensayo LIV con salida de corriente de pulsos estrechos

Las pruebas de corriente de luz y tensión (LIV) de los dispositivos láser de emisión superficial de cavidad vertical (VCSEL) requieren un control preciso de la corriente de inyección (I) y la medición de la potencia de salida de luz (L). El proceso de prueba consiste en variar sistemáticamente la corriente, medir la salida de luz correspondiente y registrar la tensión (V) aplicada. Los ingenieros de pruebas pueden utilizar las unidades de fuente / medida (Unidad de Alimentación y Medida) para proporcionar una fuente de corriente programable para aplicar una amplia gama de corrientes al VCSEL. También necesitan fotodetectores de alta velocidad para captar la luz emitida y medir su potencia con precisión. Los ingenieros pueden trazar estos puntos de datos para crear la curva LIV, que proporciona una comprensión detallada de las características de rendimiento del VCSEL en diferentes condiciones de funcionamiento.

El principal reto consiste en realizar pruebas que mitiguen el impacto del autocalentamiento en el diodo y garanticen unos resultados de medición precisos. Las variaciones de temperatura influyen significativamente en el comportamiento de los diodos láser. A medida que aumenta la temperatura, la eficacia del láser tiende a disminuir. Los ingenieros de pruebas necesitan una capacidad de salida de impulsos más estrecha para suprimir el efecto de autocalentamiento y una frecuencia de muestreo de alta velocidad para capturar los impulsos de corriente / tensión rápidos y extremadamente estrechos para validar las características dinámicas. También es necesario medir de forma sincrónica la corriente del fotodetector (PD) durante la emisión de luz pulsada del diodo láser (LD). Esto requiere un control preciso de la sincronización entre el LD y el PD dentro del software de medición y la Unidad de Alimentación y Medida.

Solución de prueba LIV de pulso estrecho

La caracterización de dispositivos VCSEL requiere una solución que pueda mitigar el impacto del autocalentamiento en el diodo, garantizando resultados de medición precisos. La solución de ensayo LIV de pulsos estrechos de Keysight es una solución completa que permite a los ingenieros realizar ensayos LIV en profundidad en diversas condiciones de funcionamiento, especialmente a niveles de corriente y tensión ultrabajos. La solución ofrece 20 canales Unidad de Alimentación y Medida en un espacio de rack compacto de 1U. Integra un pulsador y un digitalizador para eliminar la necesidad de varios instrumentos y agilizar considerablemente el proceso de prueba. El software de medición de curvas IV que lo acompaña proporciona una ejecución de las pruebas rápida y sin necesidad de programación.
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