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Soluzione semplificata per test in-circuit per test di produzione
I sistemi di test paralleli Advanced di Keysight offrono una copertura di test essenziale con un design compatto ed economico, ideale per ambienti di produzione snella. I sistemi di test paralleli advanced integrano caratteristiche chiave come la scansione dei boundary, la programmazione flash e capacità di test senza vettori in una piattaforma semplificata, progettata per un collaudo affidabile ed efficiente di PCB analogici, digitali e a segnali misti. La sua architettura modulare supporta scalabilità e personalizzazione, consentendo di adattare il sistema ai vostri requisiti di produzione. Con strumenti software intuitivi e interfacce di automazione integrate per semplificare lo sviluppo dei test e ridurre il tempo di produzione. Richiedete oggi stesso un preventivo per una delle nostre configurazioni più diffuse. Vi serve aiuto per la scelta? Consultate le risorse sottostanti.
Test digitale e analogico integrato
Esegui misurazioni analogiche e digitali in un unico sistema per ridurre i costi delle apparecchiature e consentire test completi sui segnali misti.
Capacità di test senza vettori
Identifica i difetti di saldatura e posizionamento su PCB densi senza vettori digitali alimentati, semplificando la configurazione dei test e velocizzando lo sviluppo.
Integrazione boundary scan
Testare facilmente interconnessioni digitali e componenti a passo fine come i BGA per migliorare la copertura dei guasti nei progetti PCB ad alta densità e garantire una connettività affidabile.
Design compatto e autonomo
L'ingombro ridotto si integra senza bisogno di controller esterni, rendendolo ideale per i produttori con spazi limitati in fabbrica.
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System width
630 mm to 1200 mm
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Maximum node count
512 to 3456
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Maximum parallel testing
1 to 4
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Fixture actuation
Press down
Configurazioni più popolari
Sistema ICT parallelo automatizzato in linea Flexicore i1000
- Test in-circuit per dispositivi elettronici complessi e ad alta velocità
- Come eseguire il test della scatola dei fusibili automobilistica
- Come integrare il gestore della scheda con i tester in-circuit
Servizi e assistenza
Innova rapidamente grazie a piani di assistenza personalizzati e tempi di risposta e risoluzione prioritari.
Ottieni abbonamenti prevedibili basati su leasing e soluzioni complete per la gestione dell'intero ciclo di vita, in modo da raggiungere più rapidamente i tuoi obiettivi aziendali.
Beneficia di un servizio di alto livello come abbonato KeysightCare per ottenere assistenza tecnica dedicata e molto altro ancora.
Assicurati che il tuo sistema di test funzioni secondo le specifiche e soddisfi gli standard locali e globali.
Effettua misurazioni rapidamente grazie alla formazione interna con istruttore e all'e-learning.
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Domande frequenti
Un sistema di test parallelo consente di testare più dispositivi o assemblaggi di schede contemporaneamente anziché in sequenza. Ciò aumenta la produttività utilizzando risorse di test condivise, riducendo i tempi di inattività e ottimizzando l'utilizzo dei tester. Questo approccio riduce al minimo i colli di bottiglia e migliora l'efficienza senza richiedere stazioni di test aggiuntive nella produzione ad alto volume. Il test parallelo supporta anche configurazioni scalabili, consentendo ai produttori di adeguare la capacità in base alla domanda.
Grazie alla capacità di isolare ed eseguire piani di test indipendenti per ciascun sito, tali sistemi offrono flessibilità nella gestione di prodotti o requisiti di test diversi sulla stessa piattaforma. Gli ingegneri possono eseguire test funzionali, in-circuit o parametrici simultanei, accelerando i cicli di produzione e mantenendo al contempo la copertura e l'accuratezza dei test.
L'architettura di test parallela è particolarmente utile quando si testano pannelli multi-scheda o assemblaggi con architetture simili. È ideale per l'elettronica di consumo, le centraline elettroniche automobilistiche e i prodotti di comunicazione, dove è fondamentale eseguire test rapidi, ripetibili e affidabili.
Mantenere l'integrità dei test in un ambiente parallelo è essenziale per garantire risultati accurati e affidabili. A tal fine, un sistema di test ben progettato impiega l'isolamento elettrico e canali di misurazione indipendenti per ciascuna unità sottoposta a test (UUT). Ogni sito opera in modo autonomo con risorse dedicate per la commutazione dei segnali, l'alimentazione e la misurazione, al fine di prevenire diafonia o interferenze. La gestione a livello software garantisce una corretta sequenza dei test, la sincronizzazione e la registrazione dei dati senza sovrapposizioni o errori. La diagnostica integrata e il monitoraggio in tempo reale valutano continuamente lo stato di salute di ciascun canale, identificando le anomalie che potrebbero influenzare i risultati.
Inoltre, la calibrazione specifica per sito garantisce la precisione delle misurazioni su tutti gli UUT, indipendentemente dal loro carico o dalle condizioni del segnale. I sistemi paralleli supportano anche meccanismi di sicurezza e gestione degli errori che isolano le unità difettose senza interrompere i test in corso su altri canali. Questa architettura garantisce che i vantaggi in termini di velocità ed efficienza dei test paralleli non compromettano la qualità, la ripetibilità o la tracciabilità dei risultati dei test.
Un sistema di test parallelo supporta varie metodologie di test, rendendolo adatto alla validazione completa di assemblaggi elettronici. I test comunemente supportati includono test in-circuit, test funzionali, misurazioni parametriche, controlli di continuità e verifica dei segnali analogici/digitali. Il sistema può anche eseguire test boundary scan e autotest all'accensione per i componenti integrati. Ogni canale può essere configurato in modo indipendente, consentendo l'esecuzione simultanea di sequenze di test distinte per diversi progetti o revisioni di schede.
Inoltre, il sistema è in grado di gestire segnali digitali ad alta velocità, circuiti a segnale misto e interfacce di comunicazione quali USB, CAN o Ethernet. Advanced di commutazione Advanced e integrazione degli strumenti consentono di verificare il consumo energetico, la frequenza di clock e i parametri di temporizzazione. La flessibilità della piattaforma permette l'integrazione con strumenti esterni, quali oscilloscopi o analizzatori di spettro, per ampliare le capacità di test.
Questo sistema è ideale per i settori che richiedono test rigorosi e ripetibili, tra cui quello automobilistico, delle telecomunicazioni, dell'elettronica di consumo e delle applicazioni di controllo industriale.
L'implementazione di una strategia di test parallela introduce alcune complessità che devono essere gestite con attenzione. Una delle sfide principali è garantire l'isolamento del segnale ed evitare interferenze tra più siti di test attivi. Ciò richiede un'attenta progettazione dell'hardware, schermature e pratiche di messa a terra. Un'altra preoccupazione è la gestione dell'aumento del flusso di dati provenienti da più punti di test, che può sovraccaricare i sistemi di elaborazione dati tradizionali se non progettati correttamente.
Per risolvere questo problema, spesso vengono utilizzati software efficienti per la sequenzializzazione dei test e risorse di calcolo ad alte prestazioni. Lo sviluppo dei test diventa più complesso, poiché gli ingegneri devono creare script e logiche che supportino l'esecuzione simultanea, il branching condizionale e piani di test specifici per ogni sito. Anche la progettazione dei dispositivi di fissaggio è fondamentale: tolleranze inadeguate possono causare errori di contatto o risultati falsati. Il debug degli errori in un ambiente multi-sito può essere più difficile, poiché i problemi possono essere isolati su canali specifici. Una convalida approfondita, una diagnostica robusta e strumenti di monitoraggio in tempo reale sono essenziali per implementare e mantenere con successo un'operazione di test parallelo affidabile.