Découvrez les nouveaux chiffres de mérite, tels que la magnitude du vecteur d'erreur (EVM), qui sont désormais requis pour les applications RF, micro-ondes et ondes millimétriques.
Apprendre :
Pourquoi les techniques de caractérisation traditionnelles telles que l'IP3 ne sont plus suffisantes ?
Comment utiliser un signal de test compact pour obtenir une vérification précoce de la conception d'un circuit ?
Comment les VTB peuvent mesurer l'EVM et accélérer la vérification du système de bout en bout
Système Advanced (ADS) de Keysight avec le pack W3608B