Come trasmettere in streaming i dati dei test in-circuit (ICT) tramite MQTT
Trasferimento dei dati ICT ai sistemi di analisi
Lo streaming dei dati di test provenienti dai sistemi di test in-circuit (ICT) richiede un meccanismo in grado di rilevare gli eventi che indicano il completamento dei test e di trasferire sia i metadati che i risultati delle misurazioni a una piattaforma di analisi. Il sistema genera localmente dati di log grezzi dopo aver eseguito un piano di test su un dispositivo in prova, insieme a metadati quali l’identità della macchina, il nome del progetto e i parametri di sistema. Viene utilizzato un protocollo di messaggistica per segnalare quando i dati sono pronti per essere recuperati e per consentire la comunicazione tra sistemi distribuiti.
L'implementazione utilizza un protocollo di tipo "publish-subscribe", in cui il sistema di test invia messaggi di evento a un broker nell'ambito di argomenti definiti. Una volta che la piattaforma di analisi si è iscritta e ha ricevuto la notifica dell'evento, analizza il contenuto del messaggio e richiama un'interfaccia di programmazione dell'applicazione (API) per recuperare i dati di log grezzi. Questi dati vengono quindi trasferiti al server di analisi per l'elaborazione, consentendo l'aggregazione, la visualizzazione e il monitoraggio dei risultati dei test e dello stato delle apparecchiature.
Streaming di dati ICT tramite MQTT
Vedi lo schema a blocchi del flusso di dati ICT tramite MQTT
Scopri i prodotti della nostra soluzione ICT per lo streaming e l'analisi dei dati
-
![]()
Sistema ICT a 4 moduli E9903G, serie i307x 6
-
![]()
Analisi della produzione PathWave
Scoprire risorse e approfondimenti
Risorse aggiuntive per lo streaming e l'analisi dei dati ICT
Casi d'uso correlati
-
![]()
Per saperne di più
Come caratterizzare i circuiti integrati a bassa potenza
La misurazione delle caratteristiche di corrente/tensione di un circuito integrato a bassa potenza richiede una serie di strumenti di base, tra cui alimentatori multipli, multimetri digitali (DMM), generatori di impulsi e digitalizzatori. Scoprite come caratterizzare i circuiti integrati a bassa potenza in modo efficiente e rapido utilizzando un'unica sorgente/unità di misura (SMU).
Per saperne di più
-
![]()
Per saperne di più
Come analizzare l'integrità del segnale utilizzando la geometria del layout
Per ottenere le massime prestazioni nei circuiti stampati ad alta velocità (PCB) è necessario verificare la conformità dell'integrità del segnale (SI) in tutte le tracce elettriche. Scoprite come utilizzare la geometria del layout per generare metriche di SI per individuare prima i problemi e ridurre i cicli di verifica con gli specialisti di SI.
Per saperne di più
-
![]()
Per saperne di più
Come determinare l'impedenza della traccia controllata DDR5
Per risolvere il problema delle riflessioni del segnale nei progetti DDR5 è necessario progettare correttamente le tracce a impedenza controllata. Scoprite come utilizzare i file ODB++ per generare rapporti di impedenza e diagrammi a occhio per varie velocità di trasmissione dati e come regolare l'impedenza di controllo per soddisfare le specifiche.
Per saperne di più
Mettetevi in contatto con uno dei nostri esperti
Avete bisogno di aiuto per trovare la soluzione giusta per voi?