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Soluzioni di test per la tecnologia DDR
Le tecnologie ad alta velocità come la doppia velocità di trasmissione dei dati (DDR) e la doppia velocità di trasmissione dei dati a basso consumo (LPDDR) comportano sfide significative in termini di progettazione e test. La DDR è una tecnologia di chip di memoria che negli ultimi 10 anni è passata attraverso diverse generazioni. Ogni generazione DDR migliora in termini di velocità, efficienza e capacità di memoria. Tuttavia, man mano che lo standard consente di trasferire più dati a velocità più elevate, i margini diminuiscono. Pertanto, il lavoro di progettazione e di test è diventato più impegnativo. I tester del tasso di errore di bit (BERT), gli oscilloscopi, le sonde e il software di conformità associato alleggeriscono alcune delle sfide quando si lavora sul livello fisico. A seconda della fase di progettazione in cui ci si trova (caratterizzazione del dispositivo, simulazione, prototipo, firmware, software), ecco tre tipi di test essenziali per convalidare le DDR attuali e di prossima generazione: - conformità e caratterizzazione del ricevitore DDR5 - test del livello fisico e di conformità - debug funzionale, analisi e conformità del protocollo