Come eseguire il test LIV per i dispositivi VCSEL

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Esecuzione del test LIV con uscita di corrente a impulsi stretti

Il collaudo della corrente di luce e della tensione (LIV) per i dispositivi laser a emissione superficiale a cavità verticale (VCSEL) richiede un controllo preciso della corrente di iniezione (I) e della misurazione della potenza di uscita della luce (L). Il processo di test prevede la variazione sistematica della corrente, la misurazione della corrispondente emissione luminosa e la registrazione della tensione (V) applicata. Gli ingegneri addetti ai test possono utilizzare le unità di sorgente/misura (SMU) per fornire un'alimentazione di corrente programmabile per applicare un'ampia gamma di correnti al VCSEL. Hanno anche bisogno di fotorivelatori ad alta velocità per catturare la luce emessa, misurandone con precisione la potenza. Gli ingegneri possono tracciare questi punti dati per creare la curva LIV, che fornisce una comprensione dettagliata delle caratteristiche di prestazione del VCSEL in diverse condizioni operative.

La sfida principale consiste nel condurre test che attenuino l'impatto dell'autoriscaldamento sul diodo e garantiscano risultati di misura accurati. Le variazioni di temperatura influenzano in modo significativo il comportamento dei diodi laser. All'aumentare della temperatura, l'efficienza del laser tende a diminuire. Gli ingegneri addetti ai test necessitano di una capacità di uscita a impulsi più stretti per sopprimere l'effetto di autoriscaldamento e di una frequenza di campionamento ad alta velocità per catturare gli impulsi di corrente/tensione rapidi ed estremamente stretti per convalidare le caratteristiche dinamiche. È inoltre necessario misurare in modo sincrono la corrente del fotorivelatore (PD) durante l'emissione di luce pulsata dal diodo laser (LD). Ciò richiede un controllo preciso della temporizzazione tra LD e PD all'interno del software di misura e della SMU.

Soluzione di prova LIV a impulsi stretti

La caratterizzazione dei dispositivi VCSEL richiede una soluzione in grado di mitigare l'impatto dell'autoriscaldamento sul diodo, garantendo risultati di misura accurati. La soluzione di test LIV a impulsi stretti di Keysight è una soluzione completa che consente agli ingegneri di condurre test LIV approfonditi in diverse condizioni operative, soprattutto a livelli di corrente e tensione bassissimi. La soluzione offre 20 canali SMU in uno spazio compatto di 1U rack. Integra un pulser e un digitalizzatore per eliminare la necessità di strumenti multipli e semplificare notevolmente il processo di test. Il software di misura delle curve IV che lo accompagna consente un'esecuzione rapida e senza programmazione dei test.
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