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Los sistemas de pruebas en circuito de Keysight proporcionan soluciones escalables y de alto rendimiento para probar placas de circuito impreso complejas y densamente pobladas en la fabricación de gran volumen. Con configuraciones de pines flexibles, compatibilidad con escaneo de límites, capacidades de prueba sin vectores y mediciones analógicas programables, estos sistemas garantizan una detección rápida y precisa de fallos de montaje, como defectos de soldadura, componentes mal orientados y valores incorrectos. Los diagnósticos integrados, las herramientas intuitivas de desarrollo de pruebas y la integración preparada para la automatización agilizan los flujos de trabajo de producción, al tiempo que reducen las falsas alarmas y mejoran el rendimiento de la primera pasada. Solicite hoy mismo un presupuesto para una de nuestras populares configuraciones. ¿Necesita ayuda para seleccionar? Consulte los recursos que se indican a continuación.
Detecta una amplia gama de defectos estructurales, como soldaduras abiertas, cortocircuitos y colocación incorrecta de componentes, lo que garantiza una mejor calidad del producto y una reducción de los costes de reelaboración.
Admite placas de alta densidad con configuraciones flexibles de número de pines, lo que permite adaptarse a diversos tamaños y complejidades de placas sin cambiar el hardware.
Utiliza sensores capacitivos para detectar la presencia y orientación del dispositivo sin necesidad de encender la unidad sometida a prueba, lo que resulta ideal para probar conjuntos digitales complejos de forma segura.
Realiza diagnósticos estructurales a través de puertos de acceso de prueba estándar (TAP), lo que elimina la necesidad de realizar sondeos intrusivos o utilizar instrumentos de hardware adicionales.
System width
800 mm to 1800 mm
Maximum node count
0 to 5760
Maximum parallel testing
2 to 112
Fixture actuation
Vacuum, Press down
E9903G
El sistema de pruebas en circuito (ICT) de 4 módulos E9903G admite hasta 5184 nodos, la serie 6 ejecuta pruebas digitales hasta 4 veces más rápido, mientras que el espacio físico total es un 38 % menor.
La familia de sistemas de prueba en circuito (ICT) i3070 Series 6 de Keysight se basa en una tecnología probada y mejora la eficiencia de las pruebas con software, hardware y programabilidad contrastados. El probador ICT i3070 Series 6 es compatible con una amplia gama de tamaños de placas de circuito impreso (PCBA) para aplicaciones que incluyen IoT y 5G, así como automoción y energía. El i3070 presenta un diseño único que ofrece la ruta de señal más corta entre los circuitos de medición y los dispositivos sometidos a prueba para minimizar los efectos no deseados de la capacitancia parásita, mejorar la inmunidad a la diafonía y eliminar los efectos de acoplamiento de señales parásitas, lo que proporciona mediciones consistentes y repetibles. La serie 6 es totalmente compatible con los sistemas anteriores y realiza mediciones altamente repetibles.
La serie i3070 6 ICT ofrece a los clientes:
E9902G
El E9902G admite 2592 nodos, la serie 6 ejecuta Silicon Nails y Boundary-Scan hasta 4 veces más rápido, mientras que el espacio físico total es un 16 % más pequeño que antes.
La familia de sistemas de prueba en circuito (ICT) i3070 Series 6 de Keysight se basa en una tecnología probada y mejora la eficiencia de las pruebas con software, hardware y programabilidad contrastados. El probador ICT i3070 Series 6 es compatible con una amplia gama de tamaños de placas de circuito impreso (PCBA) para aplicaciones que incluyen IoT y 5G, así como automoción y energía. El i3070 presenta un diseño único que ofrece la ruta de señal más corta entre los circuitos de medición y los dispositivos sometidos a prueba para minimizar los efectos no deseados de la capacitancia parásita, mejorar la inmunidad a la diafonía y eliminar los efectos de acoplamiento de señales parásitas, lo que proporciona mediciones consistentes y repetibles. La serie 6 es totalmente compatible con los sistemas anteriores y realiza mediciones altamente repetibles.
La serie i3070 6 ICT ofrece a los clientes:
E9988EL
El módulo E9988EL 2 ICT en línea, serie i3070 5i, ofrece hasta 2592 nodos de prueba, con un tamaño más reducido. Fabricado según especificaciones estrictas para compatibilidad con SMEMA.
El i3070 Series 5i Inline ICT conserva la popular tecnología patentada de fijación de cables cortos de Keysight utilizada en nuestros robustos sistemas Keysight 3070 e i3070.
La tecnología de fijación con cables cortos elimina los problemas que suelen surgir con los cables largos, como el ruido y el deterioro de la estabilidad de las pruebas. Esto se traduce en pruebas transportables, repetibles y estables en su i3070 Series 5i, incluso si necesita realizar pruebas al otro lado del mundo o en diferentes plantas de fabricación.
La serie i3070 5i Inline ICT ofrece facilidad de uso al operador de línea y al ingeniero de pruebas. La caja de tarjetas está montada sobre guías de alta resistencia y se puede extraer fácilmente para facilitar la sustitución de las tarjetas modulares.
Una unidad de cajones diseñada ergonómicamente permite cargar y descargar fácilmente los accesorios del sistema de prueba. Estas características ahorran tiempo y esfuerzo, especialmente en líneas que trabajan con una mayor variedad de productos.
Hay disponible una serie de herramientas, como la identificación inteligente de accesorios, la detección de la orientación de las placas y los controles de revisión de planes de prueba, que le ayudarán a desarrollar soluciones de automatización para probar los complejos conjuntos de placas de circuito impreso actuales.
La serie i3070 5i es totalmente compatible con sus programas de prueba 3070 e i3070.
Para obtener más información sobre los sistemas TIC, visite Sistema TIC - i3070.
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Asegúrese de que su sistema de pruebas funcione según las especificaciones y cumpla con las normas locales y globales.
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Un sistema de prueba en circuito (ICT) es una herramienta de diagnóstico que se utiliza para verificar la integridad y el montaje correcto de los componentes individuales de una placa de circuito impreso (PCB) después del proceso de fabricación. A diferencia de las pruebas funcionales, que validan el comportamiento general de un dispositivo completo, el ICT se centra en comprobar cada componente de forma independiente, como resistencias, condensadores, diodos, transistores y circuitos integrados, para verificar que su valor, orientación, ubicación y rendimiento eléctrico sean correctos.
Los sistemas ICT utilizan un dispositivo tipo «lecho de clavos» para establecer contacto con puntos de prueba específicos de la placa de circuito impreso. Esto permite al sistema medir el voltaje, la corriente, la resistencia y otros parámetros eléctricos de cada componente. La principal ventaja de la ICT es la detección temprana de fallos en la línea de producción, lo que reduce los costes de reelaboración y reparación. Puede detectar errores comunes de montaje, como componentes faltantes, valores incorrectos, puentes de soldadura y conexiones abiertas. La ICT es ideal para la fabricación de grandes volúmenes debido a su rápido tiempo de prueba y su alta cobertura de fallos, especialmente para placas con alta densidad de componentes.
Un sistema de prueba en circuito detecta defectos de fabricación aplicando señales eléctricas a nodos de prueba específicos en una placa de circuito impreso (PCB) y analizando la respuesta. El sistema utiliza una red de sondas o pines de prueba para acceder a estos nodos, que se conectan a los cables de los componentes o a los puntos de prueba designados. A continuación, realiza mediciones, como resistencia, capacitancia, caídas de tensión de diodos o ganancia de transistores, para determinar si cada componente está instalado correctamente y dentro de los límites de tolerancia.
Los cortocircuitos y las aperturas se detectan mediante pruebas de continuidad que aplican un voltaje y miden las corrientes resultantes entre redes que deberían o no deberían estar conectadas. Los componentes mal orientados o mal colocados se detectan comparando el comportamiento medido con valores conocidos correctos. Por ejemplo, un diodo invertido fallará la prueba de voltaje directo. Algunos sistemas también admiten pruebas de encendido de componentes digitales o acceso limitado a escaneo de límites para dispositivos con compatibilidad con Joint Test Action Group (JTAG).
El objetivo es detectar defectos en una fase temprana del proceso de producción, lo que permite corregirlos rápidamente y reducir los costes y el tiempo asociados al análisis y la reparación de fallos posteriores.
Las pruebas en circuito ofrecen múltiples ventajas que mejoran el control de calidad y la eficiencia de la producción. En primer lugar, proporcionan una alta cobertura de fallos, ya que suelen detectar más del 90 % de los defectos de fabricación, incluidos los componentes mal colocados, los fallos de soldadura, los cortocircuitos y los circuitos abiertos. Este nivel de detalle permite a los fabricantes aislar y resolver los problemas rápidamente, lo que reduce los costes de reparación y mejora el rendimiento.
En segundo lugar, los sistemas TIC ofrecen ciclos de prueba rápidos, ya que suelen probar una placa completa en menos de un minuto. Esta velocidad es ideal para líneas de producción de gran volumen, donde el rendimiento es esencial. Los resultados de las pruebas son consistentes y objetivos, lo que reduce los errores humanos durante la inspección manual.
Otra ventaja significativa es la recopilación de datos y la trazabilidad. Los sistemas TIC pueden registrar los resultados de las pruebas de cada placa, lo que ayuda a los fabricantes a identificar tendencias, detectar desviaciones en los procesos y aplicar medidas correctivas basadas en métricas en tiempo real. También permiten la detección temprana de fallos, lo que evita que las unidades defectuosas lleguen a la prueba final o al cliente, reduciendo así las reclamaciones de garantía y las devoluciones.
Las pruebas en circuito son especialmente beneficiosas para los conjuntos de placas de circuito impreso (PCBA) de volumen medio a alto con un número de componentes moderado a alto. Son muy adecuadas para placas que incluyen una combinación de componentes analógicos y digitales, dispositivos pasivos y circuitos integrados. Los entornos de fabricación con tecnología de montaje superficial (SMT) automatizada y procesos de orificios pasantes también se benefician, ya que los sistemas ICT pueden verificar ambos componentes.
Los ensamblajes que se utilizan en automoción, electrónica de consumo, dispositivos médicos, controladores industriales y equipos de telecomunicaciones suelen someterse a ICT. Estas aplicaciones requieren una alta calidad y fiabilidad, por lo que es fundamental detectar a tiempo los problemas de ensamblaje. Las PCB con un enrutamiento complejo y un embalaje de alta densidad se benefician aún más, ya que la inspección visual resulta poco práctica.
Las pruebas en circuito son menos eficaces para placas de bajo volumen o muy complejas con acceso limitado para las pruebas. En esos casos, pueden ser más adecuadas las pruebas funcionales, las pruebas de escaneo de límites o las pruebas con sonda móvil. Sin embargo, las pruebas ICT siguen siendo fundamentales para garantizar la calidad del montaje en la fabricación de productos electrónicos convencionales.
La creación de un programa de prueba para un sistema de prueba en circuito implica varios pasos clave. En primer lugar, los ingenieros de pruebas importan los datos de diseño, como la lista de redes, la lista de materiales (BOM) y la disposición de los componentes, a un entorno de software que admite la generación automatizada de programas. Este proceso asigna cada componente a tipos de prueba específicos (resistencia, condensador, diodo, IC, etc.) y asigna los parámetros de prueba correspondientes.
Una vez generado el plan de pruebas inicial, el programa se valida utilizando una placa de calidad garantizada (a menudo denominada «placa dorada»). El sistema compara las mediciones reales con los valores esperados para ajustar las tolerancias y eliminar los fallos falsos. Los ingenieros también pueden utilizar herramientas de depuración para realizar pruebas individuales, modificar límites y suprimir pruebas redundantes o no críticas que puedan ralentizar el proceso.
Tras la validación, el programa se integra en la secuencia de pruebas de producción. Con el tiempo, la información obtenida de la producción y el análisis de fallos permite perfeccionar aún más el programa de pruebas. Las actualizaciones son fáciles de implementar y el análisis automatizado de la cobertura de las pruebas ayuda a garantizar una mejora continua de la calidad.