Analizador dinámico de dispositivos de potencia/Probador de doble pulso

Como solución de medición estándar, el PD1500A proporciona mediciones fiables y repetibles de semiconductores de banda ancha. La plataforma garantiza la seguridad del usuario y la protección del hardware de medición del sistema.

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  • Maximum output current

    200 A

  • Minimum current measurement resolution

    10 fA

  • Maximum output voltage

    1200 V

  • Supported measurements

    Turn-on, Turn-off, Switching, Dynamic on-resistance, Gate charge, Reverse recovery, Dynamic voltage / current

  • Number of channels

    8

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Destacados

  • Medición fiable y repetible de las características dinámicas de los semiconductores de potencia de banda ancha (SiC, GaN).
  • Las características medidas incluyen encendido, apagado, conmutación, recuperación inversa, carga de puerta y muchas otras.
  • Entorno de prueba seguro tanto para el DUT como para el usuario.
  • Plataforma modular, ampliable y actualizable que permite realizar pruebas en todos los dispositivos de potencia.

Como solución de medición estándar, el PD1500A proporciona mediciones fiables y repetibles de semiconductores de banda ancha. La plataforma garantiza la seguridad del usuario y la protección del hardware de medición del sistema.

La capacidad de garantizar resultados DPT repetibles se basa en la experiencia de Keysight en ciencia de la medición. Algunos ejemplos son las innovaciones en pruebas de alta frecuencia (rango de gigahercios), baja fuga (rango de femtoamperios) y potencia pulsada (corriente de 1500 A, resolución de 10 μs). Como resultado, Keysight se encuentra en una posición única para ayudarle a superar los retos de la caracterización dinámica de semiconductores de potencia.

El PD1500A incluye técnicas de medición estándar, como compensación de sonda, ajuste de offset, corrección de desviación y rechazo de ruido en modo común. Estas técnicas se utilizan dentro de una topología y un diseño de medición innovadores. Se ha desarrollado específicamente para este sistema una rutina de calibración semiautomática (AutoCal) que corrige los errores de ganancia y offset del sistema. El sistema también utiliza técnicas de desincrustación para compensar los parásitos inductivos en la derivación de corriente.

JEDEC es líder mundial en el desarrollo de estándares abiertos y publicaciones para la industria microelectrónica. Los comités de JEDEC proporcionan liderazgo industrial en el desarrollo de estándares para una amplia gama de tecnologías.

Comité JEDEC: JC-70 Semiconductores de conversión electrónica de potencia de banda ancha
Las normas JEDEC reconocieron la necesidad de proporcionar normas WBG para la industria de semiconductores de potencia. En septiembre de 2017, se formó el comité JC70 de semiconductores de conversión electrónica de potencia de banda ancha para GaN JC70.1 y SiC JC-70.2. Cada sección cuenta con tres grupos de trabajo que se centran en los procedimientos de fiabilidad y cualificación, los elementos y parámetros de las hojas de datos, y los métodos de prueba y caracterización.

Keysight participa activamente en el desarrollo de estas normas.

A medida que JEDEC continúa definiendo las pruebas dinámicas de los dispositivos WBG, están empezando a surgir algunas pruebas estandarizadas. El PD1500A DPT de Keysight determina estos parámetros clave de rendimiento:

  • Características de encendido
  • Características de desconexión
  • Resistencia dinámica a la conexión
  • Corriente y tensión dinámicas
  • Características de conmutación
  • Recuperación inversa
  • Precio de la puerta
  • Características de salida derivadas