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Solutions de test de la technologie DDR
Les technologies à grande vitesse telles que le double débit de données (DDR) et le double débit de données à faible consommation d'énergie (LPDDR) posent des défis importants en matière de conception et de test. La technologie DDR est une technologie de puce mémoire qui a connu plusieurs générations au cours des dix dernières années. Chaque génération DDR améliore la vitesse, l'efficacité et la capacité de la mémoire. Mais au fur et à mesure que la norme permet de transférer plus de données à des taux plus élevés, les marges diminuent. Par conséquent, le travail de conception et les tests sont devenus plus difficiles. Les testeurs de taux d'erreur sur les bits (BERT), les oscilloscopes, les sondes et les logiciels de conformité associés permettent d'atténuer certaines des difficultés rencontrées lors des travaux sur la couche physique. En fonction de l'étape de conception à laquelle vous vous situez (caractérisation du dispositif, simulation, prototype, micrologiciel, logiciel), voici trois types de tests essentiels pour valider la DDR actuelle et de la prochaine génération:- conformité et caractérisation du récepteur DDR5 - test de la couche physique et de la conformité - débogage fonctionnel, analyse et conformité du protocole.