Methoden der Polarisationsausrichtung

Erläuterung und Programmierung zur Ausrichtung der optischen Polarisation auf Geräte und Sonden

N7786B Polarisationssynthesizer

Dieses Datenblatt beschreibt den Polarisationssynthesizer N7786B. Der N7786B enthält einen schnellen, auf Lithiumniobat basierenden Polarisationscontroller, einen Polarisationsanalysator sowie eine mikrocontrollerbasierte Ansteuerschaltung.

E3846A Polaritätsprüftechnologie

Die Keysight-Polaritätsprüfungstechnologie erweitert das Keysight 3070 Series 3-System um die Fähigkeit, verpolte Kondensatoren sicher und automatisch zu erkennen. Das innovative Messverfahren nutzt neue Technologien, die für eine stabile und umfassende Testlösung entwickelt wurden.

N778xC Polarisationstest-Produkte

Die neuen N778xC Polarisationstestprodukte ermöglichen eine schnelle und leistungsstarke Charakterisierung und Verifizierung von optischen Komponenten und Subsystemen

N7784B Hochgeschwindigkeits-Polarisationsregler

Dieses Datenblatt beschreibt den Polarisationsregler, der einen Hochgeschwindigkeits-Polarisationsregler sowie eine mikrocontrollerbasierte Ansteuerschaltung enthält. Das Gerät kann in verschiedenen Betriebsmodi betrieben werden.

Polarisationsabhängige Verlustmessung (PDL)

Diese App Note beschreibt den Prozess der polarisationsabhängigen Verlustmessung (PDL) unter Verwendung des Polarisationscontrollers 8169A.

Methoden für PER- und PDL-Messungen mit einem Polarisations-Scrambler

Erfahren Sie, wie ein synchroner Polarisations-Scrambler so programmiert werden kann, dass er für eine schnelle PER- und PDL-Messung wiederholbar über eine Sequenz von Polarisationszuständen schreitet.

Verbesserte Polaritätsprüfung für höhere Genauigkeit und Zuverlässigkeit

Dieses Whitepaper untersucht die verbesserte Polaritätsprüfungstechnologie für SMD-J-Lead-Tantalkondensatoren und bietet eine genauere und effizientere Methode zur Ausrichtungserkennung.

Messung des polarisationsabhängigen Verlusts von optischen Komponenten

Polarisationsabhängige Dämpfung und Einfügedämpfung sind wichtig für optische Komponenten, die in faseroptischen Kommunikationssystemen verwendet werden. Erforschen Sie verschiedene Ansätze für die Prüfung!

Orientierungsprüfung für gepolte Kondensatoren in der ICT-Testplattform

Erfahren Sie, warum es wichtig ist, einen falsch gepolten Kondensator zu erkennen und ihn so früh wie möglich zu reparieren. Lesen Sie mehr.

Silizium-Nanodraht-Polarisationsrotator

Diese RSoft-Produktanwendungsbeschreibung veranschaulicht einen ultrakleinen passiven Polarisationsrotator, der einfach herzustellen und zu bedienen ist.

Effiziente und genaue BPM-Simulation einer Polarisation

Wie ein auf Silizium basierender Polarisationswandler-Splitter mit BPM effizient und genau simuliert werden kann, zeigt, dass BPM eine Genauigkeit auf FDTD-Niveau erreicht und gleichzeitig die Rechenzeit und den Speicherbedarf um mehrere Größenordnungen reduziert.

Wellenlängenabhängige Polarisationsmessung

Programmierung der Polarimeteraufzeichnung synchronisiert mit dem abstimmbaren Laserscanning.

All-States-Methode für PDL- oder PER-Synchron-Polarisations-Scrambler

Erläuterung und Programmierung für die Allzustandsmessung von PDL oder PER

Schnelle Sweep-Messungen der polarisationsabhängigen Verluste (PDL)

In diesem Anwendungshinweis wird ein Ansatz beschrieben, mit dem die Messzeit für polarisationsabhängige Verlustmessungen (PDL) erheblich reduziert werden kann.

Linear polarisierte Resonanzschleifensensoren (E-Pods)

Lösungsbroschüre mit MWI über Resonanzschleifensensoren unter Verwendung von Keysight-Vektor-Netzwerkanalysatoren.

N7782B PER-Analysator und N7783B Thermocycling-Einheit

Die in diesem Datenblatt vorgestellten Sensoren N7782B und N7783B ermöglichen eine schnelle und genaue Messung des Polarisationsauslöschungsverhältnisses optischer Signale in polarisationserhaltenden Fasern (PMF).

CWDM- und LWDM-Komponenten Wellenlängen- und Polarisationstest

Konfigurieren von Testlösungen für den Test von CWDM- und LAN-WDM-Komponenten.

Photonic Application Suite: Lambda-Scan-Software für abstimmbare Lasersysteme

Eine Sammlung von fortgeschrittenen und grundlegenden Software-Tools zur Automatisierung optischer Messungen und Analysen, insbesondere zur Bestimmung der Wellenlängen- und Polarisationsabhängigkeit von Glasfasernetzwerkkomponenten.

Optische Tests auf Wafer- und Chipebene

Sehen Sie, wie das N7700 Lambda Scan-Testsystem integrierte Photonik mit Polarisationsausrichtung für optische Tests von Wafern und Chips unterstützt.