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IDIOMA
Banco de pruebas de seguridad para sistemas embebidos Inyección de fallos
Modelo: DS1070A
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Generador de patrones de fallos
El generador de patrones de fallos DS1070A ofrece una generación precisa de formas de onda y un control de sincronización para pruebas avanzadas de inyección de fallos. Al combinar la generación de señales de alta velocidad con el procesamiento basado en FPGA, permite realizar experimentos repetibles de inyección de fallos de tensión, reloj, electromagnéticos (EM) y láser para detectar vulnerabilidades en dispositivos integrados.
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Technology
Device Security
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Product type
Glitch pattern generator
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Destacados
El DS1070A ofrece las capacidades de generación de formas de onda necesarias para realizar pruebas avanzadas de inyección de fallos, lo que permite un control preciso de la sincronización de los fallos y de las características de la señal para llevar a cabo evaluaciones de seguridad repetibles.
El DS1070A ofrece las siguientes características:
- Admite aplicaciones de inyección de fallos de tensión, reloj, electromagnéticos (EM) y láser
- Genera formas de onda analógicas de alta velocidad desde CC hasta 400 MHz
- Ofrece cuatro canales independientes de generación de formas de onda
- Ofrece una resolución de 14 bits para la generación precisa de formas de onda
- Permite un control de sincronización en el orden de los subnanosegundos para una sincronización precisa de la inyección de fallos
- Admite la personalización basada en FPGA para el modelado avanzado de glitches y flujos de trabajo definidos por el usuario
- Convierte las formas de onda generadas en señales de nivel de tensión adecuadas para la inyección de fallos a través de la tarjeta de interfaz DS1004A
- Incluye secuencias de bits optimizadas para la inyección de fallos y la generación de perturbaciones
- Permite un control preciso de la sincronización, la amplitud y las características de la forma de onda de los glitches
- Permite realizar experimentos de inyección de fallos automatizados y repetibles
- Se integra en entornos más amplios de pruebas de seguridad para sistemas embebidos y en flujos de trabajo personalizados
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