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Detección fiable de defectos en circuito para la fabricación de placas de circuito impreso (PCB)

Los sistemas de pruebas en circuito de Keysight proporcionan soluciones escalables y de alto rendimiento para probar placas de circuito impreso complejas y densamente pobladas en la fabricación de gran volumen. Con configuraciones de pines flexibles, compatibilidad con escaneo de límites, capacidades de prueba sin vectores y mediciones analógicas programables, estos sistemas garantizan una detección rápida y precisa de fallos de montaje, como defectos de soldadura, componentes mal orientados y valores incorrectos. Los diagnósticos integrados, las herramientas intuitivas de desarrollo de pruebas y la integración preparada para la automatización agilizan los flujos de trabajo de producción, al tiempo que reducen las falsas alarmas y mejoran el rendimiento de la primera pasada. Solicite hoy mismo un presupuesto para una de nuestras populares configuraciones. ¿Necesita ayuda para seleccionar? Consulte los recursos que se indican a continuación.

Alta cobertura de fallos

Detecta una amplia gama de defectos estructurales, como soldaduras abiertas, cortocircuitos y colocación incorrecta de componentes, lo que garantiza una mejor calidad del producto y una reducción de los costes de reelaboración.

Diseño de pin de prueba escalable

Admite placas de alta densidad con configuraciones flexibles de número de pines, lo que permite adaptarse a diversos tamaños y complejidades de placas sin cambiar el hardware.

Capacidad de prueba sin vectores

Utiliza sensores capacitivos para detectar la presencia y orientación del dispositivo sin necesidad de encender la unidad sometida a prueba, lo que resulta ideal para probar conjuntos digitales complejos de forma segura.

Escaneo de límites integrado 

Realiza diagnósticos estructurales a través de puertos de acceso de prueba estándar (TAP), lo que elimina la necesidad de realizar sondeos intrusivos o utilizar instrumentos de hardware adicionales. 

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  • System width

    800 mm to 1800 mm

  • Maximum node count

    0 to 5760

  • Maximum parallel testing

    2 to 112

  • Fixture actuation

    Vacuum, Press down

Preguntas más frecuentes