NX5402A 실리콘 포토닉스 웨이퍼 테스트 시스템 솔루션 세트

이 전단지는 NX5402A 실리콘 포토닉스 웨이퍼 테스트 솔루션 및 시스템 개요에 대한 정보를 제공합니다.

REFLET 180S - 2D/3D 산란광 측정 장비

키사이트 REFLET 180S는 모든 종류의 재료 및 물체의 산란 특성 분석을 위한 소형 전동식 광학 시스템입니다.

편광 정렬 방법

디바이스 및 프로브에 광 편광을 정렬하기 위한 설명 및 프로그래밍

N7786B 편광 합성기

이 데이터 시트는 N7786B 편광 신시사이저에 대해 설명합니다. N7786B는 고속 리튬-나이오베이트 기반 편광 컨트롤러와 편광 분석기, 그리고 마이크로컨트롤러 기반 구동 회로를 포함합니다.

N778xC 편광 테스트 제품

새로운 N778xC 편광 테스트 제품은 광학 부품 및 서브시스템의 고속, 고성능 특성화 및 검증을 가능하게 합니다.

N7784B 고속 편광 컨트롤러

이 데이터 시트는 고속 편광 컨트롤러와 마이크로컨트롤러 기반 구동 회로를 포함하는 편광 컨트롤러에 대해 설명합니다. 이 장치는 다양한 모드로 작동할 수 있습니다.

편광 스크램블러를 이용한 PER 및 PDL 측정 방법

동기식 편광 스크램블러를 편광 상태 시퀀스를 통해 반복 가능한 스텝핑으로 프로그래밍하여 빠른 PER 및 PDL 측정을 수행하는 방법을 알아보십시오.

높은 굴절률 대비를 갖는 모드 진화 기반 편광 회전기의 시뮬레이션

빔 전파법(Beam Propagation Method) 시뮬레이션이 고굴절률 편광 회전기를 어떻게 정확하게 모델링하여, 집적 광학 회로용 편광 제어 장치의 효율적인 설계 및 검증을 가능하게 하는지 알아보세요.

편광 의존 손실(PDL) 측정

이 앱 노트는 8169A 편광 컨트롤러를 사용한 편광 의존 손실(PDL) 측정 프로세스에 대해 설명합니다.

E3846A 극성 확인 기술

키사이트 극성 확인 기술은 키사이트 3070 시리즈 3 시스템을 강화하여 역극성 커패시터를 안전하고 자동으로 감지하는 기능을 제공합니다. 이 혁신적인 측정 기술은 안정적이고 포괄적인 테스트 솔루션을 제공하도록 설계된 새로운 기술을 구현합니다.

광학 부품의 편광 의존 손실 측정

편광 의존 손실 및 삽입 손실은 광섬유 통신 시스템에 사용되는 광학 부품에 중요합니다. 테스트를 위한 다양한 접근 방식을 살펴보십시오!

편파의 효율적이고 정확한 BPM 시뮬레이션

BPM을 사용하여 실리콘 기반 편광 변환기-분할기를 효율적이고 정확하게 시뮬레이션하는 방법. 이 방법은 BPM이 FDTD 수준의 정확도를 달성하면서 계산 시간과 메모리 사용량을 몇 자릿수 줄임을 보여줍니다.

향상된 정확도 및 신뢰성을 위한 극성 확인

이 백서는 SMD J-리드 탄탈륨 커패시터용으로 향상된 극성 확인 기술을 탐구하며, 방향 감지를 위한 보다 정확하고 효율적인 방법을 제공합니다.

디스플레이 백라이트 재활용을 위한 반사형 편광판 설계

반사형 편광판 및 DBEF 기술이 백라이트 재활용을 개선하여 편광 관리 및 시뮬레이션 기반 최적화를 통해 디스플레이 광학 효율을 높이고 에너지 효율적인 평판 디스플레이를 설계하는 방법을 알아보십시오.

극성 커패시터 ICT 테스트 플랫폼 방향 테스트

극성 커패시터가 잘못 장착된 경우 이를 감지하고 가능한 한 빨리 수정하는 것이 왜 중요한지 알아보십시오. 자세히 알아보십시오.

실리콘 나노와이어 편광 회전기

이 RSoft 제품 애플리케이션 노트는 제작 및 작동이 간단한 초소형 수동 편광 회전자를 설명합니다.

파장 의존 편광 측정

조정 가능한 레이저 스캐닝과 동기화된 편광계 로깅 프로그래밍.

PDL 또는 PER 동기 편광 스크램블러를 위한 모든 상태 방법

PDL 또는 PER의 모든 상태 측정을 위한 설명 및 프로그래밍

고속 스윕 편광 의존 손실(PDL) 측정

이 애플리케이션 노트는 편광 의존 손실(PDL) 측정과 관련된 측정 시간을 크게 줄이는 접근 방식을 설명합니다.

선형 편파 공진 루프 센서 (E-Pods)

키사이트 벡터 네트워크 분석기를 사용하는 공진 루프 센서에 대한 MWI 솔루션 브로슈어.