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IDIOMA
Sistemas de prueba en circuito Detección precisa de fallos para placas de alta densidad
Modelo: E9988GL
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- Visión general
- Opciones
- Accesorios
- Software
- Ayuda
Sistema ICT en línea de alta densidad; Serie 7i
El sistema de pruebas en circuito (ICT) en línea de alta densidad E9988GL Keysight i3070 Series 7i incorpora tecnologías ICT a su línea de fabricación automatizada.
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Fixture actuation
Press down
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Maximum node count
5760
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System width
800 mm
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Maximum parallel testing
2
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Descubra qué incluye y explore las opciones de actualización disponibles de Keysight.
Destacados
Presentamos el sistema de pruebas en línea Keysight i3070 Serie 7i: su camino hacia una cobertura de pruebas superior y un rendimiento mejorado.
Con las últimas tarjetas de pines de cuatro densidades, la serie 7i puede alojar hasta 5760 nodos de prueba, manteniendo un tamaño reducido de 800 mm de ancho. Esta mayor capacidad proporciona más recursos para requisitos de prueba complejos y permite procesar paneles más grandes, al tiempo que se ahorra tiempo en la manipulación y transferencia de placas.
Quédese tranquilo sabiendo que su inversión está segura, ya que la serie 7i garantiza una compatibilidad total con los programas y accesorios de prueba actuales E9988E y E9988EL.
- Nodos de prueba dobles: admite hasta el doble de nodos de prueba sin dejar de ser compacto.
- Integra pruebas de supercondensadores: Prueba sin esfuerzo supercondensadores de hasta 100 faradios (F) mediante una solución de integración disponible.
- Permite mediciones de baja intensidad: realiza mediciones de tan solo 100 nanoamperios (nA), lo que agiliza el tiempo de desarrollo.
- Acelera la prueba de cortos: ejecuta el algoritmo mejorado de la prueba de cortos un 50 % más rápido en comparación con los métodos tradicionales.
- Mejora la cobertura: mejora la cobertura mediante la generación automática de pruebas de clústeres.
- Facilita la expansión: ofrece un puerto funcional integrado para ampliar las capacidades de prueba.
- Supera las limitaciones de acceso: integra el analizador de escaneo de límites x1149 para superar las restricciones de acceso a las pruebas.
Para obtener más información sobre los sistemas TIC de Keysight, visite www.keysight.com/find/ict.
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